[發(fā)明專利]光學(xué)量測(cè)裝置及其運(yùn)作方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201710281460.X
• 申請(qǐng)日: 2017-04-26
• 公開（公告）號(hào): CN107403220A
• 公開（公告）日: 2017-11-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 徐瑯;王威;劉承賢;施博真;施庭升;劉丞恩;周重羽;周忠誠(chéng)
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 明達(dá)醫(yī)學(xué)科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G06M1/272
• 分類號(hào): G06M1/272;G01D5/26
• 代理公司: 中國(guó)商標(biāo)專利事務(wù)所有限公司11234
• 代理人: 宋義興,張立晶

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是與光學(xué)量測(cè)有關(guān)，尤其是關(guān)于一種光學(xué)量測(cè)裝置及其運(yùn)作方法。

背景技術(shù)

傳統(tǒng)上，在生物實(shí)驗(yàn)中常會(huì)對(duì)生物樣品中的微生物體的數(shù)量進(jìn)行計(jì)數(shù)，例如：細(xì)菌、酵母菌及霉菌孢子的計(jì)數(shù)等。目前常見的微生物體的數(shù)量的計(jì)數(shù)方法相當(dāng)多元，例如：顯微鏡觀察計(jì)數(shù)法、電子計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)法、平板菌落計(jì)數(shù)法、濃度比濁法、測(cè)定細(xì)胞重量法、顏色改變單位法等等。

然而，在實(shí)際應(yīng)用中，上述各種現(xiàn)有的微生物體的數(shù)量的計(jì)數(shù)方法均有其各自的缺點(diǎn)以及應(yīng)用上的限制，均亟待進(jìn)一步克服與改善。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明提出一種光學(xué)量測(cè)裝置及其運(yùn)作方法，以克服上述現(xiàn)有技術(shù)所遭遇到的種種問題。

根據(jù)本發(fā)明的一較佳具體實(shí)施例為一種光學(xué)量測(cè)裝置。于此實(shí)施例中，光學(xué)量測(cè)裝置包含光源、載物芯片、光感測(cè)器及分析芯片。待測(cè)樣品是均勻化地分布于載物芯片上。光源發(fā)出感測(cè)光射向載物芯片。光感測(cè)器于多個(gè)時(shí)間點(diǎn)接收通過載物芯片的感測(cè)光，以得到分別對(duì)應(yīng)于多個(gè)時(shí)間點(diǎn)的多個(gè)影像。分析芯片耦接光感測(cè)器。分析芯片根據(jù)對(duì)應(yīng)于多個(gè)時(shí)間點(diǎn)的多個(gè)影像分析出待測(cè)樣品中的待測(cè)物的數(shù)量及分布隨時(shí)間的變化，并據(jù)以推估待測(cè)樣品中的待測(cè)物的本征特性。

于一實(shí)施例中，光學(xué)量測(cè)裝置進(jìn)一步包含顯示器。顯示器耦接分析芯片，用以顯示待測(cè)樣品中的待測(cè)物的本征特性。

于一實(shí)施例中，載物芯片包含上蓋、板體及基板。上蓋具有至少一注入孔，用以供待測(cè)物注入。板體設(shè)置于上蓋的下方，板體具有井區(qū)對(duì)應(yīng)于至少一注入孔，致使從至少一注入孔注入的待測(cè)物能均勻地分布于井區(qū)內(nèi)。基板設(shè)置于板體的下方，用以承載待測(cè)物。

于一實(shí)施例中，至少一注入孔具有導(dǎo)引角，用以導(dǎo)引待測(cè)物的注入。

于一實(shí)施例中，井區(qū)的面積大于注入孔的面積，且注入孔是對(duì)應(yīng)于井區(qū)內(nèi)的位置。

于一實(shí)施例中，光學(xué)量測(cè)裝置進(jìn)一步包含清潔單元。清潔單元是設(shè)置于載物芯片的下方，當(dāng)載物芯片移至光感測(cè)器的上方時(shí)，清潔單元接觸光感測(cè)器的表面以進(jìn)行清潔的動(dòng)作。

