[發明專利]一種干擾檢測裝置有效
| 申請號: | 201710261397.3 | 申請日: | 2017-04-20 |
| 公開(公告)號: | CN107064683B | 公開(公告)日: | 2020-12-25 |
| 發明(設計)人: | 余志聰;王文;賈宇 | 申請(專利權)人: | 捷開通訊(深圳)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
| 地址: | 518063 廣東省深圳市南山區*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 干擾 檢測 裝置 | ||
1.一種干擾檢測裝置,其特征在于,包括:
探頭,用于接收射頻信號;
至少兩個射頻處理電路,并聯耦接所述探頭,
其中,所述射頻處理電路工作的頻帶不同,當所述探頭接收到所述射頻信號時,所述至少兩個射頻處理電路分別對所述射頻信號進行處理而得到與每個所述射頻處理電路對應的處理結果,并在與每個所述射頻處理電路對應的處理結果中選擇匹配所述射頻信號的頻率的結果;
所述干擾檢測裝置進一步包括MCU以及第一射頻開關,
所述第一射頻開關的動端耦接所述探頭的輸出端,所述第一射頻開關的至少兩個不動端分別耦接所述至少兩個射頻處理電路的輸入端,所述MCU耦接所述第一射頻開關的控制端,
所述MCU通過所述控制端控制所述第一射頻開關以使所述至少兩個射頻處理電路分別對所述射頻信號進行處理;
所述干擾檢測裝置進一步包括按鍵,耦接所述MCU,用于產生從所述至少兩個射頻處理電路中選擇一個所述射頻處理電路的中斷信號,所述中斷的優先級最高;
其中,所述MCU處于第一狀態或第二狀態,當所述MCU處于所述第一狀態時,禁用定時器中斷,當所述MCU處于所述第二狀態時,開啟所述定時器中斷,所述開啟所述定時器中斷具體包括:當產生一個所述定時器中斷時,所述MCU通過所述第一射頻開關依次切換下一個所述射頻處理電路對所述探頭接收的所述射頻信號進行處理;
其中,當所述按鍵產生中斷時,所述MCU判斷所述中斷的時間是否超過預設的值,當所述中斷的時間超過所述預設的值時,所述MCU進行所述第一狀態與所述第二狀態的切換;當所述中斷的時間未超過所述預設的值時,繼續判斷當前所述MCU是否處于所述第一狀態,若當前所述MCU處于所述第一狀態,則所述MCU控制所述第一射頻開關依次切換下一個所述射頻處理電路對所述探頭接收的所述射頻信號進行處理,否則不做任何改變。
2.如權利要求1所述的檢測裝置,其特征在于,
所述射頻處理電路包括放大器,所述MCU耦接所述放大器的使能端,
當所述MCU通過所述控制端控制所述第一射頻開關以選擇所述至少兩個射頻處理電路中的一個所述射頻處理電路對所述探頭接收的所述射頻信號進行處理時,所述MCU通過所述使能端控制所述其中一個所述射頻處理電路中的所述放大器工作以及控制剩余部分的所述射頻處理電路中的所述放大器不工作。
3.如權利要求2所述的檢測裝置,其特征在于,
所述放大器為低噪聲放大器。
4.如權利要求3所述的檢測裝置,其特征在于,
所述射頻處理電路還包括濾波器,耦接所述放大器的輸出端。
5.如權利要求1所述的檢測裝置,其特征在于,
進一步包括第二射頻開關,所述第二射頻開關的至少兩個不動端分別耦接所述至少兩個射頻處理電路的輸出端,所述第二射頻開關的控制端耦接所述第一射頻開關的控制端;及
輸出接口,耦接所述第二射頻開關的動端,用于將處理后的所述射頻信號進行輸出。
6.如權利要求1至5任一項所述的檢測裝置,其特征在于,
所有所述射頻處理電路工作的頻帶一起構成檢測所需的頻帶。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于捷開通訊(深圳)有限公司,未經捷開通訊(深圳)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710261397.3/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





