[發明專利]一種顯示器的色度學計算方法及色度計算方法

有效

• 申請號: 201710282031.4
• 申請日: 2017-04-26
• 公開（公告）號: CN106969906B
• 公開（公告）日: 2019-05-03
• 發明（設計）人: 查國偉
• 申請（專利權）人: 武漢華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種顯示器的色度學計算方法，其特征在于，所述顯示器包括量子點背光模組和設置于所述量子點背光模組的出光側的第一偏光片，其中，所述量子點背光模組包括導光板，設置于所述導光板出光側的量子點薄膜層，以及設置于所述導光板入光側的背光源；

所述方法包括：

提供一參考偏光片，其中，所述參考偏光片不同于所述第一偏光片；

通過所述參考偏光片和所述第一偏光片分別對所述量子點背光模組進行量測，以提取所述顯示器中由所述第一偏光片引起的修正頻譜；

對所述量子點背光模組進行量測，以得到所述量子點背光模組的量測頻譜；

根據所述量測頻譜以及所述修正頻譜獲得所述量子點背光模組的經修正的頻譜；以及

采用所述經修正的頻譜計算所述顯示器的色度、亮度和色域。

2.根據權利要求1中所述的方法，其特征在于，

所述通過所述參考偏光片和所述第一偏光片分別對所述量子點背光模組進行量測，以提取所述顯示器中由所述第一偏光片引起的修正頻譜包括：

將所述第一偏光片設置于所述量子點背光模組的出光側，并對所述量子點背光模組進行量測，以得到所述量子點背光模組的第一頻譜；

將所述參考偏光片設置于所述量子點背光模組的出光側，并對所述量子點背光模組進行量測，以得到所述量子點背光模組的第二頻譜；以及

根據所述第一頻譜和所述第二頻譜計算出所述修正頻譜；

其中，所述第一偏光片包含APCF與偏光子，且所述參考偏光片僅包含偏光子。

3.根據權利要求2中所述的方法，其特征在于，

所述修正頻譜的計算公式為：a＝b/c，其中，a表示所述修正頻譜，b表示所述第一頻譜，c表示所述第二頻譜。

4.根據權利要求1中所述的方法，其特征在于，

所述根據所述量測頻譜以及所述修正頻譜獲得所述量子點背光模組的經修正的頻譜，包括：

將所述量測頻譜與所述修正頻譜進行乘法運算，以得到所述經修正的頻譜。

5.根據權利要求1中所述的方法，其特征在于，

所述顯示器還包括液晶單元結構；

所述第一偏光片和所述參考偏光片分別與所述液晶單元結構的下偏吸收軸一致。

6.根據權利要求5中所述的方法，其特征在于，

所述采用所述經修正的頻譜計算所述顯示器的色度、亮度和色域，包括：

將所述經修正的頻譜分別與所述液晶單元結構中對紅色、綠色和藍色的穿透率頻譜進行乘法運算，以計算所述顯示器的色度、亮度和色域。

7.一種顯示器的色度計算方法，其特征在于，所述顯示器包括量子點背光模組和設置于所述量子點背光模組的出光側的第一偏光片，所述量子點背光模組包括導光板，設置于所述導光板一側的量子點薄膜層，以及設置于所述導光板遠離所述量子點薄膜層一側的背光源；

所述方法包括：

提供一液晶面板；

分別通過所述第一偏光片,以及通過所述第一偏光片和所述液晶面板對所述量子點背光模組進行量測，以獲取所述顯示器中的色坐標修正因子；以及

根據所述色坐標修正因子計算所述顯示器的經修正的色度坐標。

8.根據權利要求7中所述的方法，其特征在于，

所述分別通過所述第一偏光片,以及通過所述第一偏光片和所述液晶面板對所述量子點背光模組進行量測，以獲取所述顯示器中的色坐標修正因子，包括：

將所述第一偏光片設置于所述量子點背光模組的出光側，并對所述量子點背光模組進行量測，得到所述量子點背光模組的量測頻譜，以根據所述量測頻譜計算所述顯示器的色度的第一量測坐標；

同時將所述液晶面板設置于所述量子點背光模組的出光側，并對所述量子點背光模組進行量測，以得到所述顯示器的色度的第二量測坐標；以及

根據所述第一量測坐標和所述第二量測坐標計算出色坐標修正因子。

9.根據權利要求8中所述的方法，其特征在于，

所述色坐標修正因子的計算公式為：△Ru＝Ru’-Ru，其中，△Ru表示所述色坐標修正因子，Ru’表示所述第二量測坐標，Ru表示所述第一量測坐標。