[發明專利]一種程序的檢測方法、裝置與電子設備有效
| 申請號: | 201710307197.7 | 申請日: | 2017-05-04 |
| 公開(公告)號: | CN107102946B | 公開(公告)日: | 2021-04-23 |
| 發明(設計)人: | 朱華均;徐峰 | 申請(專利權)人: | 上海林果實業股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/36 | 分類號: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成麗杰 |
| 地址: | 200331 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 程序 檢測 方法 裝置 電子設備 | ||
1.一種程序的檢測方法,應用在終端設備中,其特征在于,所述終端設備為U盾,所述方法包括:
從上位機中獲取目標程序;
接收來自所述上位機的校驗碼生成指令,所述校驗碼生成指令中攜帶與運算算法一一對應的運算標識;
提取攜帶在所述校驗碼生成指令中的運算標識;根據所述運算標識,以及預設的運算標識與運算算法的對應關系,獲取與攜帶在所述校驗碼生成指令中的運算標識相對應的運算算法,并將獲取的運算算法作為第一運算算法;以所述第一運算算法對獲取的所述目標程序進行運算,生成所述目標程序的校驗碼;將生成的校驗碼發送至所述上位機,由所述上位機比較所述目標程序的校驗碼和標準校驗碼,所述比較的結果用于指示獲取的所述目標程序是否完整;所述標準校驗碼為根據存儲于所述上位機內的目標程序,以所述第一運算算法生成的校驗碼;
所述校驗碼生成指令中攜帶所述標準校驗碼;
所述程序的檢測方法還包括:
所述接收來自所述上位機的校驗碼生成指令后,提取所述校驗碼生成指令中的所述標準校驗碼;
在所述以第一運算算法生成所述目標程序的校驗碼后,比較所述目標程序的校驗碼和所述標準校驗碼,并將所述比較的結果反饋至所述上位機。
2.一種程序的檢測裝置,其特征在于,包括:
獲取模塊,用于從上位機中獲取目標程序;
接收模塊,用于接收來自所述上位機的校驗碼生成指令,所述校驗碼生成指令中攜帶與運算算法一一對應的運算標識;
計算模塊,用于根據獲取的所述目標程序和所述校驗碼生成指令,以第一運算算法生成所述目標程序的校驗碼;具體包括:運算標識提取子模塊,用于提取攜帶在所述校驗碼生成指令中的運算標識;第一運算算法獲取子模塊,用于根據所述運算標識,以及預設的運算標識與運算算法的對應關系,獲取與攜帶在所述校驗碼生成指令中的運算標識相對應的運算算法,并將獲取的運算算法作為第一運算算法;校驗碼獲取子模塊,用于以所述第一運算算法對獲取的所述目標程序進行運算,生成所述目標程序的校驗碼;
發送模塊,用于在所述以第一運算算法生成所述目標程序的校驗碼后,將生成的校驗碼發送至所述上位機,由所述上位機比較所述目標程序的校驗碼和標準校驗碼,所述比較的結果用于指示獲取的所述目標程序是否完整;所述標準校驗碼為根據存儲于所述上位機內的目標程序,以所述第一運算算法生成的校驗碼;
所述校驗碼生成指令中攜帶所述標準校驗碼;
所述程序的檢測裝置還包括:
標準校驗碼提取模塊,用于所述接收來自所述上位機的校驗碼生成指令后,提取所述校驗碼生成指令中的所述標準校驗碼;
比較模塊,用于在所述以第一運算算法生成所述目標程序的校驗碼后,比較所述目標程序的校驗碼和所述標準校驗碼,并將所述比較的結果反饋至所述上位機。
3.一種電子設備,其特征在于,包括:至少一個處理器;以及,
與所述至少一個處理器通信連接的存儲器;其中,
所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令,所述指令被所述至少一個處理器執行,以使所述至少一個處理器能夠執行權利要求1所述的程序的檢測方法。
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