[發明專利]測序反應裝置

在審

• 申請號: 201710317997.7
• 申請日: 2017-05-08
• 公開（公告）號: CN108865647A
• 公開（公告）日: 2018-11-23
• 發明（設計）人: 盛司潼;劉詠;董冰
• 申請（專利權）人: 廣州康昕瑞基因健康科技有限公司
• 主分類號: C12M1/00
• 分類號: C12M1/00;C12M1/34
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供了一種測序反應裝置，涉及基因測序技術領域；包括反應小室、小室安裝板、轉動架以及溫度測量器；所述的反應小室放置在小室安裝板上，轉動架轉動安裝在反應小室的上方；所述的溫度測量器包括支撐座、伸縮桿、彈簧以及測溫頭，支撐座固定在小室安裝板上或者固定在轉動架上；所述的支撐座上設置有一貫穿孔，伸縮桿底部具有一凸出部，所述的伸縮桿插入支撐座的貫穿孔中；所述的彈簧套在伸縮桿上，且彈簧的一端頂在所述的支撐座上，彈簧的另一端頂在伸縮桿的凸出部上；所述的測溫頭固定在凸出部的底面上，且凸出部的底面用于貼在所述的反應小室上；本發明的有益效果是：簡化了反應小室的安裝步驟，提高了溫度測量的準確性。

技術領域

本發明涉及基因測序技術領域，更具體的說，本發明涉及一種測序反應裝置。

背景技術

基因測序技術是通過基因測序儀來檢測核酸，通過數據處理得到核酸序列。目前的基因測序儀，通過將待測DNA片段樣片設置在基因測序儀的反應芯片中進行測序反應，測序時反應試劑通過反應流道與待測樣片發生測序反應。測序反應結束后通過圖像采集裝置進行圖像采集，再通過后期處理后獲得基因序列。

在測序反應發生時，需要通過溫度檢測裝置對反應芯片的溫度進行檢測，現有技術中的一種溫度檢測裝置，包括彈片和測溫探頭，測溫探頭安裝在彈片頂端，通過彈片將測溫探頭壓在反應芯片上，對反應芯片進行溫度的測量。這種溫度檢測裝置，在反應芯片安裝后，需要手動調節彈片的位置，使得反應芯片的安裝非常繁瑣；同時，會造成彈片與不同的反應芯片接觸的區域不同，造成溫度測量不準確。

因此需要一種新的測序反應裝置，便于反應芯片的安裝，并能夠對反應芯片的溫度進行精準的測量。

發明內容

本發明的目的在于提供一種測序反應裝置，旨在解決現有技術中反應芯片的安裝繁瑣，反應芯片溫度測量不準確的問題。

為了實現發明目的，一種測序反應裝置，其改進之處在于：包括反應小室、小室安裝板、轉動架以及溫度測量器；所述的反應小室放置在小室安裝板上，所述的轉動架轉動安裝在反應小室的上方；

所述的溫度測量器包括支撐座、伸縮桿、彈簧以及測溫頭，所述的支撐座固定在小室安裝板上或者固定在轉動架上；

所述的支撐座上設置有一貫穿孔，所述的伸縮桿底部具有一凸出部，所述的伸縮桿插入支撐座的貫穿孔中；所述的彈簧套在伸縮桿上，且彈簧的一端頂在所述的支撐座上，彈簧的另一端頂在伸縮桿的凸出部上；所述的測溫頭固定在凸出部的底面上，且凸出部的底面用于貼在所述的反應小室上。

上述的結構中，所述支撐座的貫穿孔為臺階孔，該臺階孔包括第一通孔和第二通孔，第一通孔和第二通孔呈圓柱狀，且第一通孔的內徑小于第二通孔的內徑；所述彈簧的頂端頂在第一通孔與第二通孔的臺階處。

上述的結構中，所述支撐座下部設置有一固定塊，該固定塊上設置有固定孔，所述小室安裝板上對應的設置有螺孔，所述的支撐座固定在小室安裝板上。

上述的結構中，所述伸縮桿的凸出部的底面上設置有一安裝槽，所述的伸縮桿上設置有貫穿其頂面與底面的通孔，且該通孔與所述的安裝槽相連通；

所述的測溫頭包括探頭本體和連接導線，連接導線的一端與探頭本體電性連接，所述的連接導線從伸縮桿上的通孔中穿過，且所述探頭本體設置在凸出部的安裝槽內。

上述的結構中，所述伸縮桿的上端設置有至少一個卡槽，且卡槽設置有卡簧，所述卡簧用于對伸縮桿進行限位，防止伸縮桿從支撐座的貫穿孔中掉落。

上述的結構中，所述的支撐座呈長方體形，所述的貫穿孔位于支撐座的一端，支撐座的另一端設置有固定孔，所述的支撐座固定在轉動架上。

上述的結構中，所述小室安裝板上設置有多個定位凸臺，所述反應小室的側邊抵靠在所述的定位凸臺上；