[發明專利]一種自動檢測白玻表面缺陷的視覺檢測系統及檢測方法

在審

• 申請號: 201710284934.6
• 申請日: 2017-04-27
• 公開（公告）號: CN106990119A
• 公開（公告）日: 2017-07-28
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 中科慧遠視覺技術（洛陽）有限公司
• 主分類號: G01N21/958
• 分類號: G01N21/958
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種自動檢測白玻表面缺陷的視覺檢測系統，包括光源裝置、顯微視覺裝置、精密傳送裝置、控制上位機等四個子裝置，其中，光源裝置至少包括光源；顯微視覺系統至少包括相機和鏡頭；精密傳送裝置至少包括托輥傳送結構、電機驅動結構，其特征在于：檢測系統自上而下相機連接鏡頭，相機和鏡頭位于光源的垂直正上方，光源外具有一光源盒體，盒體上具有一光源縫隙允許相機采集光源盒體下方經過的白玻璃片的圖像，光源盒體下方裝配有托輥傳送結構，用于傳送白玻璃片，當白玻璃片通過托輥傳送至光源縫隙正對位置時，開始采集圖像，從白玻璃片一邊經過光源縫隙正下方時，便被相機逐行采集圖像，當整個白玻璃片通過后完成所有圖像采集。

2.如權利要求1所述的檢測系統，所述光源裝置還可以包括光源控制器和光源姿態校準裝置。

3.如權利要求1所述的檢測系統，所述顯微視覺系統還可以包括視覺姿態調整裝置。

4.如權利要求1所述的檢測系統，當白玻璃片通過托輥傳送至光源縫隙正對位置時，通過光電傳感器觸發，開始采集圖像。

5.如權利要求1所述的檢測系統，位于相機下方正對光源縫隙處有托輥間隙。

6.如權利要求1至5任一所述的檢測系統，所述相機為線陣相機，所述光源為多角度線光源。

7.一種用于上述任一權利要求中所述檢測系統的多角度線光源，包括兩組關于y軸對稱的LED芯片組和兩組關于y軸對稱的由一個或多個不同曲率半徑的離軸反光鏡單體組成的反光鏡，一個或多個不同曲率半徑的離軸反光鏡單體能夠將每個LED芯片發出的光線單獨聚焦到一個焦點，將與不同反光鏡單體距離相同的一個陣列的LED芯片發出的光線聚焦到相應每一個焦點形成線光。

8.一種采用權利要求1-6任一權利要求中所述檢測系統的白玻表面缺陷檢測方法，表面缺陷方法包括對表面劃傷缺陷和表面崩邊缺陷的檢測，具體如下：

對于白玻表面劃傷檢測，主要分為以下四個步驟：

步驟一：對采集的白玻表面圖像進行預處理。

步驟二：檢測出白玻表面的候選缺陷，計算缺陷的特征。

步驟三：根據計算得到的缺陷特征向量，對候選缺陷進行分類與識別，將劃痕、蹭傷、灰塵、纖維進行分類，并識別缺陷中的劃痕和蹭傷，以及非缺陷的灰塵和纖維；

步驟四：針對不同的缺陷采用不同的融合策略實現斷續缺陷的融合過程，從而有效的檢測出白玻表面的劃痕和蹭傷。

對白玻表面的崩邊缺陷，主要分為以下三個步驟：

步驟一：裁剪出白玻表面區域；

步驟二：采用定步長線掃描的方法對白玻的邊緣和寬度進行精確定位與測量；

步驟三：通過對邊緣寬度集合中出現連續的異常寬度進行判定，對崩邊進行定位與測量。

9.如上述權利要求1-6任一權利要求中所述的檢測系統能夠用于手機蓋板檢測以及手機白玻檢測。

10.如權利要求7中所述檢測系統的多角度線光源或如權利要求8所述的白玻表面缺陷檢測方法能夠用于手機蓋板檢測以及手機白玻檢測。