[發明專利]一種發光面板多功能檢測方法及設備

在審

• 申請號: 201710313304.7
• 申請日: 2017-05-05
• 公開（公告）號: CN106989905A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 葛勝兵;安寧;倪俊
• 申請（專利權）人: 安徽譜泉光譜科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 合肥順超知識產權代理事務所(特殊普通合伙)34120
• 代理人: 周發軍

技術領域

本發明涉及一種光學檢測方法，具體涉及一種發光面板多功能檢測方法及設備。

背景技術

發光面板現已廣泛應用于生活中的各類電子設備，如電視、顯示器、手機等，其亮度、均勻性和異常點檢測一直是發光面板品質鑒定的關鍵。以LED面板燈為例，即便總體亮度足夠，但如果亮度不均勻，出現暗斑，將導致使用體驗大大降低。此外發光面板的波長特性也很大程度上影響著使用者的感受。

當前發光面板亮度檢測大多通過拍照或積分球對比等方式實現，光譜特征通過加濾光片后探測獲得，現有手段很難實現一次性獲得空間分辨的亮度、光譜等信息，不僅增加了檢測時間，也增加了檢測流程的復雜度。

發明內容

(一)解決的技術問題

針對現有技術的不足，本發明提供了一種發光面板多功能檢測方法及設備，可同時實現發光面板整體或局部的亮度、均勻性和光譜特征信息檢測，解決了當前檢測流程復雜和耗時的缺點。

(二)技術方案

為實現以上目的，本發明通過以下技術方案予以實現：

一種發光面板多功能檢測方法，其特征在于：所述檢測方法的實現步驟如下：

(1)根據發光面板需檢測像元尺寸確定成像光譜儀、樣品臺和發光面板位置；

(2)利用標準發光面板和數據進行檢測系統標定；

(3)發光面板固定于樣品臺，并相對于成像光譜儀進行勻速運動，成像光譜儀完成不同位置光譜掃描；

(4)根據獲得成像光譜數據獲得發光面板不同位置和整體的發光亮度、均勻性和光譜特征信息。

優選的，還包括一種發光面板多功能檢測設備，所述設備包括發光面板、樣品臺、成像光譜儀和計算機。

優選的，所述發光面板固定于樣品臺，所述成像光譜儀按照設定軌跡進行運動和推掃，根據獲得成像光譜數據獲得發光面板不同位置和整體的發光亮度、均勻性和光譜特征信息。

優選的，所述步驟(3)中所述成像光譜儀光譜掃描可通過任意形式的光學面板和成像光譜儀相對運動實現，運動軌跡與后續數據拼接一一對應。

優選的，所述的發光面板多功能檢測方法可用于不同尺寸的發光面板性能測試。

優選的，所述成像光譜儀可選的采用多光譜或高光譜儀器。

優選的，所述的發光面板多功能檢測方法可用于離線抽樣檢測和在線實時檢測。

優選的，包括以下操作步驟：

(1)在樣品臺固定發光面板，發光面板與成像光譜儀鏡頭方向垂直；

(2)根據發光面板尺寸和空間檢測精度，確定成像光譜儀距離發光面板位置20cm；

(3)設置檢測設備參數，包括成像光譜儀曝光時間、采集幀頻、導軌運動速度、運動方向、運動位移等；

(4)觸發成像光譜儀開始數據采集，同時控制導軌，使成像光譜儀水平勻速移動其中移動方向與發光面板保持平行；

(5)將移動掃描時獲得的高光譜成像數據進行拼接，并合成偽彩圖；

(6)在偽彩圖選擇待分析區域，獲得不同位置處的發光亮度和光譜特點，同時對比輸出均勻性信息和平均光譜特征信息。

(三)有益效果

本發明與現有技術相比的優點在于：本發明可同時實現發光面板整體或局部的亮度、均勻性和光譜特征信息檢測，提高了發光面板性能檢測準確性和檢測效率。同時本發明可適用于任意尺寸的發光面板檢測。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1是本發明實施例發光面板多功能檢測方法示意圖；

圖2是本發明實施例發光面板檢測設備工作流程示意圖；

圖中的標號分別代表：

1、樣品臺；2、發光面板；3、精密導軌；4、成像光譜儀；5、計算機。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

如圖1所示的一種發光面板多功能檢測方法，檢測方法的實現步驟如下：