[發明專利]激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統在審
| 申請號: | 201710280576.1 | 申請日: | 2017-04-26 |
| 公開(公告)號: | CN106996962A | 公開(公告)日: | 2017-08-01 |
| 發明(設計)人: | 何寧;駱湘紅;廖欣;趙中華 | 申請(專利權)人: | 桂林電子科技大學 |
| 主分類號: | G01N29/11 | 分類號: | G01N29/11;G01N21/17 |
| 代理公司: | 桂林市華杰專利商標事務所有限責任公司45112 | 代理人: | 周雯 |
| 地址: | 541004 廣西*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 激光 注入 光纖 相干 探測 超聲 無損 檢測 系統 | ||
1.一種激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統, 包括:
YAG脈沖激光器:可發出脈沖光并作用于被檢測金屬工件表面,產生在工件內部及表面傳輸的激光超聲信號;
光學系統:為光學透鏡,可用于調整發射脈沖激光到達被測工件表面的光斑直徑大小,以便獲得不同的光聲轉換效率;
單頻激光器:作為探測光源,能產生連續的激光光束;
分光棱鏡:可根據設定的分光比例將單頻激光分成信號光和參考光;
光纖注入器:為光學透鏡組,可將一定位置范圍變化的mm等級的反射激光注入到芯徑確定的um等級的光纖中;
平衡探測器:對來自于光纖耦合器相干后的信號進行混頻及光電轉換成超聲信號;
數據采集裝置:對來自于平衡探測器的超聲信號檢測與轉換處理并送上位機進行監測分析;
上位機:對來自于數據采集裝置的超聲信號監測分析和處理;
其特征在于:還包括光纖耦合器,所述光纖耦合器為保偏光纖耦合器,對來自光纖注入器的信號光與參考光進行混合相干后送平衡探測器進行檢測。
2.如權利要求1所述的激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統,其特征在于:所述的YAG脈沖激光器波長為1064nm。
3.如權利要求1所述的激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統,其特征在于:所述光學系統為與所述YAG脈沖激光器波長匹配的光學透鏡。
4.如權利要求1所述的激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統,其特征在于:所述的單頻激光器波長為532nm。
5.如權利要求1所述的激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統,其特征在于:所述的光纖注入器為寬口徑光學透鏡組。
6.如權利要求1所述的激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統,其特征在于:所述的光纖耦合器為2*2保偏光纖耦合器。
7.如權利要求1所述的激光注入光纖與相干探測的激光超聲無損檢測系統,其特征在于:所述平衡探測器具有雙光輸入端端口。
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