[發明專利]OLED像素補償方法、補償裝置及顯示裝置

有效

• 申請號: 201710308783.3
• 申請日: 2017-05-04
• 公開（公告）號: CN107025884B
• 公開（公告）日: 2019-10-11
• 發明（設計）人: 徐攀
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3225
• 分類號: G09G3/3225
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 王輝;闞梓瑄

1.一種OLED像素的補償方法，其特征在于，包括：

對第N行子像素的驅動晶體管進行測試獲取第一測試信息；其中，所述第一測試信息包括測試信號電壓及對應的輸出電流數據；

對第M行子像素的驅動晶體管進行測試獲取第二測試信息；其中，所述第二測試信息包括測試信號電壓及對應的輸出電流數據；

根據所述第一測試信息和第二測試信息計算補償參數；其中，所述補償參數包括閾值電壓以及遷移率；

根據所述補償參數對第N行及與所述第N行連續的共a行子像素、第M行及與所述第M行連續的共a行子像素進行補償；

其中，N＝an+b，M＝an+c，其中，a≥2，0≤b<a，0≤c<a且a、b、c、n均為整數，n指代多個正整數。

2.根據權利要求1所述的OLED像素的補償方法，其特征在于，其中，N為奇數或偶數，M為奇數或偶數。

3.根據權利要求1所述的OLED像素的補償方法，其特征在于，對所述驅動晶體管進行測試包括：

通過數據線寫入一測試信號至所述驅動晶體管的控制端以導通所述驅動晶體管；

通過所述驅動晶體管輸出電流對一測試電容充電；

檢測所述測試電容的電壓并根據所述測試電容的電壓獲取所述驅動晶體管的輸出電流數據；

其中，所述第一測試信息以及第二測試信息均包括所述測試信號電壓及所述輸出電流數據。

4.根據權利要求1所述的OLED像素的補償方法，其特征在于，對所述驅動晶體管進行測試包括：

通過數據線寫入一測試信號至所述驅動晶體管的控制端以導通所述驅動晶體管；

直接采集所述驅動晶體管的輸出電流數據；

其中，所述第一測試信息以及第二測試信息均包括所述測試信號電壓及所述輸出電流數據。

5.根據權利要求1所述的OLED像素的補償方法，其特征在于，根據所述第一測試信息和第二測試信息計算補償參數包括：

根據下式計算包括所述補償參數：

I₁＝K*u(V_gs1-V_th)²

I₂＝K*u(V_gs2-V_th)²

其中，I₁為所述第一測試信息中輸出電流數據，I₂為所述第二測試信息中輸出電流數據，V_gs1為所述第一測試信息中測試信號電壓，V_gs2為所述第二測試信息中測試信號電壓，u為所述遷移率，V_th為所述閾值電壓；K為常量。

6.根據權利要求1所述的OLED像素的補償方法，其特征在于，其中，在各幀的數據空白時間內對所述驅動晶體管進行測試。

7.一種OLED像素補償裝置，其特征在于，包括：

第一測試信息獲取模塊，用于對第N行子像素的驅動晶體管進行測試獲取第一測試信息；其中，所述第一測試信息包括測試信號電壓及對應的輸出電流數據；

第二測試信息獲取模塊，用于對第M行子像素的驅動晶體管進行測試獲取第二測試信息；其中，所述第二測試信息包括測試信號電壓及對應的輸出電流數據；

補償參數獲取模塊，用于根據所述第一測試信息和第二測試信息計算補償參數；其中，所述補償參數包括閾值電壓以及遷移率；

像素補償模塊，用于根據所述補償參數對所有行所述子像素進行補償；

其中，N＝an+b，M＝an+c，其中，a≥2，0≤b<a，0≤c<a且a、b、c、n均為整數。

8.一種顯示裝置，其特征在于，包括權利要求7所述的OLED像素補償裝置。

9.根據權利要求8所述的顯示裝置，其特征在于，還包括：

顯示面板，包括陣列排布的子像素以及與各所述子像素連接的掃描線以及數據線；

源極驅動器，與所述OLED像素補償裝置連接，用于生成原始數據信號并經由所述OLED像素補償裝置補償后輸出至各所述數據線；

柵極驅動器，與所述掃描線連接，用于生成掃描信號并輸出至所述顯示面板的掃描線。