[發(fā)明專利]無(wú)紡布污點(diǎn)檢測(cè)系統(tǒng)、無(wú)紡布污點(diǎn)檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710266165.7 | 申請(qǐng)日： | 2017-04-21 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN106959301B | 公開(kāi)（公告）日： | 2023-06-20 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 鄒逸 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 無(wú)錫賽默斐視科技有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N21/94 | 分類號(hào)： | G01N21/94 |
| 代理公司： | 無(wú)錫華源專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32228 | 代理人： | 聶啟新 |
| 地址： | 214000 江蘇省無(wú)錫市新區(qū)菱*** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 無(wú)紡布 污點(diǎn) 檢測(cè) 系統(tǒng) 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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- 專利分類
G01 測(cè)量；測(cè)試
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段，即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā)，因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng)，測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
