[發明專利]一種地磁傳感器校準裝置、方法及移動終端

有效

• 申請號: 201710266217.0
• 申請日: 2017-04-21
• 公開（公告）號: CN107065035B
• 公開（公告）日: 2019-02-15
• 發明（設計）人: 劉旭東;代祥
• 申請（專利權）人: 維沃移動通信有限公司
• 主分類號: G01V13/00
• 分類號: G01V13/00
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 許靜;黃燦

1.一種地磁傳感器校準裝置，其特征在于，包括：地磁傳感器和旋轉控制裝置；

其中，所述地磁傳感器與所述旋轉控制裝置連接，當所述旋轉控制裝置轉動時，所述地磁傳感器在所述旋轉控制裝置的控制下進行旋轉；

所述旋轉控制裝置包括第一支架、轉軸和第二支架，所述地磁傳感器包括地磁傳感器芯片；

所述第一支架通過所述轉軸與所述第二支架的第一端轉動連接；所述地磁傳感器芯片設置在所述第二支架的第二端；當所述第一支架轉動時，所述地磁傳感器芯片以所述轉軸為中心、以所述第二支架的長度為半徑，進行球面旋轉。

2.根據權利要求1所述的校準裝置，其特征在于，所述校準裝置位于移動終端中，所述第一支架的第一端設置在所述移動終端的主板上，所述第一支架的第二端通過所述轉軸與所述第二支架的第一端轉動連接。

3.根據權利要求2所述的校準裝置，其特征在于，所述旋轉控制裝置還包括轉臺，所述轉臺設置在所述移動終端的主板上；

所述第一支架的第一端設置在所述轉臺上，所述第一支架垂直于所述轉臺所在的平面；

當所述轉臺轉動時，所述第一支架轉動，所述地磁傳感器芯片以所述轉軸為中心、以所述第二支架的長度為半徑，進行球面旋轉。

4.根據權利要求3所述的校準裝置，其特征在于，所述第一支架的長度大于所述第二支架的長度。

5.根據權利要求4所述的校準裝置，其特征在于，所述第一支架的側部設有通孔，所述地磁傳感器芯片繞所述轉軸旋轉時，所述第二支架和所述地磁傳感器芯片穿過所述通孔。

6.根據權利要求3所述的校準裝置，其特征在于，所述校準裝置還包括底座，所述轉臺通過所述底座設置于所述主板上。

7.一種移動終端，其特征在于，包括如權利要求1至6中任一項所述的校準裝置，所述校準裝置設置在所述移動終端的主板上。

8.一種地磁傳感器校準方法，應用于如權利要求7所述的移動終端，其特征在于，所述方法包括：

檢測所述移動終端中的地磁傳感器的精度；

判斷所述地磁傳感器的精度是否小于預設精度；

若所述地磁傳感器的精度小于所述預設精度，則控制所述地磁傳感器進行旋轉。

9.根據權利要求8所述的方法，其特征在于，在所述控制所述地磁傳感器進行旋轉的步驟之后，所述方法還包括：

檢測校準后的所述地磁傳感器的精度；

判斷校準后的所述地磁傳感器的精度是否大于或者等于所述預設精度；

若校準后的所述地磁傳感器的精度大于或者等于所述預設精度，則控制所述地磁傳感器停止旋轉。

10.根據權利要求9所述的方法，其特征在于，在所述判斷校準后的所述地磁傳感器的精度是否大于或者等于所述預設精度的步驟之后，所述方法還包括：

若校準后的所述地磁傳感器的精度小于所述預設精度，則繼續控制所述地磁傳感器進行旋轉。

11.一種移動終端，其特征在于，包括如權利要求1至6中任一項所述的校準裝置，所述移動終端包括：

第一檢測模塊，用于檢測所述移動終端中的地磁傳感器的精度；

第一判斷模塊，用于判斷所述第一檢測模塊檢測到的所述地磁傳感器的精度是否小于預設精度；

第一旋轉模塊，用于若所述第一判斷模塊判斷所述地磁傳感器的精度小于所述預設精度，則控制所述地磁傳感器進行旋轉。

12.根據權利要求11所述的移動終端，其特征在于，所述移動終端還包括：

第二檢測模塊，用于檢測校準后的所述地磁傳感器的精度；

第二判斷模塊，用于判斷所述第二檢測模塊檢測到的校準后的所述地磁傳感器的精度是否大于或者等于所述預設精度；

停止模塊，用于若所述第二判斷模塊判斷校準后的所述地磁傳感器的精度大于或者等于所述預設精度，則控制所述地磁傳感器停止旋轉。

13.根據權利要求12所述的移動終端，其特征在于，所述移動終端還包括：

第二旋轉模塊，用于若所述第二判斷模塊判斷校準后的所述地磁傳感器的精度小于所述預設精度，則繼續控制所述地磁傳感器進行旋轉。