[發明專利]用于聲發射測試的方法和裝置

有效

• 申請號: 201710286991.8
• 申請日: 2017-04-27
• 公開（公告）號: CN107356669B
• 公開（公告）日: 2022-03-04
• 發明（設計）人: H·H·泰特;Y-J·吳;J·D·沙佛;M·J·馬修斯;A·高;V·P·保卡;R·李
• 申請（專利權）人: 波音公司
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04;G01N29/14
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 徐東升;趙蓉民

1.一種裝置，其包含：

聲感測系統(104、204)，其相對于目標(102、200)放置，其中所述聲感測系統(104、204)檢測聲發射(206)并且生成用于檢測到的所述聲發射(206)的聲波形數據(212)；和

分析器模塊(109、214)，其被實施在計算機系統中，所述分析器模塊(109、214)接收所述目標(102)的負荷數據(218)和所述聲波形數據(212)；產生用于所述負荷數據(218)的多個盒(224)；使用所述聲波形數據(212)生成用于所述多個盒(224)的多個頻率分布函數(228)，包括產生用于所述多個盒中的一個的頻率分布函數，并且針對所述多個盒中的每一個重復以產生所述多個頻率分布函數；并且將一組學習算法應用于所述多個頻率分布函數(228)和所述聲波形數據(212)，以生成允許操作者更容易和快速地評定所述目標(102、200)的結構完整性的輸出；其中生成所述多個頻率分布函數中的每個所述頻率分布函數包含將選定的頻率范圍劃分為多個盒，其中所述多個盒中的每個盒用于保持增加的計數。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述多個盒(224)具有多個盒寬(226)并且其中所述多個盒寬(226)中的盒寬是時間間隔或負荷間隔。

3.根據權利要求1所述的裝置，其中所述多個頻率分布函數(228)中的每個頻率分布函數(232)具有多個盒寬(226)，其中所述多個盒寬(226)中的每個盒寬是定義的頻率間隔。

4.根據權利要求1所述的裝置，其中所述多個頻率分布函數(228)中的每個頻率分布函數(232)包含多個頻率盒(235)，并且其中所述多個頻率盒(235)中的頻率盒包括落在該頻率盒內的多個頻率峰值的計數或使用所述聲波形數據(212)計算的該頻率盒處的能量的累積。

5.根據權利要求1所述的裝置，其中所述輸出識別所述多個頻率分布函數(228)的多個集簇(242)，并且其中所述多個集簇(242)包含：

表示結構變化的第一模式的第一集簇；

表示結構變化的第二模式的第二集簇；

表示結構變化的第三模式的第三集簇；以及

表示結構變化的第四模式的第四集簇。

6.根據權利要求1所述的裝置，其中所述分析器模塊(109、214)將所述一組學習算法應用到所述多個頻率分布函數(228)以建立多個集簇(242)并且識別用于所述多個集簇(242)的多個描述符(244)。

7.根據權利要求6所述的裝置，其中所述多個集簇(242)與替代測試數據(236)一起分析以便將所述多個描述符(244)中的每個描述符與結構變化的不同模式相關聯，并且其中所述替代測試數據選自X射線成像數據、超聲成像數據、紅外線成像數據以及建模數據中的一種。

8.根據權利要求7所述的裝置，其中所述分析器模塊(109、204)生成將結構變化的模式與所述多個描述符(244)中的所述每個描述符相關聯的描述符分類輸出(248)，并且其中所述描述符分類輸出(248)被存儲在數據庫(222)中，以便日后在零件的生命周期中的至少一個階段期間用于評估所述零件的結構完整性。