[發明專利]自適應光學聚焦干涉補償方法與系統

有效

• 申請號: 201710322144.2
• 申請日: 2017-05-09
• 公開（公告）號: CN107121771B
• 公開（公告）日: 2023-01-03
• 發明（設計）人: 龔薇;斯科;胡樂佳
• 申請（專利權）人: 浙江大學
• 主分類號: G02B21/00
• 分類號: G02B21/00;G02B26/06
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 林超

1.一種自適應光學聚焦干涉補償方法，其特征在于包括以下步驟：

1）物鏡的焦平面處不放置實驗樣品，用無加載分區的數字微鏡器件（5）進行光束聚焦，在物鏡的焦平面處得到理想聚焦光斑，記錄理想聚焦光斑的聚焦中心位置O_f；

2）將實驗樣品置于物鏡的焦平面處，用無加載分區的數字微鏡器件（5）進行光強探測，記錄獲得聚焦中心位置O_f的光強值，作為光強閾值I_th；

3）將數字微鏡器件（5）的反射面分為多塊區域，以每一區域依次作為目標區域，對目標區域的反射光束進行相位補償，遍歷各個區域用加載分區的數字微鏡器件（5）進行光強探測，獲得各個區域對應記錄到的聚焦中心位置O_f處的一系列光強值；

4）將每一光強值與光強閾值I_th進行比較，并采用以下方式處理得到判斷結果：

若光強值小于光強閾值I_th，則該光強值對應的區域為不需相位補償區域；

若光強值大于或等于光強閾值I_th，則該光強值對應的區域為需相位補償區域；

5）將根據判斷結果補償分區并加載到數字微鏡器件上進行光強探測，在實驗樣品內形成干涉補償后的最終光學聚焦補償光斑，在聚焦中心位置為O_f處激發出更強的熒光。

2.根據權利要求1所述的一種自適應光學聚焦干涉補償方法，其特征在于：

所述步驟1）中的光束聚焦具體是：激光器發射出光束，經過準直擴束后，在數字微鏡器件（5）上反射，然后經過物鏡聚焦。

3.根據權利要求1所述的一種自適應光學聚焦干涉補償方法，其特征在于：所述步驟3）中所指的相位補償具體是指，在光束的原相位上附加一個數值為π的相位差。

4.根據權利要求1所述的一種自適應光學聚焦干涉補償方法，其特征在于：

所述步驟2）、3）和5）中的光強探測具體是：激光器發射出光束，經過準直擴束后，在數字微鏡器件上反射，然后經過物鏡聚焦到樣品上，樣品帶有熒光材料，在樣品內產生畸變散射光斑并激發出熒光，激發出的熒光再經透鏡聚焦后由光電倍增管（22）和振鏡配合進行掃描探測獲得散射光斑激發出的熒光圖像，記錄聚焦中心位置O_f的光強值。

5.根據權利要求1所述的一種自適應光學聚焦干涉補償方法，其特征在于：

所述步驟3）用加載分區的數字微鏡器件（5）進行光強探測具體是指光強探測時，數字微鏡器件上的目標區域將自身接收入射光束后產生的反射光束調整反射角度，使反射光束到旁側光路進行相位補償后再回到未調整反射角度前的反射光路中，同時除目標區域以外的其他區域保持反射光束的反射角度與所述步驟2）光強探測時反射光束的反射角度相同。

6.根據權利要求1所述的一種自適應光學聚焦干涉補償方法，其特征在于：

所述步驟5）根據判斷結果調整分區具體是指：經過數字微鏡器件時，判斷后需相位補償區域將自身接收入射光束后產生的反射光束調整反射角度，使反射光束到旁側光路進行相位補償后再回到未調整反射角度前的反射光路中，同時判斷后不需相位補償區域保持反射光束的反射角度與所述步驟2）光強探測時反射光束的反射角度相同。

7.根據權利要求1所述的一種自適應光學聚焦干涉補償方法，其特征在于：

所述實驗樣品為活體生物組織、離體生物組織或含小球的瓊脂塊。