[發(fā)明專利]電容式感測裝置及對應的短路測試方法

在審

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• 申請日: 2017-05-08
• 公開（公告）號: CN108872905A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發(fā)明（設計）人: 巫松翰;林煒績;張楷智;梁健恒
• 申請（專利權）人: 原相科技股份有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00;G01R31/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

1.一種電容式感測裝置之短路測試方法，該電容式感測裝置具有復數條感測線及復數條驅動線，該短路測試方法包含：

于一短路測試模式中，將該些感測線及該些驅動線中至少一第一線路耦接至一參考準位；

利用一特定感測線所對應之一感測電路讀取一測試結果訊號；以及

比對該測試結果訊號與一參考訊號，以判斷該些感測線及該些驅動線中是否有發(fā)生短路。

2.如申請專利范圍第1項所述之短路測試方法，其中將該些感測線及該些驅動線中該至少一第一線路耦接至該參考準位的步驟包含：

于該短路測試模式中，將該些感測線中除了該特定感測線之外至少一其他感測線耦接至該參考準位；以及

判斷該些感測線及該些驅動線中是否有發(fā)生短路的步驟包含：

比對該測試結果訊號與該參考訊號，以判斷該特定感測線是否有短路連接至該至少一其他感測線。

3.如申請專利范圍第1項所述之短路測試方法，其中將該些感測線及該些驅動線中該至少一第一線路耦接至該參考準位的步驟包含：

于該短路測試模式中，將該些驅動線中除了一待測驅動線之外至少一其他驅動線耦接至該參考準位，該待測驅動線通過一開關耦接至該特定感測線；以及

判斷該些感測線及該些驅動線中是否有發(fā)生短路的步驟包含：

比對該測試結果訊號與該參考訊號，以判斷該待測驅動線是否有短路連接至該至少一其他驅動線。

4.如申請專利范圍第1項所述之短路測試方法，其中將該些感測線及該些驅動線中該至少一第一線路耦接至該參考準位的步驟包含：

于該短路測試模式中，將一待測驅動線耦接至該參考準位；以及

判斷該些感測線及該些驅動線中是否有發(fā)生短路的步驟包含：

比對該測試結果訊號與該參考訊號，以判斷該待測驅動線是否有短路連接至該待測感測線。

5.如申請專利范圍第1項所述之短路測試方法，其中該測試結果訊號具有一直流值，而該參考訊號為一參考直流值，判斷該些感測線及該些驅動線中是否有發(fā)生短路的步驟包含：

當偵測到該測試結果訊號之該直流值不同于該參考直流值，判定該些感測線及該些驅動線中已發(fā)生短路。

6.如申請專利范圍第1項所述之短路測試方法，其中該測試結果訊號為一交流訊號，而該參考訊號為一參考交流訊號，判斷該些感測線及該些驅動線中是否有發(fā)生短路的步驟包含：

當偵測到該測試結果訊號之一峰對峰振幅(peak-to-peak amplitude)不同于該參考交流訊號之一峰對峰振幅，判定該些感測線及該些驅動線中已發(fā)生短路。

7.一種電容式感測裝置，包含：

復數條感測線；

復數條驅動線；以及

至少一第一開關，選擇性連接至該些感測線及該些驅動線中至少一第一線路；

其中于一短路測試模式中，該至少一第一開關系將該至少一第一線路耦接至一參考準位，令一特定感測線所對應之一感測電路讀取出一測試結果訊號，使得通過比對該測試結果訊號與一參考訊號，進行短路測試以判斷該些感測線及該些驅動線中是否有發(fā)生短路。

8.如申請專利范圍第7項所述之電容式感測裝置，其中：

于該短路測試模式中，該至少一第一開關系將該些感測線中除了該特定感測線之外至少一其他感測線耦接至該參考準位，使得通過比對該測試結果訊號與該參考訊號，進行短路測試以判斷該特定感測線是否有短路連接至該至少一其他感測線。

9.如申請專利范圍第7項所述之電容式感測裝置，另包含：

至少一第二開關；

其中于該短路測試模式中，該至少一第一開關系將該些驅動線中除了一待測驅動線之外至少一其他驅動線耦接至該參考準位，該待測驅動線通過該至少一第二開關耦接至該特定感測線，使得通過比對該測試結果訊號與該參考訊號，以判斷該待測驅動線是否有短路連接至該至少一其他驅動線。