[發(fā)明專利]半導(dǎo)體器件及半導(dǎo)體器件的制造方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710288383.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107507810A | 公開(公告)日: | 2017-12-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 松原義久 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 瑞薩電子株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01L23/367 | 分類號(hào): | H01L23/367;H01L23/373;H01L21/50;H01L21/48 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務(wù)所11256 | 代理人: | 楊宏軍,李文嶼 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體器件 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件及半導(dǎo)體器件的制造方法,例如,為適合利用于具有散熱部(散熱器)的半導(dǎo)體器件的技術(shù)。
背景技術(shù)
便攜終端等中所用的CPU等半導(dǎo)體器件為高密度集成的半導(dǎo)體元件。在這樣的半導(dǎo)體器件中,若為了提高工作速度而提高工作頻率的話,與頻率成比例,有效電流增大。若由于該電流而發(fā)熱、半導(dǎo)體器件變得高溫的話,可能會(huì)發(fā)生由過熱導(dǎo)致的熱失控、半導(dǎo)體器件自身、包圍半導(dǎo)體器件的封裝件的熱膨脹。因此,為了維持半導(dǎo)體器件的特性、并延長壽命,半導(dǎo)體器件的散熱性的提高是重要的問題。
例如,國際公開第WO2011/007510號(hào)(專利文獻(xiàn)1)中公開了在散熱器與半導(dǎo)體封裝件之間設(shè)置有石墨片的導(dǎo)熱結(jié)構(gòu)體。
另外,日本專利第5641484號(hào)公報(bào)(專利文獻(xiàn)2)中公開了以下的方法作為石墨烯薄膜的形成方法。(1)用透明膠帶紙( tape)等將HOPG等石墨機(jī)械剝離,從而形成石墨烯薄膜,(2)利用SiC的熱分解,形成石墨烯薄膜,(3)利用化學(xué)氣相沉積法在過渡金屬膜上進(jìn)行碳化反應(yīng),從而形成石墨烯薄膜。此外,還公開了下述技術(shù):使用在單晶襯底的上表面形成有外延金屬膜的襯底,使碳原料與該外延金屬膜的上表面接觸,從而沉積石墨烯薄膜。
現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)
專利文獻(xiàn)1:國際公開第WO2011/007510號(hào)
專利文獻(xiàn)2:日本專利第5641484號(hào)公報(bào)
發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明所要解決的問題
如上文所述,半導(dǎo)體芯片的溫度應(yīng)對(duì)措施為重要的課題。特別的,對(duì)于便攜式終端等小型機(jī)器而言,基于小型化、高性能化的期望,散熱應(yīng)對(duì)措施的重要性變得顯著。例如,若為了提高便攜終端的CPU(中央處理器)的工作速度而提高工作頻率的話,有效電流與頻率成比例地增加,發(fā)熱量變多。
如上所述,作為半導(dǎo)體器件的散熱應(yīng)對(duì)措施,希望研究能夠良好散熱的裝置構(gòu)成、其制造方法。
用于解決問題的手段
對(duì)本申請(qǐng)中揭示的的實(shí)施方式之中,具有代表性的實(shí)施方式的概要簡(jiǎn)單說明如下。
本申請(qǐng)中揭示的一個(gè)實(shí)施方式所示的半導(dǎo)體器件具有半導(dǎo)體芯片、和半導(dǎo)體芯片上的散熱部。并且,散熱部具有樹脂及從樹脂突出的散熱片,散熱片包含石墨烯,散熱片以石墨烯在與半導(dǎo)體芯片的表面交叉的方向上配置的方式配置在半導(dǎo)體芯片上。例如,散熱部為石墨片與樹脂帶層疊并卷繞而得到的卷繞體。
本申請(qǐng)中揭示的一個(gè)實(shí)施方式中所示的半導(dǎo)體器件的制造方法具有(a)準(zhǔn)備散熱部的工序,(b)將散熱部搭載于半導(dǎo)體芯片上的工序。并且,散熱部具有樹脂及從樹脂突出的散熱片,散熱片包含石墨烯。此外,(b)工序?yàn)閷⑸岵恳允┰谂c半導(dǎo)體芯片的表面交叉的方向上配置的方式搭載于半導(dǎo)體芯片上的工序。
發(fā)明效果
根據(jù)本申請(qǐng)中揭示的代表性的實(shí)施方式中所示的半導(dǎo)體器件,能夠提高半導(dǎo)體器件的特性。
根據(jù)本申請(qǐng)中揭示的代表性的實(shí)施方式中所示的半導(dǎo)體器件的制造方法,能夠制造特性良好的半導(dǎo)體器件。
附圖說明
圖1:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的構(gòu)成的剖面圖。
圖2:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的構(gòu)成的剖面圖。
圖3:為示出實(shí)施方式1的散熱部(散熱器)的構(gòu)成的一個(gè)例子的圖。
圖4:為示出石墨烯的結(jié)構(gòu)的圖。
圖5:為示出散熱部(散熱器)的形成工序的圖。
圖6:為示出散熱部(散熱器)的形成工序的圖。
圖7:為示出散熱部(散熱器)的形成工序的圖。
圖8:為示出由散熱片面積(露出的散熱片的表面積)的增加所帶來的效果的圖。
圖9:為示出熱阻與散熱片節(jié)距/散熱片長度的依存性的圖表。
圖10:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的制造工序的流程的圖。
圖11:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的制造工序的剖面圖。
圖12:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的制造工序的剖面圖,并且是示出與圖11接續(xù)的制造工序的剖面圖。
圖13:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的制造工序的剖面圖,并且是示出與圖12接續(xù)的制造工序的剖面圖。
圖14:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的制造工序的剖面圖,并且是示出與圖13接續(xù)的制造工序的剖面圖。
圖15:為示出實(shí)施方式1的半導(dǎo)體器件的制造工序的剖面圖,并且是示出與圖14接續(xù)的制造工序的剖面圖。
圖16:為示出實(shí)施方式1的應(yīng)用例1的半導(dǎo)體器件的制造工序的剖面圖。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于瑞薩電子株式會(huì)社,未經(jīng)瑞薩電子株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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