[發明專利]一種大型金屬密封圈檢測裝置

有效

• 申請號: 201710273807.6
• 申請日: 2017-04-24
• 公開（公告）號: CN106931863B
• 公開（公告）日: 2022-11-11
• 發明（設計）人: 趙夏明;陳顏貞;錢叢;莫曉倩
• 申請（專利權）人: 浙江機電職業技術學院
• 主分類號: G01B5/20
• 分類號: G01B5/20;G01B5/28
• 代理公司: 杭州凱知專利代理事務所(普通合伙) 33267
• 代理人: 馬思恒

本發明涉及檢測裝置技術領域，公開了一種大型金屬密封圈檢測裝置，包括底板，底板上設有與底板垂直的基板，基板的外側面設有兩個支撐輪，基板上位于兩個支撐輪之間的部位設有豎直的貫穿基板的滑槽，滑槽內設有滑塊，滑塊的外端設有夾緊輪，夾緊輪通過轉軸與滑塊轉動連接，滑塊的下端設有電機座，電機座上設有電機，電機的軸端與轉軸連接，基板的內側面設有基座，基座內設有滑桿，滑桿與基座滑動連接，滑桿的下端與滑塊固定連接，滑桿的上端設有橫桿，橫桿的外端設有千分表頭，滑桿上位于滑塊與基座之間的部位設有復位彈簧，底板上位于電機座的正下方設有電缸，電缸的軸端設有支撐板。本發明具有檢測效率高、檢測精度高的有益效果。

技術領域

本發明涉及檢測裝置技術領域，尤其涉及一種大型金屬密封圈檢測裝置。

背景技術

金屬密封圈呈環狀，用于管路器件之間的密封，金屬密封圈使用環境溫度范圍廣，通常在-250℃～+1200℃的環境溫度范圍內能保持密封，而且能夠在惡劣的介質中使用，耐腐蝕性能強，這些性能都是橡膠密封圈無法實現的。金屬密封圈又分為實心金屬密封圈、空心金屬密封圈、充壓型金屬密封圈，由于金屬密封圈的形變能力較差，因此無論哪種金屬密封圈，其內圈外圈的圓度、表面光滑度的要求遠高于橡膠密封圈的要求，因此必須要對金屬密封圈進行嚴格檢測，才能出廠使用。目前通常都是通過游標卡尺測量金屬密封圈不同部位的外徑、內徑以判斷其圓度是否符合要求，通過人工目測其表面的光滑度，這種檢測方存在較大的誤差，檢測精度低，需要測量很多組數據、測量效率低。尤其是對于直徑較大的大型金屬密封圈，通過游標卡尺很難找準直徑，測量誤差非常大。

發明內容

本發明為了解決現有技術中的上述問題，提供了一種檢測精度高、檢測效率高的大型金屬密封圈檢測裝置。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種大型金屬密封圈檢測裝置，包括底板，所述的底板上設有與底板垂直的基板，所述基板的外側面設有兩個支撐輪，支撐輪與基板轉動連接，所述基板上位于兩個支撐輪之間的部位設有豎直的貫穿基板的滑槽，所述的滑槽內設有滑塊，所述滑塊的外端設有夾緊輪，所述的夾緊輪通過轉軸與滑塊轉動連接，所述滑塊的下端設有電機座，所述的電機座上設有電機，電機的軸端與轉軸連接，所述基板的內側面設有基座，所述的基座內設有滑桿，所述滑桿與基座滑動連接，所述滑桿的下端與滑塊固定連接，所述滑桿的上端設有橫桿，所述橫桿的外端設有千分表頭，所述的滑桿上位于滑塊與基座之間的部位設有復位彈簧，所述的底板上位于電機座的正下方設有電缸，電缸的軸端設有支撐板。

電缸的軸端伸出推動滑塊向上移動，夾緊輪、千分表頭同步提升，人工或者通過機械手將金屬密封圈卡入支撐輪與夾緊輪之間的部位，電缸軸端向下移動，滑塊、滑桿、夾緊輪、千分表頭同步下移，金屬密封圈的外圈與支撐輪接觸，金屬密封圈的內圈被夾緊輪夾緊，千分表頭的頭部與金屬密封圈的外表面彈性接觸，電機轉動帶動夾緊輪轉動，夾緊輪轉動帶動金屬密封圈轉動，通過觀察千分表頭的數值就能準確的判斷金屬密封圈外表面的圓度，如果金屬密封圈的外圈表面有凸起、凹坑等缺陷，也能從千分表頭的度數顯示出來；該種裝置對金屬密封圈定位準確方便，檢測效率高，檢測精度高。

作為優選，所述基板的內側面上端設有導向座，所述導向座內設有導向桿，所述導向桿的下端通過螺套與滑桿連接，所述的螺套與滑桿轉動連接，所述的螺套與導向桿之間螺紋連接，所述螺套的上端、下端均設有限位螺栓。由于金屬密封圈的型號很多，金屬密封圈的直徑存在差異，可以通過螺套來調節千分表頭的高度，從而適用于不同型號的金屬密封圈檢測，通用性強。

作為優選，所述基板的頂部設有滑孔，所述的滑孔內設有滑動座，所述滑動座的上端設有橫桿限位槽，所述橫桿限位槽的底面呈V形，所述滑動座的下端面與滑孔的底部之間設有彈簧，所述的橫桿與導向桿的上端之間轉動連接。導向桿與螺套在調節過程中會導致千分表頭水平方向的位置發生偏移，本結構中，橫桿與導向桿轉動連接，千分表頭豎直方向的位置通過導向桿限定，橫桿水平方向的位置通過橫桿限位槽限定，從而確保千分表頭的位置一致。