[發明專利]基于超聲測距補償光子數的電暈放電檢測裝置

在審

• 申請號: 201710316983.3
• 申請日: 2017-05-08
• 公開（公告）號: CN107015128A
• 公開（公告）日: 2017-08-04
• 發明（設計）人: 崔昊楊;霍思佳;劉晨斐;李鑫;束江;馬宏偉;葛晨航;郭文誠;李亞
• 申請（專利權）人: 上海電力學院
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01S15/08
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司31001
• 代理人: 吳寶根,王晶

1.一種基于超聲測距補償光子數的電暈放電檢測裝置，包括水平控制電機(8)、垂直控制電機(7)、超聲波測距模塊(1)、紫外成像儀(2)、云臺(5)、CPU、無線通信模塊、標準參數存儲模塊、控制系統，其特征在于：所述云臺(5)上部分別裝有超聲波測距模塊(1)、紫外成像儀(2)、CCD相機(3)，所述云臺(5)內安裝垂直控制電機(7)、水平控制電機(8)，所述云臺(5)安裝在固定底座(6)上；所述云臺(5)中的CPU接收上位機指令信號后，輸出控制信號給水平控制電機(8)、垂直控制電機(7)來驅動云臺(5)定位待測目標體，所述CPU分別連接標準參數存儲模塊、控制系統、超聲波測距模塊(1)、紫外成像儀(2)，用于將設置的標準觀測距離存儲于標準參數存儲模塊、通過紫外成像儀(2)檢測光子數、通過超聲測距模塊(1)獲得紫外成像儀(2)與目標物體表面間的距離；所述CPU通過無線通信模塊連接上位機，CPU根據超聲測距模塊(1)測得被測點到紫外成像儀(2)的距離值，對不同距離下紫外成像儀(2)檢測的光子數進行等效處理，以消除距離對光子數檢測造成的影響，使不同檢測距離下的檢測結果具備可比性。

2.根據權利要求1所述的基于超聲測距補償光子數的電暈放電檢測裝置，其特征在于：所述超聲測距模塊(1)與紫外成像儀(2)的方向一致，并且兩者上下貼合在云臺(5)結構頭部中間位置，并用減震座固定。

3.根據權利要求1所述的基于超聲測距補償光子數的電暈放電檢測裝置，其特征在于：所述超聲波測距模塊(1)將獲得的距離數據、紫外成像儀(2)將獲取的光子數分別通過CPU發送至控制系統，CPU通過控制系統結合標準觀測距離，將光子數等效至標準觀測距離下，再通過無線通信模塊將該結果上傳至上位機。

4.根據權利要求3所述的基于超聲測距補償光子數的電暈放電檢測裝置，其特征在于：所述CPU將超聲測距模塊(1)測得被測點到紫外成像儀(2)的距離值代入等效距離公式：gd₀＝gd₁(d₁/d₀)^1.222，其中，d₁為檢測距離，gd₁為在距離d₁下檢測到的光子數，d₀為光子數統一的標準觀測距離，gd0為檢測結果在標準距離d0下的等效光子數，利用公式將紫外成像儀(2)獲取的光子數觀測結果等效到的標準觀測距離下。