[發(fā)明專利]一種基于LR-幾何插值的電磁成像超分辨方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710287069.0 | 申請日： | 2017-04-27 |
| 公開（公告）號： | CN107154019B | 公開（公告）日： | 2020-06-05 |
| 發(fā)明（設計）人： | 謝樹果;李雁雯;郝旭春;李圓圓 | 申請（專利權(quán)）人： | 北京航空航天大學 |
| 主分類號： | G06T3/40 | 分類號： | G06T3/40 |
| 代理公司： | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人： | 楊學明;顧煒 |
| 地址： | 100191*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 基于 lr 幾何 電磁 成像 分辨 方法 | ||
1.一種基于LR-幾何插值的電磁成像超分辨方法，其特征在于實現(xiàn)步驟如下：
步驟1，獲得未知輻射源的降質(zhì)圖像，估計輻射源的大致位置，在仿真軟件中建立相應的仿真模型，獲得點源的電磁分布圖像，即點擴展函數(shù)；
步驟2，對降質(zhì)圖像中的像素點每兩個進行幾何平均運算，將運算后的值賦予中間待插值像素點，從而將圖像總像素點數(shù)從N*M增加至(2N-1)*(2M-1)個，得到幾何平均插值的降質(zhì)圖像，M,N分別為圖像長邊和寬邊的像素點數(shù)；
步驟3，利用步驟1中得到的點擴展函數(shù)，對經(jīng)過幾何平均插值的降質(zhì)圖像使用LR迭代圖像恢復算法進行圖像恢復；
所述步驟1具體實現(xiàn)如下：根據(jù)獲得的降質(zhì)圖像，識別圖中所有信號峰值的位置，即圖像像素梯度為0的位置，根據(jù)公式估計輻射源在物面上的位置，其中D1，D2分別為成像面及輻射源物面到成像系統(tǒng)軸原點距離，d1x,d2x分別為成像面上信號峰值及物面輻射源x軸方向偏離成像系統(tǒng)軸線距離，d1y,d2y分別為成像面上信號峰值及物面輻射源y軸方向偏離成像系統(tǒng)軸線距離，根據(jù)估計得到的位置，利用仿真軟件FEKO建立相應的仿真模型，得到點擴散函數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于LR-幾何插值的電磁成像超分辨方法，其特征在于：所述步驟2具體實現(xiàn)如下：
a:對圖像x方向像素點兩兩進行相關運算，相關運算結(jié)果賦給中間插值點；
b:對圖像y方向像素點兩兩進行相關運算，相關運算結(jié)果賦給中間插值點；
c:根據(jù)幾何平均的計算方式，將有鏤空像素點的圖像補充完全，得到幾何插值后待恢復圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于LR-幾何插值的電磁成像超分辨方法，其特征在于：所述步驟3具體實現(xiàn)如下：
a：輸入待恢復降質(zhì)圖像I，輸入電磁成像系統(tǒng)點擴散函數(shù)PSF，輸入迭代次數(shù)NUMIT,初始化恢復圖像；
b：初始化恢復圖像J{1}＝I，如果點擴散函數(shù)PSF的采樣率高于降質(zhì)圖像I，則對點擴散函數(shù)進行進一步亞采樣，使點擴散函數(shù)圖像采樣率和輸入圖像I相同；
c：確定算法的迭代核為：
其中Jt+1為最新一次迭代得到的恢復圖像，Jt為前一次迭代得到的圖像，PSF為點擴散函數(shù),B＝Possion(J*PSF)為圖像降質(zhì)的泊松過程；
d：對輸入圖像使用步驟3中迭代核進行迭代，并對每次結(jié)果進行正則性檢驗；
e：根據(jù)輸入迭代次數(shù)停止迭代，輸出最新一次迭代得到的恢復圖像J。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航空航天大學，未經(jīng)北京航空航天大學許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710287069.0/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
