[發明專利]一種太陽能電池片制絨質量檢測方法

有效

• 申請號: 201710300937.4
• 申請日: 2017-05-02
• 公開（公告）號: CN107170692B
• 公開（公告）日: 2020-04-21
• 發明（設計）人: 蘇亞;姚曉天;劉會清
• 申請（專利權）人: 河北大學;蘇州光環科技有限公司
• 主分類號: H01L21/66
• 分類號: H01L21/66
• 代理公司: 石家莊國域專利商標事務所有限公司 13112
• 代理人: 蘇艷肅

1.一種太陽能電池片制絨質量檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

a、在待測制絨硅片上確定檢測區域；

b、用OCT系統對檢測區域進行掃描，得到檢測區域的三維圖像；

c、對得到的三維圖像進行處理得到絨面的均勻性情況，包括以下步驟：

c-1、采用邊界識別算法從三維圖像中提取出制絨硅片的上表面圖像，并找到制絨表面的最低位置作為基準面；

c-2、通過邊界識別算法找到制絨表面的局部極大值作為金字塔峰的位置，并以基準面為參考統計出峰的高度；

c-3、整理出各金字塔峰高度的比例，得到檢測區域內峰高的分布情況；

c-4、通過若干不同位置的檢測區域內峰高的分布情況，得到制絨硅片上絨面的均勻性情況；

d、對檢測區域的三維圖像進行處理得到制絨硅片的反射率信息，包括以下步驟：

d-1、將檢測區域的三維圖像沿深度方向進行平均，得到縱向的一維平均光強信號圖；

d-2、用制絨硅片上表面光強值來表征制絨硅片的反射率，其上表面光強值越小，反射率也越小；

e、通過絨面均勻性和反射率參數來評價電池片制絨質量。

2.根據權利要求1所述的太陽能電池片制絨質量檢測方法，其特征在于，每個制絨硅片選定3~5個檢測區域進行檢測。

3.根據權利要求1所述的太陽能電池片制絨質量檢測方法，其特征在于，所述OCT系統掃描參數x*y*z設置為400pixel*400pixel*512pixel，對應的實際檢測尺寸為10mm*10mm*3mm。