[發明專利]一種測量整體葉盤的方法

有效

• 申請號: 201710290954.4
• 申請日: 2017-04-28
• 公開（公告）號: CN107091603B
• 公開（公告）日: 2019-04-12
• 發明（設計）人: 胡鵬程;宋勉之;李振瀚;陳雨
• 申請（專利權）人: 華中科技大學;武漢華中數控股份有限公司
• 主分類號: G01B5/004
• 分類號: G01B5/004
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 梁鵬;曹葆青

1.一種測量整體葉盤的方法，其特征在于，該方法包括下列步驟：

(a)測量點采樣

將待測量的整體葉盤分割為彼此相鄰的多個網格，網格的頂點被設定作為測量點，同時將所有的測量點形成點集C；

(b)計算單個測量點的三維可視錐角度范圍

(b1)從所述點集C中任選一個測量點P，采用n個平面通過所述測量點P，使得該n個平面與整體葉盤相交形成n個二維截面，針對所述測量點P自身所在的二維截面E和與該二維截面E相鄰的二維截面F，將兩者各自的外輪廓線分別離散成多個離散點；然后將這些離散點與所述測量點P分別連接形成向量并獲取其對應的邊界向量，并且所述二維截面E的邊界向量采用P1和P2來表示，而所述二維截面F的邊界向量分別采用P3和P4來表示；

(b2)所述邊界向量P1與P3形成的銳角區域為[R1,R3]，所述邊界向量P2與P4形成銳角區域為[R2,R4]，由此得到所述二維截面E、F的無干涉測量區域為[R1,R3]∪[R2，R4]，然后將所述R1，R2，R3，R4分別取整后，將此無干涉測量區域轉換為360*1的一維矩陣，其中，R1～R3和R2～R4行的值取1，其他行的值取0；

(b3)按照步驟(b3)的方式，針對上述n個二維截面共生成n個所述360*1的一維矩陣，并將這n個一維矩陣合并得到360*n的二維矩陣，該矩陣即為所述測量點P的三維可視錐角度范圍矩陣A，重復步驟(b2)～(b4),直至所述點集C中的測量點均得到各自相應的所述三維可視錐角度范圍矩陣，所述點集C中各個測量點的所述三維可視錐角度范圍矩陣A構成矩陣集合A_p；

(c)確定測量方向

(c1)將待確定測量方向的測量點的所述三維可視錐角度范圍矩陣A逐一相加得到和矩陣A′，并將該和矩陣A′中最大值所在的行和列為該行和列所代表的向量的方向為需要確定的測量方向

(c2)在待確定測量方向的測量點的所述三維可視錐角度范圍矩陣A中，行θ′列取值為1的所述三維可視錐角度范圍矩陣對應的測量點的測量方向為所述測量方向

(d)按照所述的測量方向測量相應的測量點，直至完成所述點集C中所有測量點的測量，從而實對整體葉盤的測量。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟(a)中，所述網格采用三角網格剖分，按照待測量整體葉盤的葉片曲面的弦高誤差進行。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟(b1)中，所述n個平面采用180個平面。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟(c2)包括下列步驟：

(I)將行θ′列取值為1的矩陣所對應的測量點集S，將所述點集S劃分為多個連通區域，每個所述連通區域中包含Q_i個相互連接的測量點，并且所述Q_i的最大值所對應的連通區域為同時該連通區域中包含的測量點對應的測量方向為所述的

(II)重復步驟(I)，直至所述和矩陣A′中所有元素都得到相應的所述連通區域，對比所述每個元素相應的連通區域包含的測量點數量，得到包含測量點數量最多的連通區域

(III)在所述點集C中除所述連通區域中包含的測量點外，其余的測量點重復步驟(c1)～步驟(c2)，直至所述點集C中所有測量點均有各自對應的連通區域，由此確定此點集C中所有測量點各自的測量方向。