[發(fā)明專利]音箱漏氣檢測裝置和方法、計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710289511.3
• 申請日: 2017-04-27
• 公開（公告）號: CN107135456B
• 公開（公告）日: 2020-12-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 彭明煒;李平
• 申請（專利權(quán)）人: 歌爾智能科技有限公司
• 主分類號: H04R29/00
• 分類號: H04R29/00
• 代理公司: 北京博雅睿泉專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11442
• 代理人: 唐麗;馬佑平

1.一種音箱漏氣檢測裝置，其特征在于，包括密封測試箱和氣壓調(diào)節(jié)裝置；

所述氣壓調(diào)節(jié)裝置，用于調(diào)節(jié)所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓；

所述密封測試箱內(nèi)設(shè)置有音箱固定裝置和至少一個(gè)測距儀；

所述音箱固定裝置，用于固定待測的音箱；

所述測距儀，用于測量所述音箱的振膜與測距儀之間的距離；

還包括氣壓計(jì)；

所述氣壓計(jì)，用于檢測所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓；

還包括漏氣分析裝置；

所述漏氣分析裝置，用于從所述測距儀獲取距離數(shù)據(jù)，從所述氣壓計(jì)獲取氣壓數(shù)據(jù)；根據(jù)所述距離數(shù)據(jù)計(jì)算所述音箱的振膜的位移，分析所述音箱的振膜在不同氣壓下的位移以判斷所述音箱的漏氣情況；

其中，所述漏氣分析裝置，具體用于執(zhí)行以下步驟：

步驟一：先測量所述音箱的振膜到箱內(nèi)設(shè)定位置處的距離作為初始距離；

步驟二：將所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓調(diào)節(jié)到目標(biāo)氣壓，測量在目標(biāo)氣壓下所述音箱的振膜到所述設(shè)定位置處的距離；

步驟三：逐漸調(diào)低所述密封測試箱內(nèi)的氣壓，測量所述密封測試箱的壓力數(shù)據(jù)曲線、以及所述音箱的振膜的距離數(shù)據(jù)曲線；

步驟四：在所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓降低至預(yù)設(shè)壓力時(shí)，將所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓在預(yù)設(shè)壓力下保持預(yù)設(shè)時(shí)間，記錄所述預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)所述音箱的振膜的距離數(shù)據(jù)；

步驟五：利用步驟二到步驟四的距離數(shù)據(jù)和所述初始距離數(shù)據(jù)，計(jì)算出所述振膜在不同氣壓下的位移。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測距儀為激光測距儀。

3.一種音箱漏氣檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

調(diào)節(jié)密封測試箱箱內(nèi)的氣壓，測量密封測試箱內(nèi)的音箱的振膜在不同氣壓下的位移；

根據(jù)所述音箱的振膜在不同氣壓下的位移分析所述音箱的漏氣情況；

其中，所述調(diào)節(jié)所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓，測量所述音箱的振膜在不同氣壓下的位移，包括：

步驟一：先測量所述音箱的振膜到箱內(nèi)設(shè)定位置處的距離作為初始距離；

步驟二：將所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓調(diào)節(jié)到目標(biāo)氣壓，測量在目標(biāo)氣壓下所述音箱的振膜到所述設(shè)定位置處的距離；

步驟三：逐漸調(diào)低所述密封測試箱內(nèi)的氣壓，測量所述密封測試箱的壓力數(shù)據(jù)曲線、以及所述音箱的振膜的距離數(shù)據(jù)曲線；

步驟四：在所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓降低至預(yù)設(shè)壓力時(shí)，將所述密封測試箱箱內(nèi)的氣壓在預(yù)設(shè)壓力下保持預(yù)設(shè)時(shí)間，記錄所述預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)所述音箱的振膜的距離數(shù)據(jù)；

步驟五：利用步驟二到步驟四的距離數(shù)據(jù)和所述初始距離數(shù)據(jù)，計(jì)算出所述振膜在不同氣壓下的位移。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述測量所述音箱的振膜在不同氣壓下的位移，是通過測量所述音箱的振膜到箱內(nèi)設(shè)定位置處的距離，計(jì)算所述距離的在不同氣壓下的變化而獲得。

5.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)指令，其特征在于，該指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求3或4所述方法的步驟。