[發明專利]托盤檢測裝置

在審

• 申請號: 201710296958.3
• 申請日: 2017-04-28
• 公開（公告）號: CN107102374A
• 公開（公告）日: 2017-08-29
• 發明（設計）人: 石浩峰
• 申請（專利權）人: 達特電子（上海）有限公司
• 主分類號: G01V8/12
• 分類號: G01V8/12
• 代理公司: 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙)31260
• 代理人: 成麗杰

技術領域

本發明涉及半導體技術領域，特別涉及托盤檢測裝置。

背景技術

芯片是目前電子行業中比較常用的電子元件，其有多個制作流程。而有些芯片需要燒錄。在燒錄時，需要把控燒錄的點位，因此，芯片燒錄這一工序中，對芯片安放的位置精度有很高的要求。一般應用托盤機將放置有芯片的托盤傳輸至對應的位置再進行燒錄。

在實現本發明的過程中，發明人發現：現有技術中，托盤機一般使用市面上商用的傳感器來檢測托盤上是否放置有芯片，在檢測到托盤上有芯片時再進行燒錄。而商用的傳感器一般價格昂貴，成本較高。

發明內容

本發明的目的在于提供一種托盤檢測裝置，能夠降低成本，并且能夠進行精確地檢測。

為解決上述技術問題，本發明的實施方式提供了一種托盤檢測裝置，包括：至少一個夾具，設置在支撐板的邊緣，用于固定放置在支撐板上的托盤；至少一檢測電路，設置在夾具上，用于檢測支撐板上是否放置有托盤。

本發明實施方式相對于現有技術而言，將至少一個檢測電路設置在位于支撐板邊緣的夾具上，以檢測支撐板上是否放置有托盤，能夠降低成本，并且能夠進行精確地檢測。

另外，檢測電路包括：電阻單元、發光二極管以及光電三極管，發光二極管的正極通過電阻單元接第一參考電壓，發光二極管的負極接第二參考電壓，光電三極管的第一端接第一參考電壓，第二端為輸出端。

另外，電阻單元包括并聯的多個電阻。

另外，檢測電路與夾具設置成一體結構。

另外，檢測電路集成在一檢測芯片中，檢測芯片粘貼在夾具上。

附圖說明

圖1是本發明第一實施方式的托盤檢測裝置的結構示意圖；

圖2是圖1中的檢測電路的結構示意圖；

圖3是圖1中的托盤檢測裝置的組裝示意圖。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合附圖對本發明的各實施方式進行詳細的闡述。然而，本領域的普通技術人員可以理解，在本發明各實施方式中，為了使讀者更好地理解本申請而提出了許多技術細節。但是，即使沒有這些技術細節和基于以下各實施方式的種種變化和修改，也可以實現本申請各權利要求所要求保護的技術方案。

本發明的第一實施方式涉及一種托盤檢測裝置。如圖1所示，托盤檢測裝置包括：至少一個夾具11以及至少一檢測電路12。至少一個夾具11設置在支撐板13的邊緣，用于固定放置在支撐板13上的托盤(圖未示)。至少一檢測電路12設置在夾具11上，用于檢測支撐板13上是否放置有托盤。

參見圖2，檢測電路12包括：電阻單元121、發光二極管D1以及光電三極管Q1，發光二極管D1的正極通過電阻單元121接第一參考電壓VDD，發光二極管D1的負極接第二參考電壓GND，光電三極管Q1的第一端接第一參考電壓VDD，第二端為輸出端D。其中，第一參考電壓VDD優選為5V。在本發明實施方式中，發光二極管D1發出和光照射到托盤上，經托盤反射后被光電三極管Q1接收，如果沒有反射光，則說明支撐板13上沒有放置托盤。因此，如果光電三極管Q1接收到經托盤反射的光則說明支撐板上放置有托盤，可以對托盤上的芯片進行燒錄；如果光電三極管Q1沒有接收到經托盤反射的反射光，則說明托盤上沒有放置托盤，無法進行燒錄。如此可以對支撐板13上是否放置有托盤進行精確地檢測。

電阻單元121包括并聯的多個電阻。具體地，電阻單元121包括阻值相同且相互并聯的第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3以及第四電阻R4，優選地，第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3以及第四電阻R4的阻值為470Ω，當然在本發明實施方式中，第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3以及第四電阻R4的阻值也可以取其他值，具體可以根據需要進行設置，在此不作限制。

在本發明實施方式中，檢測電路12與夾具11可以設置成一體結構，即檢測電路12集成在夾具11中。當然，檢測電路12也可以集成在一檢測芯片中，檢測芯片粘貼在夾具11上。相對于現有技術中的昂貴的商用傳感器而言，本發明實施方式應用檢測電路12檢測支撐板13上是否放置有托盤，能夠降低成本。

繼續參見圖1，檢測電路12在夾具11上的位置高于支撐板13的上表面所在位置，使得光電二極管D1發射的光線能夠被放置在支撐板上的托盤反射形成反射光，進而可以被光電三極管Q1接收，以檢測到支撐板上放置在托盤。