[發(fā)明專利]一種干擾檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710261397.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107064683B | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 余志聰;王文;賈宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 捷開通訊(深圳)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
| 地址: | 518063 廣東省深圳市南山區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 干擾 檢測(cè) 裝置 | ||
1.一種干擾檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
探頭,用于接收射頻信號(hào);
至少兩個(gè)射頻處理電路,并聯(lián)耦接所述探頭,
其中,所述射頻處理電路工作的頻帶不同,當(dāng)所述探頭接收到所述射頻信號(hào)時(shí),所述至少兩個(gè)射頻處理電路分別對(duì)所述射頻信號(hào)進(jìn)行處理而得到與每個(gè)所述射頻處理電路對(duì)應(yīng)的處理結(jié)果,并在與每個(gè)所述射頻處理電路對(duì)應(yīng)的處理結(jié)果中選擇匹配所述射頻信號(hào)的頻率的結(jié)果;
所述干擾檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括MCU以及第一射頻開關(guān),
所述第一射頻開關(guān)的動(dòng)端耦接所述探頭的輸出端,所述第一射頻開關(guān)的至少兩個(gè)不動(dòng)端分別耦接所述至少兩個(gè)射頻處理電路的輸入端,所述MCU耦接所述第一射頻開關(guān)的控制端,
所述MCU通過(guò)所述控制端控制所述第一射頻開關(guān)以使所述至少兩個(gè)射頻處理電路分別對(duì)所述射頻信號(hào)進(jìn)行處理;
所述干擾檢測(cè)裝置進(jìn)一步包括按鍵,耦接所述MCU,用于產(chǎn)生從所述至少兩個(gè)射頻處理電路中選擇一個(gè)所述射頻處理電路的中斷信號(hào),所述中斷的優(yōu)先級(jí)最高;
其中,所述MCU處于第一狀態(tài)或第二狀態(tài),當(dāng)所述MCU處于所述第一狀態(tài)時(shí),禁用定時(shí)器中斷,當(dāng)所述MCU處于所述第二狀態(tài)時(shí),開啟所述定時(shí)器中斷,所述開啟所述定時(shí)器中斷具體包括:當(dāng)產(chǎn)生一個(gè)所述定時(shí)器中斷時(shí),所述MCU通過(guò)所述第一射頻開關(guān)依次切換下一個(gè)所述射頻處理電路對(duì)所述探頭接收的所述射頻信號(hào)進(jìn)行處理;
其中,當(dāng)所述按鍵產(chǎn)生中斷時(shí),所述MCU判斷所述中斷的時(shí)間是否超過(guò)預(yù)設(shè)的值,當(dāng)所述中斷的時(shí)間超過(guò)所述預(yù)設(shè)的值時(shí),所述MCU進(jìn)行所述第一狀態(tài)與所述第二狀態(tài)的切換;當(dāng)所述中斷的時(shí)間未超過(guò)所述預(yù)設(shè)的值時(shí),繼續(xù)判斷當(dāng)前所述MCU是否處于所述第一狀態(tài),若當(dāng)前所述MCU處于所述第一狀態(tài),則所述MCU控制所述第一射頻開關(guān)依次切換下一個(gè)所述射頻處理電路對(duì)所述探頭接收的所述射頻信號(hào)進(jìn)行處理,否則不做任何改變。
2.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
所述射頻處理電路包括放大器,所述MCU耦接所述放大器的使能端,
當(dāng)所述MCU通過(guò)所述控制端控制所述第一射頻開關(guān)以選擇所述至少兩個(gè)射頻處理電路中的一個(gè)所述射頻處理電路對(duì)所述探頭接收的所述射頻信號(hào)進(jìn)行處理時(shí),所述MCU通過(guò)所述使能端控制所述其中一個(gè)所述射頻處理電路中的所述放大器工作以及控制剩余部分的所述射頻處理電路中的所述放大器不工作。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
所述放大器為低噪聲放大器。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
所述射頻處理電路還包括濾波器,耦接所述放大器的輸出端。
5.如權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
進(jìn)一步包括第二射頻開關(guān),所述第二射頻開關(guān)的至少兩個(gè)不動(dòng)端分別耦接所述至少兩個(gè)射頻處理電路的輸出端,所述第二射頻開關(guān)的控制端耦接所述第一射頻開關(guān)的控制端;及
輸出接口,耦接所述第二射頻開關(guān)的動(dòng)端,用于將處理后的所述射頻信號(hào)進(jìn)行輸出。
6.如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,
所有所述射頻處理電路工作的頻帶一起構(gòu)成檢測(cè)所需的頻帶。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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