于一實(shí)施例中，光學(xué)量測(cè)裝置進(jìn)一步包含卡匣。卡匣設(shè)置于光感測(cè)器的上方并鄰近光感測(cè)器，用以容置載物芯片。

根據(jù)本發(fā)明的另一具體實(shí)施例為一種光學(xué)量測(cè)裝置運(yùn)作方法。于此實(shí)施例中，光學(xué)量測(cè)裝置運(yùn)作方法用以運(yùn)作一光學(xué)量測(cè)裝置。光學(xué)量測(cè)裝置包含一光源、一載物芯片、一光感測(cè)器及一分析芯片。分析芯片耦接光感測(cè)器。

光學(xué)量測(cè)裝置運(yùn)作方法包含下列步驟：將待測(cè)樣品均勻化地分布于載物芯片上；通過光源發(fā)出感測(cè)光射向載物芯片；通過光感測(cè)器于多個(gè)時(shí)間點(diǎn)接收通過載物芯片的感測(cè)光，以得到分別對(duì)應(yīng)于該多個(gè)時(shí)間點(diǎn)的多個(gè)影像；以及通過分析芯片根據(jù)對(duì)應(yīng)于該多個(gè)時(shí)間點(diǎn)的該多個(gè)影像分析出待測(cè)樣品中的待測(cè)物的數(shù)量及分布隨時(shí)間的變化，并據(jù)以推估待測(cè)樣品中的待測(cè)物的本征特性。

于一實(shí)施例中，該光學(xué)量測(cè)裝置進(jìn)一步包含一顯示器，該顯示器耦接該分析芯片，用以顯示該待測(cè)樣品中的該待測(cè)物的該本征特性。

于一實(shí)施例中，該載物芯片包含一上蓋、一板體及一基板，該上蓋具有至少一注入孔，用以供該待測(cè)物注入；該板體設(shè)置于該上蓋的下方，該板體具有一井區(qū)對(duì)應(yīng)于該至少一注入孔，致使從該至少一注入孔注入的該待測(cè)物能均勻地分布于該井區(qū)內(nèi)；該基板設(shè)置于該板體的下方，用以承載該待測(cè)物。

于一實(shí)施例中，該至少一注入孔具有一導(dǎo)引角，用以導(dǎo)引該待測(cè)物的注入。

于一實(shí)施例中，該井區(qū)的面積大于該注入孔的面積，且該注入孔是對(duì)應(yīng)于該井區(qū)內(nèi)的位置。

于一實(shí)施例中，該光學(xué)量測(cè)裝置進(jìn)一步包含一清潔單元，該清潔單元是設(shè)置于該載物芯片的下方，當(dāng)該載物芯片移至該光感測(cè)器的上方時(shí)，該清潔單元接觸該光感測(cè)器的表面以進(jìn)行清潔的動(dòng)作。

于一實(shí)施例中，該光學(xué)量測(cè)裝置進(jìn)一步包含一卡匣，設(shè)置于該光感測(cè)器的上方并鄰近該光感測(cè)器，用以容置該載物芯片。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)量測(cè)裝置及其運(yùn)作方法可有效改善現(xiàn)有技術(shù)中的光學(xué)量測(cè)儀的缺點(diǎn)，不僅可準(zhǔn)確計(jì)數(shù)出樣品中的待測(cè)物的數(shù)量，并可據(jù)以推估待測(cè)樣品中的待測(cè)物的本征特性，其應(yīng)用范圍相當(dāng)廣泛，可應(yīng)用于各種微生物體甚至是環(huán)境的檢測(cè)。

關(guān)于本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以通過以下的發(fā)明詳述及附圖得到進(jìn)一步的了解。

附圖說明

圖1為根據(jù)本發(fā)明的一較佳具體實(shí)施例中的光學(xué)量測(cè)裝置的功能方塊圖。

圖2為于第一時(shí)間點(diǎn)、第二時(shí)間點(diǎn)及第三時(shí)間點(diǎn)分別得到的第一待測(cè)樣品SP1的第一影像2A、第二影像2B及第三影像2C的示意圖。