[發(fā)明專利]一種JTAG遠程調(diào)試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710304926.3
• 申請日: 2017-05-03
• 公開（公告）號: CN107122304B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王曉曦;陳彬
• 申請（專利權(quán)）人: 成都定為電子技術(shù)有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;H04L12/26
• 代理公司: 成都金英專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51218
• 代理人: 袁英

本發(fā)明公開了一種JTAG遠程調(diào)試方法，涉及JTAG調(diào)試領(lǐng)域。一種JTAG以太網(wǎng)遠程調(diào)試方法，包括：JTAG轉(zhuǎn)換模塊上電自檢或不自檢；檢查或不檢查JTAG轉(zhuǎn)換模塊與調(diào)試中心是否連接；調(diào)試中心將調(diào)試數(shù)據(jù)進行組幀并打包或者接收J(rèn)TAG轉(zhuǎn)換模塊上傳的數(shù)據(jù)包并解析；JTAG轉(zhuǎn)換模塊接收調(diào)試中心發(fā)送的數(shù)據(jù)包或者將被測設(shè)備JTAG返回的數(shù)據(jù)組包發(fā)送給調(diào)試中心；JTAG轉(zhuǎn)換模塊接收調(diào)試中心的數(shù)據(jù)包或者發(fā)送給調(diào)試中心的數(shù)據(jù)包通過不同的IP地址和端口地址來區(qū)分不同的被測設(shè)備和不同的調(diào)試中心；解析JTAG協(xié)議，包括串并轉(zhuǎn)換和并串轉(zhuǎn)換以及FIFO緩存、時序同步以及其他數(shù)字信號處理過程。本發(fā)明可以利用一臺或多臺電腦調(diào)試多臺對應(yīng)設(shè)備；通過集成JTAG轉(zhuǎn)換模塊實現(xiàn)的主要功能是以太網(wǎng)轉(zhuǎn)JTAG。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及JTAG調(diào)試領(lǐng)域，尤其是一種JTAG遠程調(diào)試方法。

背景技術(shù)

隨著嵌入式系統(tǒng)的不斷發(fā)展和應(yīng)用越來越廣泛，針對不同應(yīng)用的嵌入式軟件的開發(fā)也越來越受到重視。在系統(tǒng)設(shè)計領(lǐng)域，應(yīng)用軟件的開發(fā)越發(fā)變得昂貴，消耗的時間也越來越多。一個好的調(diào)試器可以給予嵌入式軟件開發(fā)人員很好的幫助，達到事半功倍的效果。隨著芯片設(shè)計的復(fù)雜度越來越高，軟件開發(fā)和系統(tǒng)調(diào)試階段是產(chǎn)品上市時間的重要部分。在板級，通過軟件模擬、驗證和分析等系統(tǒng)功能調(diào)試已經(jīng)遠遠不能滿足功能正確性調(diào)試和故障定位等要求，所以微處理器硬件上支持片上測試和調(diào)試功能顯得十分重要。嵌入式系統(tǒng)的開發(fā)與實

現(xiàn)，已在逐漸步入利用SOC（System On Chip）技術(shù)的軟硬件協(xié)同設(shè)計階段。現(xiàn)在高集成度、高時鐘頻率的高性能嵌入式微處理器芯片設(shè)計時都引入片上調(diào)試邏輯。調(diào)試器在開發(fā)過程中變得更加重要，越來越多的微處理器集成了片上調(diào)試支持結(jié)構(gòu)來減輕嵌入式系統(tǒng)軟件開發(fā)人員的負擔(dān)。

JTAG(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動小組) 是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議，主要用于芯片內(nèi)部測試及對系統(tǒng)進行仿真、調(diào)試，JTAG技術(shù)是一種嵌入式調(diào)試技術(shù)，它在芯片內(nèi)部封裝了專門的測試電路TAP(Test Access Port，測試訪問口)，通過專用的JTAG測試工具對內(nèi)部節(jié)點進行測試。如今大多數(shù)比較復(fù)雜的器件都支持JTAG 協(xié)議，如ARM、DSP、FPGA 器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG 接口是4 線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別為測試模式選擇、測試時鐘、測試數(shù)據(jù)輸入和測試數(shù)據(jù)輸出。傳統(tǒng)方式為USB轉(zhuǎn)JTAG，無法實現(xiàn)遠程調(diào)試，在某些特定條件下使用十分不便。并且傳統(tǒng)方式同一臺電腦只能調(diào)試一臺對應(yīng)設(shè)備，多電腦也無法協(xié)同調(diào)試多臺設(shè)備。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種JTAG遠程調(diào)試方法與系統(tǒng)，實現(xiàn)遠程調(diào)試，可以利用同一臺或者多臺電腦調(diào)試多臺對應(yīng)設(shè)備。

本發(fā)明的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的：一種JTAG遠程調(diào)試方法，它包括如下步驟：

S1JTAG轉(zhuǎn)換模塊上電自檢：若自檢正常，則進行下一步驟，反之終止調(diào)試重復(fù)自檢；在必要情況下可以不進行自檢；

S2檢查JTAG轉(zhuǎn)換模塊與調(diào)試中心是否連接：若已連接，則進行下一步驟，反之終止調(diào)試，在必要情況下可以不進行連接檢測；

S3調(diào)試中心將調(diào)試數(shù)據(jù)進行組幀并打包或者接收J(rèn)TAG轉(zhuǎn)換模塊上傳的數(shù)據(jù)包并解析；

S4JTAG轉(zhuǎn)換模塊接收調(diào)試中心發(fā)送的數(shù)據(jù)包或者將被測設(shè)備JTAG返回的數(shù)據(jù)組包發(fā)送給調(diào)試中心；JTAG轉(zhuǎn)換模塊接收調(diào)試中心的數(shù)據(jù)包或者發(fā)送給調(diào)試中心的數(shù)據(jù)包通過不同的IP地址和端口地址來區(qū)分不同的被測設(shè)備和不同的調(diào)試中心；

S5解析JTAG協(xié)議，包括串并轉(zhuǎn)換和并串轉(zhuǎn)換以及FIFO緩存、時序同步。

進一步限定，所述的調(diào)試中心將調(diào)試數(shù)據(jù)進行打包具體包括如下子步驟：

S31調(diào)試中心對JTAG轉(zhuǎn)換模塊實行安全認(rèn)證；當(dāng)系統(tǒng)存在不同的JTAG轉(zhuǎn)換模塊時，為每個JTAG轉(zhuǎn)換模塊自動或者手動分配不同的IP以及端口地址；