[發(fā)明專利]熱敏電阻調(diào)阻方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710299873.0
• 申請日: 2017-04-27
• 公開（公告）號: CN107134331B
• 公開（公告）日: 2019-08-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳宏偉;劉劍鋒;張繼華;沓世我;羅俊堯;朱佩;廖進(jìn)福
• 申請（專利權(quán)）人: 廣東風(fēng)華高新科技股份有限公司;風(fēng)華研究院（廣州）有限公司;電子科技大學(xué)
• 主分類號: H01C7/04
• 分類號: H01C7/04
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 吳平

1.一種熱敏電阻的調(diào)阻方法，包括：

獲取多種預(yù)設(shè)圖形中的每一種預(yù)設(shè)圖形對應(yīng)的電阻增加率范圍；所述預(yù)設(shè)圖形用于形成在待調(diào)阻的片阻上，增加所述待調(diào)阻的片阻的阻值；所述預(yù)設(shè)圖形包括打點(diǎn)、單刀、雙刀、L型切口；

測量待調(diào)阻的片阻的實(shí)際阻值，并計(jì)算出達(dá)到目標(biāo)阻值所需要的增加率；

判斷所述所需要的增加率所處于的電阻增加率范圍，并獲取對應(yīng)的預(yù)設(shè)圖形；

將獲取到的預(yù)設(shè)圖形應(yīng)用于待調(diào)阻的片阻進(jìn)行修調(diào)；

在將獲取到的預(yù)設(shè)圖形應(yīng)用于待調(diào)阻的片阻進(jìn)行修調(diào)的步驟中，對于滿足條件的多個(gè)電阻增加率范圍，選擇使調(diào)阻后電阻精度誤差最小的一個(gè)圖形進(jìn)行修調(diào)；

所述獲取電阻增加率范圍的步驟包括：

對每種預(yù)設(shè)圖形，將其應(yīng)用于修調(diào)多個(gè)不同的片阻，獲取多個(gè)不同的片阻在應(yīng)用預(yù)設(shè)圖形修調(diào)前后的電阻增加率；

根據(jù)所獲得的多個(gè)電阻增加率確定每種預(yù)設(shè)圖形對應(yīng)的電阻增加率范圍。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱敏電阻的調(diào)阻方法，其特征在于，依次對多個(gè)片阻進(jìn)行調(diào)阻：在將獲取到的預(yù)設(shè)圖形應(yīng)用于當(dāng)前待調(diào)阻的片阻進(jìn)行修調(diào)的步驟之后，測量下一個(gè)待調(diào)阻的片阻的實(shí)際阻值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱敏電阻的調(diào)阻方法，其特征在于，依次對多個(gè)片阻進(jìn)行調(diào)阻：在將獲取到的預(yù)設(shè)圖形應(yīng)用于當(dāng)前待調(diào)阻的片阻進(jìn)行修調(diào)的同時(shí)，測量下一個(gè)待調(diào)阻的片阻的實(shí)際阻值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱敏電阻的調(diào)阻方法，其特征在于，對修調(diào)后不符合預(yù)期的片阻根據(jù)再次確定的預(yù)設(shè)圖形進(jìn)行修調(diào)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱敏電阻的調(diào)阻方法，其特征在于，通過篩選使所有的電阻增加率范圍互不重疊并相互接續(xù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的熱敏電阻的調(diào)阻方法，其特征在于，還包括：將預(yù)設(shè)圖形和對應(yīng)的電阻增加率范圍對應(yīng)存儲于數(shù)據(jù)庫中，并將數(shù)據(jù)庫導(dǎo)入激光調(diào)阻機(jī)中。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱敏電阻的調(diào)阻方法，其特征在于，所述多個(gè)預(yù)設(shè)圖形包括不同數(shù)量、相同或不同大小的圓點(diǎn)圖形。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的熱敏電阻的調(diào)阻方法，其特征在于，在將獲取到的預(yù)設(shè)圖形應(yīng)用于待調(diào)阻的片阻進(jìn)行修調(diào)的步驟中，對于滿足條件的多個(gè)電阻增加率范圍，選擇其中一個(gè)進(jìn)行修調(diào)。