[發明專利]一種多測量通道機內自檢電路設計

在審

• 申請號: 201710320350.X
• 申請日: 2017-04-28
• 公開（公告）號: CN107315152A
• 公開（公告）日: 2017-11-03
• 發明（設計）人: 王勇;粘朋雷;蕭耀友;閆喆
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍91550部隊
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種多測量通道機內自檢電路設計，在兩個前級測量點JC1、JC2和任意兩個被檢測點Aj、Bj(j＝1，2，3，…，N為整數)之間，串聯2個一刀多檔(或稱一刀多擲)波段開關Ka、Kb，其特征在于：(1)Ka-Mo、Ka-Mp分別和JC1、JC2相連，形成波段開關Ka前的測量通道(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)；(2)Kb-Mo、Kb-Mp分別和Ka-o-v、Ka-p-v相連，形成波段開關Ka、Kb間的測量通道(Ka-o-v至Kb-Mo)和(Ka-p-v至Kb-Mp)；(3)Kb-o-i、Kb-p-i分別和Aj、Bj相連，形成波段開關Kb后的測量通道(Kb-o-i至Aj)和(Kb-p-i至Bj)；(4)在波段開關Ka的第v檔位、波段開關Kb的第i檔位接通的情況下，兩個前級測量點JC1、JC2和任意兩個被檢測點Aj、Bj連通在一起，形成測量通道(JC1-Aij)和(JC2-Bij)；(5)Ka-o-u和Ka-p-u相連，形成檔位間短路連接，在波段開關Ka的第u檔位接通的情況下，從JC1、JC2端可檢查(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)這2段測量通道的連通狀態(通路正常、斷路、電路阻抗異常等，下同)；(6)Kb-o-f和Kb-p-f相連，形成檔位間短路連接，在波段開關Ka的第v檔位、波段開關Kb的第f檔位接通的情況下，從JC1、JC2端可檢查(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)各段測量通道的連通狀態。

2.根據權利要求1所述的一種多測量通道機內自檢電路設計，其特征在于：在Ka-o-w和Ka-p-w之間連接有電阻Ry1，可用于校驗儀表測量精度；在波段開關Ka的第w檔位接通的情況下，從JC1、JC2端可校驗儀表測量精度，同時也可檢查(JC1至Ka-Mo)和(JC2至Ka-Mp)這2段測量通道的連通狀態。

3.根據權利要求1所述的一種多測量通道機內自檢電路設計，其特征在于：在Kb-o-h和Kb-p-h之間連接有電阻Ry2，可用于校驗儀表測量精度；在波段開關Ka的第v檔位、波段開關Kb的第h檔位接通的情況下，從JC1、JC2端可校驗儀表測量精度，同時也可檢查(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)各段測量通道的連通狀態。

4.根據權利要求1所述的一種多測量通道機內自檢電路設計，其特征在于：另包括連接器(或適配器)SP(x)、SP(y)、SP(z)、SP(m)串聯在測量通道(JC1至Ka-Mo)、(JC2至Ka-Mp)、(Ka-o-v至Kb-Mo)、(Ka-p-v至Kb-Mp)中。