[發明專利]一種產品檢測用的裝置

在審

• 申請號: 201710272957.5
• 申請日: 2017-04-25
• 公開（公告）號: CN106865204A
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發明（設計）人: 不公告發明人
• 申請（專利權）人: 全南縣智護力工業產品設計有限公司
• 主分類號: B65G47/88
• 分類號: B65G47/88;B65G47/82
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種產品檢測用的裝置。

背景技術

機械是簡單的裝置，它能夠將能量、力從一個地方傳遞到另一個地方。它能改變物體的形狀結構創造出新的物件。在生活中，我們周圍有數不清的不同種類的機械在為我們工作。機械加工是指通過一種機械設備對工件的外形尺寸或性能進行改變的過程。機器的生產過程是指從原材料（或半成品）制成產品的全部過程。對機器生產而言包括原材料的運輸和保存，生產的準備，毛坯的制造，零件的加工和熱處理，產品的裝配、及調試，油漆和包裝等內容。

在機械零件的生產過程中由于各方面的因素，組合拼裝后的機械配件可能存在各種各樣的缺陷，例如表面凹凸不平，質量差，強度低，易磨損等，就可將這些存在缺陷的機械配件成品定為不合格產品，若不合格產品混入實際生產中，必將帶來無法估量的危害，現有技術中主要采用機械手抓取不合格機械配件產品，但有時機械手抓取機械配件不穩定，機械配件容易掉落，而整個輸送裝置是在持續性地運作，機械手在抓取不合格機械配件的過程中，容易把合格產品也一起抓取，造成成品質量混淆不清，影響生產效率，且配置機械手的裝置結構復雜，運行成本較高，經濟效益低下。

發明內容

本發明目的在于解決現有技術中存在的上述技術問題，提供一種產品檢測用的裝置，將傳送機構上檢測出來的不合格機械配件產品逐一排出，快速完成對不合格機械配件的排出工作，自動高效，降低了機械配件成品中不合格產品的比重，從而提高機械配件的組裝質量，提高了機械配件的生產效率，降低了成本。

為了解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案：

一種產品檢測用的裝置，其特征在于：包括安裝基臺和支撐基架，支撐基架設于安裝基臺上，安裝基臺上設有傳送機構，傳送機構上設有阻擋機構，支撐基架上設有排出驅動機構，排出驅動機構連接有折疊機構，折疊機構包括第一卡塊、第一連接桿、第二連接桿和第二卡塊，第一卡塊轉動連接兩根第一連接桿，第一連接桿轉動連接第二連接桿，第二卡塊轉動連接第二連接桿，折疊機構固定連接有L型推桿，支撐基架上設有支撐平臺，支撐平臺上設有彈簧基座，彈簧基座上設有連接平臺，連接平臺上設有避讓機構，連接平臺上設有擋板，擋板與避讓機構分別位于傳送機構的兩側，L型推桿與避讓機構位于同一側；該排出裝置能快速完成對不合格機械配件的排出工作，自動高效，降低了機械配件成品中不合格產品的比重，從而提高機械配件的組裝質量，提高了機械配件的生產效率，降低了成本。

進一步，阻擋機構包括轉動擋桿、聯動桿和阻擋氣缸組件，聯動桿連接阻擋氣缸組件和轉動擋桿，傳送機構上設有固定座，固定座轉動連接轉動擋桿，傳送機構上設有支撐塊，支撐塊固定阻擋氣缸組件，阻擋氣缸組件工作，通過聯動桿帶動轉動擋桿運動，由于轉動擋桿被聯動桿牽制，將被動運動轉化為旋轉運動，轉動擋桿轉動在固定座上，實現阻擋機構對機械配件的阻截和放行效果。

進一步，阻擋氣缸組件包括阻擋氣缸和活塞推桿，活塞推桿設于阻擋氣缸上，聯動桿連接活塞推桿和轉動擋桿，阻擋氣缸的尾部設有第一U型塊，支撐塊上設有第二U型塊，第二U型塊固定連接第一U型塊，阻擋氣缸工作帶動活塞推桿做伸縮直線運動，通過聯動桿帶動轉動擋桿做旋轉運動，且對阻擋氣缸的尾部進行固定，提高了阻擋氣缸工作時的穩定性，降低了阻擋氣缸產生的反作用力影響。

本發明由于采用了上述技術方案，具有以下有益效果：

本發明在對機械配件進行排出工作時，需要質量檢測裝置配合使用，機械配件輸送在傳送機構上，當質量檢測裝置檢測到機械配件存在缺陷時，就將該機械配件定為不合格產品，立刻發送信號給控制系統，控制系統控制阻擋氣缸執行動作，阻擋氣缸伸出，帶動活塞推桿向下推動，聯動桿連接活塞推桿和轉動擋桿，通過聯動桿帶動轉動擋桿運動，由于轉動擋桿被聯動桿牽制，將被動運動轉化為旋轉運動，轉動擋桿轉動在固定座上，轉動擋桿橫向攔截在傳動機構上，實現阻擋機構對機械配件的阻截作用，然后排出驅動機構伸出，排出驅動機構連接有折疊機構，帶動折疊機構推出，折疊機構固定連接有L型推桿，支撐基架上設有支撐平臺，支撐平臺上設有彈簧基座，彈簧基座上設有連接平臺，連接平臺上設有避讓機構，L型推桿的底面上設有弧形導向面，弧形導向面與避讓機構相對應，提高了機械配件的生產效率，降低了成本，同時本發明結構簡單，實用性強，制造成本低，經濟效益顯著。

附圖說明

下面結合附圖對本發明作進一步說明：

圖1為本發明一種產品檢測用的裝置的結構示意圖；

圖2為圖1中A向的結構示意圖；

圖3為圖1中B向的結構示意圖；