[發明專利]無基材雙面粘合片

在審

• 申請號: 201710275020.3
• 申請日: 2017-04-25
• 公開（公告）號: CN107345117A
• 公開（公告）日: 2017-11-14
• 發明（設計）人: 黑川敦史;遠藤優季
• 申請（專利權）人: 琳得科株式會社
• 主分類號: C09J7/00
• 分類號: C09J7/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所11105
• 代理人: 王利波

技術領域

本發明涉及無基材雙面粘合片。

背景技術

目前，已知有各種對物體之間進行面粘接的粘合片，作為粘合片的一種，已知有無基材雙面粘合片。無基材雙面粘合片是在粘合劑層的兩面疊層剝離力相對低的輕剝離片和剝離力相對高的重剝離片而構成的。對于無基材雙面粘合片而言，首先，剝離輕剝離片，露出的粘合劑層的一個面粘接于物體面，在該粘接后，再剝離重剝離片，露出的粘合劑層的另一個面粘接于不同的物體面，由此對物體之間進行面粘接。

例如，專利文獻1中公開了一種無基材雙面粘合片所使用的脫模膜，所述無基材雙面粘合片用于將具有硬涂層的保護膜貼合于面板基材。該脫模膜形成了取向角為12度以下、且在厚度50～150μm的聚酯膜基材的一面具有脫模層的結構。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本特開2015-199265號公報

發明內容

發明所要解決的課題

作為無基材雙面粘合片的用途，有偏振膜(偏振片)、相位差膜等光學膜的貼合。在將粘合劑貼合于偏振片等光學膜的情況下，在粘合劑中存在微小的異物、損傷等缺陷時，該缺陷在顯示器中成為可辨識的亮點而表現出來。

因此，在光學膜領域中，缺陷的檢查標準嚴格，提高檢查的精度變得重要。對于無基材雙面粘合片而言，也要求同樣的檢查標準及提高檢查精度。

例如，作為偏振片中的缺陷檢查，通常利用正交尼科耳棱鏡法(crossed Nicol)增強缺陷來進行檢查。正交尼科耳棱鏡法是如下方法：將2個偏振片疊合，使得其取向主軸正交，成為消光狀態，此時，如果存在缺陷，則在該處形成亮點而表現出來，因此，即使比其微小的缺陷也可以檢查出來。

本發明是鑒于這樣的實際情況而完成的，其目的在于提供一種基于正交尼科耳棱鏡法的產品檢查性優異的無基材雙面粘合片。

用于解決課題的方法

本發明人等為了解決上述課題而進行了深入研究，結果發現，通過將第一雙向拉伸聚酯膜的厚度和第二雙向拉伸聚酯膜的厚度設為特定的范圍、且將取向主軸的斜度設為特定的范圍，可解決上述課題。

本發明是基于上述見解而完成的。

即，本發明提供以下的[1]～[6]。

[1]一種無基材雙面粘合片，其具有第一剝離膜、設置于所述第一剝離膜上的粘合劑層、以及設置于所述粘合劑層上的第二剝離膜，其中，所述第一剝離膜具有第一雙向拉伸聚酯膜和第一剝離層，所述第一剝離層設置于所述第一雙向拉伸聚酯膜的所述粘合劑層側，所述第二剝離膜具有第二雙向拉伸聚酯膜和第二剝離層，所述第二剝離層設置于所述第二雙向拉伸聚酯膜的所述粘合劑層側，所述第一雙向拉伸聚酯膜的厚度和所述第二雙向拉伸聚酯膜的厚度均為19～50μm，所述無基材雙面粘合片的取向主軸的斜度為-12度以上且12度以下。

[2]如上述[1]所述的無基材雙面粘合片，其中，所述粘合劑層的厚度為1～250μm。

[3]如上述[1]或[2]所述的無基材雙面粘合片，其中，所述第一雙向拉伸聚酯膜和所述第二雙向拉伸聚酯膜均為聚對苯二甲酸乙二醇酯膜。

[4]如上述[1]～[3]中任一項所述的無基材雙面粘合片，其中，所述第一剝離層及所述第二剝離層均是由硅樹脂形成的層。

[5]如上述[1]～[4]中任一項所述的無基材雙面粘合片，其霧度值為25％以下。

[6]如上述[1]～[5]中任一項所述的無基材雙面粘合片，其中，所述第一剝離膜與所述第二剝離膜的剝離力差為5mN/25mm以上。

發明效果

根據本發明，可以提供基于正交尼科耳棱鏡法的產品檢查性優異的無基材雙面粘合片。

附圖說明

圖1是示出本發明的無基材雙面粘合片的一個實施方式的剖面圖。

符號說明

10 無基材雙面粘合片

11 第一剝離膜

12 第二剝離膜

1粘合劑層

2第一雙向拉伸聚酯膜

3第一剝離層

4第二雙向拉伸聚酯膜

5第二剝離層

具體實施方式

[無基材雙面粘合片]