[發(fā)明專利]一種鍵盤檢測設(shè)備

在審

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• 申請日: 2017-04-20
• 公開（公告）號: CN106970320A
• 公開（公告）日: 2017-07-21
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 華敘國;王振亭
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州達(dá)方電子有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子元件檢測設(shè)備領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測鍵盤按鍵的新型鍵盤檢測設(shè)備。

背景技術(shù)

鍵盤是最常用也是計算機系統(tǒng)中最主要的輸入設(shè)備，通過敲打鍵盤上的按鍵使觸電導(dǎo)通斷電，從而將字母、數(shù)字、標(biāo)點符號等輸入到計算機中。目前，鍵盤生產(chǎn)中，對成品進行質(zhì)量檢測時，需要對每一個按鍵進行擊打，測試其回彈和觸點的通斷，擊打時力度要適中，行程要一致，施力和撤力要在瞬間完成。

現(xiàn)有鍵盤測試設(shè)備，通過電磁閥的通斷，來控制一顆砝碼，通過將砝碼擊打到第一按鍵上來測試信號，判斷第一按鍵與鍵盤的電路板的電路開關(guān)是否對應(yīng)導(dǎo)通，其檢測功能比較單一，只能測試按鍵的開/關(guān)功能。

因此，有必要設(shè)計一種新的鍵盤檢測設(shè)備，以克服上述缺陷。

需要說明的是，“背景技術(shù)”段落只是用來幫助了解本發(fā)明內(nèi)容，因此在“背景技術(shù)”段落所揭露的內(nèi)容可能包含一些沒有構(gòu)成所屬技術(shù)領(lǐng)域中普通技術(shù)人員所知道的公知技術(shù)。在“背景技術(shù)”段落所揭露的內(nèi)容，不代表該內(nèi)容或者本發(fā)明一個或多個實施例所要解決的問題，也不代表在本發(fā)明申請前已被所屬技術(shù)領(lǐng)域中普通技術(shù)人員所知曉或認(rèn)知。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種鍵盤檢測設(shè)備，可對同一按鍵進行至少兩種項目的測試。

為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供了一種鍵盤檢測設(shè)備，用于測試鍵盤的第一按鍵，該鍵盤檢測設(shè)備包括，

控制裝置；

驅(qū)動裝置；

第一測試部，與該控制裝置連接，藉由該控制裝置的控制實現(xiàn)移動，以第一力擊打該第一按鍵；

第二測試部，與該驅(qū)動裝置連接，藉由該驅(qū)動裝置實現(xiàn)移動，以第二力擊打該第一按鍵，該第二測試部具有通孔，該第一測試部穿設(shè)該通孔，且該第二測試部和該第一測試部可相對移動；

其中，該第一力的大小不等于該第二力的大小，該第一測試部和該第二測試部可分別擊打該第一按鍵以檢測該第一按鍵的不同參數(shù)，且當(dāng)該第一測試部進行測試時，該第一測試部于該第二測試部內(nèi)自由移動。

較佳的，該第一力的大小大于該第二力的大小。

較佳的，該第一測試部的重量大于該第二測試部的重量從而使該第一力大于該第二力。

較佳的，該第一測試部包括相連的第一部和第二部，該第一部和該第二部沿該第一方向分布，該第二部穿設(shè)于該通孔內(nèi)，該第一測試部還包括沿該第一方向的相對的第一端和第二端，該第一端位于該第一部，該第一端與該控制裝置連接，該第二端位于該第二部上，該第二端用于擊打該第一按鍵，該第一部和該第二測試部之間具有間距，以提供該第一測試部相對該第二測試部移動以擊打該第一按鍵的空間，其中，該第一方向為該第一測試部移動擊打該第一按鍵的方向，該第二方向垂直于該第一方向。

較佳的，該第二測試部沿該第一方向具有相對的第三端和第四端，該第三端與該驅(qū)動裝置連接，該第四端用于擊打該第一按鍵。

較佳的，當(dāng)該第一測試部擊打該第一按鍵時，該第二端凸出該第四端，以藉由該第二端擊打該第一按鍵，當(dāng)該第二測試部擊打該第一按鍵時，該第四端凸出該第二端，以藉由該第四端擊打該第一按鍵。

較佳的，該控制裝置控制該第一測試部進行自由落體運動以擊打該第一按鍵。

較佳的，該鍵盤檢測設(shè)備還包括導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，該導(dǎo)向結(jié)構(gòu)用于導(dǎo)引該第一測試部沿該第一方向移動，該第一方向為該第一測試部移動擊打該第一按鍵的方向。

較佳的，一個該第一測試部和一個該第二測試部構(gòu)成一個測試組，該鍵盤檢測設(shè)備包括多個測試部，以同時測試多個第一按鍵。

較佳的，該第一測試部藉由拉鉤或者彈性元件與該控制裝置連接。

較佳的，該鍵盤檢測設(shè)備用于對該第一按鍵進行鍵硬、鍵軟、靈敏度、死鍵以及開/關(guān)功能項目測試，其中，該第一測試部用于對該第一按鍵進行鍵硬、鍵軟、靈敏度、死鍵以及開/關(guān)功能項目中的至少其中的一個項目進行測試，該第二測試部用于對該第一按鍵進行鍵硬、鍵軟、靈敏度、死鍵以及開/關(guān)功能項目中的至少其中的一個項目進行測試，且該第一測試部測試的項目與該第二測試部測試的項目不相同。

較佳的，該控制裝置為電磁閥，該第一測試部為實心砝碼，該第二測試部為空心砝碼，該驅(qū)動裝置為可移動導(dǎo)向板。