[發明專利]基于并行交叉相位調制效應的全光比較器

有效

• 申請號: 201710264095.1
• 申請日: 2017-04-21
• 公開（公告）號: CN107037662B
• 公開（公告）日: 2019-11-05
• 發明（設計）人: 李璞;王云才;桑魯驍;張建國;劉香蓮;郭龑強;郭曉敏
• 申請（專利權）人: 太原理工大學
• 主分類號: G02F3/00
• 分類號: G02F3/00
• 代理公司: 太原倍智知識產權代理事務所(普通合伙) 14111
• 代理人: 戎文華

1.一種基于并行交叉相位調制效應的全光比較器，包括待比較脈沖作為控制信號從A端輸入經環外偏振控制器（1）進入波分復用器（3），經高非線性光纖陣列（4）、光衰減器陣列（5）、延遲光纖陣列（6）和環內偏振控制器（7）進入3-dB光纖耦合器（8），輸出進入A信號帶通濾波器（9）被濾除，連續光作為探測信號從B端輸入經光環行器（2）輸入到3-dB耦合器（8）分為兩路，一路順時針經高非線性光纖陣列（4）、光衰減器陣列（5）、延遲光纖陣列（6）和環內偏振控制器（7）傳播一周；另一路逆時針經環內偏振控制器（7）、延遲光纖陣列（6）、光衰減器陣列（5）和高非線性光纖陣列（4）傳播一周；在3-dB耦合器（8）處發生干涉，干涉輸出信號經過A信號帶通濾波器（9）濾出，構成薩格奈克干涉環；輸出信號進入光衰減器（10）完成全光比較；其特征在于：

所述高非線性光纖陣列（4）是由8段根據傅里葉級數展開規律的高非線性光纖并聯設置構成；所述高非線性光纖陣列（4）的長度比是1：3：5：……：15；所述高非線性光纖陣列（4）的非線性系數是10W^-1Km^-1。

2.如權利要求1所述的基于并行交叉相位 調制效應的全光比較器，其特征在于：所述高非線性光纖陣列（4）中各段的長度比是1∶3∶5，以此類推。

3.如權利要求1所述的基于并行交叉相位 調制效應的全光比較器，其特征在于：所述薩格奈克干涉環的控制信號功率是探測信號功率的10倍以上。

4.如權利要求1所述的基于并行交叉相位 調制效應的全光比較器，其特征在于：所述薩格奈克干涉環的控制信號與探測信號的波長不相同。