[發明專利]一種評價雜交谷子穗上空秕粒分布的方法

有效

• 申請號: 201710293820.8
• 申請日: 2017-04-28
• 公開（公告）號: CN106962179B
• 公開（公告）日: 2019-01-18
• 發明（設計）人: 師長海
• 申請（專利權）人: 青島農業大學
• 主分類號: A01H1/02
• 分類號: A01H1/02
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570
• 代理人: 劉杰

本申請提供一種評價雜交谷子穗上空秕粒分布的方法，涉及農業領域，通過對張雜谷系列雜交谷子的整穗空秕系數、空秕粒分布均勻性指數等參數進行測定，客觀反映谷穗的秕谷分布情況，對研究雜交谷子灌漿規律，防止空秕粒產生具有指導意義，解決了現有評價方法中由于谷子籽粒較小而造成的誤差。

技術領域

本申請涉及一種評價雜交谷子穗上空秕粒分布的方法。

背景技術

張雜谷系列雜交谷子具抗旱、適應范圍廣及增產潛力大等優點。但是，雜交谷子屬于大穗型品種，在不同地區推廣過程中，往往會出現較多的空秕粒。因而，研究空秕粒的多少及其在穗上的分布規律，進而研究雜交谷子灌漿規律，是在谷子培育過程中防止空秕粒產生的重要環節。由于谷子籽粒較小，無法按照大籽粒作物的方法定量分析空秕粒的分布規律。

目前，尚沒有類似雜交谷子空秕粒分布規律評價方法，基于這種空白，本申請提供一種客觀評價雜交谷子穗上空秕粒分布的方法。

發明內容

本申請針對現有評價體系的不足，提供一種評價雜交谷子穗上空秕粒分布的方法，以對雜交谷子穗上空秕粒分布進行有效地評價，為后續谷子生長環節的改進提供客觀依據。

本申請的技術方案設計如下：

將風干后自然彎曲的谷穗分為基部、中部、尖部三個分段，所述基部、中部、尖部三個分段各占總穗長的1/3，沿谷穗側中線依次將上述三個分段拆分，基部拆分為基部上方(基上部)、基部下方(基下部)，中部拆分為中部上方(中上部)、中部下方(中下部)，尖部拆分為尖部上方(尖上部)和尖部下方(尖下部)，共計拆分成6個部分，拆分取樣時，沿側中線將基部、中部和尖部的上、下部小穗分開，去掉主穗軸，將未拆分的整谷穗及拆分后的6個部分分別稱重，記作We,We1,We2,We3,We4,We5,We6，然后，將上述拆分后的6個部分分別脫粒，稱重，分別記作Wg1,Wg2,Wg3,Wg4,Wg5,Wg6；

各部位出谷率：Gi＝Wgi/Wei，其中i＝1,2,3,4,5,6；

各部位出谷率差：Di＝Gmax-Gi

當對單穗各部位間進行比較時，Gmax指代各部位出谷率中的最大值，假設該部位無空秕粒，認為Di是由于空秕粒的存在造成的，通過測定各部位出谷率差，衡量單個谷穗的谷粒生長狀況。

當對單穗各部位間進行比較時，Gmax指代單穗中各部位出谷率中的最大值；當對多株谷穗進行空秕粒分布比較時，Gmax指代所有處理谷穗中各部位出谷率的最大值；

各部位空秕系數：

整穗空秕系數：

整穗空秕系數E反映了空秕率，整穗空秕系數E值越高，相應部位的空秕率就越高。

空秕系數的標準差：其中n＝6，μ為Ei的算術平均值。

6部位空秕系數的標準差(空秕粒分布均勻性指數，Dd)反映空秕粒在穗上的分布情況，標準差大，說明空秕粒在不同部位的分布差異越大；標準差越小，表明空秕粒分布越均勻。

以上測定均排除了谷殼、主穗軸及小穗軸的干擾。

本發明的有益效果在于：

本申請解決了現有的評價方法中由于谷子籽粒較小而造成的誤差，通過本申請中對張雜谷系列雜交谷子的整穗空秕系數、空秕系數的標準差等參數進行測定，客觀反映了谷穗的秕谷分布情況，對研究雜交谷子灌漿規律，防止空秕粒產生具有指導意義。

附圖說明

附圖僅用于示出優選實施方式的目的，而并不認為是對本發明的限制。而且在整個附圖中，用相同的參考符號表示相同的部件。在附圖中：

圖1描述了本發明實施例中谷穗的取樣示意圖；