[發(fā)明專利]一種基于光彈調(diào)制的微小光旋角平衡差分檢測裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201710286735.9 | 申請日: | 2017-04-27 |
| 公開(公告)號: | CN107121195B | 公開(公告)日: | 2018-11-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 房建成;段利紅;全偉;姜麗偉;范文峰;劉峰 | 申請(專利權(quán))人: | 北京航空航天大學 |
| 主分類號: | G01J4/00 | 分類號: | G01J4/00;G01M11/02 |
| 代理公司: | 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251 | 代理人: | 楊學明;顧煒 |
| 地址: | 100191*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 調(diào)制 微小 光旋角 平衡 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種基于光彈調(diào)制的微小光旋角平衡差分檢測裝置,其特征在于:該裝置包括準直擴束的檢測激光源(1)、起偏器(2)、光彈調(diào)制器(3)、四分之一波片(4)、堿金屬氣室樣品(5)、二分之一波片(6)、沃拉斯頓檢偏器(7)、平衡差分光電探測器(8)、光彈控制器、數(shù)字鎖相放大器、信號加法器和信號采集及處理單元,數(shù)字鎖相放大器為雙通道數(shù)字鎖相放大器,包括第一鎖相放大器和第二鎖相放大器兩個通道,其中,沿所述的準直擴束的檢測激光源(1)出射的光束前進方向依次是起偏器(2)、光彈調(diào)制器(3)、四分之一波片(4)、待測堿金屬氣室樣品(5)、二分之一波片(6)、沃拉斯頓檢偏棱鏡(7)和平衡差分光電探測器(8),所述的光彈控制器通過串口與所述的光彈調(diào)制器(3)控制端相連,所述的光彈調(diào)制器(3)的第一輸出端通過BNC轉(zhuǎn)接頭接所述的數(shù)字鎖相放大器的參考信號輸入端,所述的平衡差分光電探測器(8)的正通道“+”及負通道“-”信號輸出端分別接所述的信號加法器兩路輸入端,所述的平衡差分光電探測器(8)的差分通道“RF”信號輸出端連接所述的數(shù)字鎖相放大器的信號輸入端,經(jīng)數(shù)字鎖相放大器解調(diào)的二次諧波信號輸出端通過BNC轉(zhuǎn)接線接信號采集與處理單元,信號加法器輸出的兩單通道信號的加和信號通過BNC接入信號采集與處理單元,信號采集與處理單元的數(shù)據(jù)采集程序用于采集數(shù)字鎖相放大器輸出的信號;
起偏器(2)透光軸沿x軸方向;光彈調(diào)制器(3)的振動方向與起偏器(2)呈45度夾角;四分之一波片(4)為單點波長的真零級器件,其快軸與起偏器(2)透振方向同軸;二分之一波片(6)的快軸方向與起偏器(2)透光軸呈45度夾角,沃拉斯頓檢偏器(7)的振動軸與起偏器(2)呈45度。
2.一種基于光彈調(diào)制的微小光旋角平衡差分檢測方法,利用權(quán)利要求1所述的基于光彈調(diào)制的微小光旋角平衡差分檢測裝置,其特征在于,該方法包括以下步驟:
①將待測的堿金屬氣室樣品(5)插入所述的四分之一波片(4)及二分之一波片(6)之間,注意入射光與樣品表面垂直且從其中心通過;
②所述的光彈控制器通過前面板設(shè)定光彈調(diào)制器(3)的峰值相位延遲量為0.09rad,所述的平衡差分光電探測器(8)分別記錄從沃拉斯頓檢偏器(7)出射的兩路單通道及一路差分通道的光束光強并轉(zhuǎn)化為電信號,其中正通道“+”及負通道“-”的輸出電信號分別接至所述的信號加法器的兩路輸入端,差分通道電信號輸出至所述的數(shù)字鎖相放大器的信號輸入端,所述的光彈控制器輸出端通過BNC連接線與數(shù)字鎖相放大器的參考信號輸入端相連,數(shù)字鎖相放大器的輸出信號包含一次諧波分量和二次諧波分量,其中數(shù)字鎖相放大器二次諧波輸出信號包含待測樣品信息并通過BNC連接線輸送至信號采集及處理單元;
③所述的信號采集及處理單元通過數(shù)據(jù)采集程序采集所述的信號加法器輸出信號VAdd可表示為:
VAdd=KIAdd=K(I++I-)
其中,K為系統(tǒng)參數(shù),IAdd為信號經(jīng)加法器輸出的兩單通道信號之和,I+為差分光電探測器正通道“+”輸出光強,I-為差分光電探測器負通道“-”輸出光強;
所述的信號采集及處理單元通過數(shù)據(jù)采集程序采集所述的鎖相放大器輸出信號的二次諧波分量V2f為:
V2f=I--I+=2KI0θJ2(αm)
其中,I0為起偏器后初始入射激光強度,θ為經(jīng)堿金屬氣室的線偏振光旋角,αm是光彈調(diào)制器的峰值延遲量,J2(αm)是第2階貝塞爾函數(shù);
將信號加法器得到的兩個單通道的加和信號和及鎖相放大器獲得的V2f進行下列計算:
得到待測堿金屬氣室(5)的光旋角信息θ。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京航空航天大學,未經(jīng)北京航空航天大學許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710286735.9/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 發(fā)射電路裝置
- 基帶調(diào)制方法、系統(tǒng)和線性調(diào)制裝置
- 用于使用低階調(diào)制器來實施高階調(diào)制方案的方法和裝置
- 調(diào)制電路和方法
- 載波調(diào)制方法、調(diào)制裝置及調(diào)制系統(tǒng)
- 大功率交流傳動系統(tǒng)的SVPWM同步調(diào)制過調(diào)制方法
- 調(diào)制符號間相位交錯BPSK調(diào)制方法
- 無線調(diào)制信號調(diào)制質(zhì)量參數(shù)校準設(shè)備
- 一種電機控制器的過調(diào)制方法及系統(tǒng)
- 在多調(diào)制支持通信系統(tǒng)中解調(diào)信息的方法





