[發明專利]顯示控制卡檢測方法及裝置、檢測系統和生產線有效
| 申請號: | 201710258667.5 | 申請日: | 2017-04-19 |
| 公開(公告)號: | CN107103867B | 公開(公告)日: | 2021-02-05 |
| 發明(設計)人: | 趙星梅;袁勝春;吳楠;鄭瑞濤 | 申請(專利權)人: | 西安諾瓦星云科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 深圳精智聯合知識產權代理有限公司 44393 | 代理人: | 鄧鐵華 |
| 地址: | 710075 陜西省西安市高新區丈八*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顯示 控制 檢測 方法 裝置 系統 生產線 | ||
本發明實施例提出一種顯示控制卡檢測方法,包括:控制所述多個LED燈板顯示目標圖像;采集所述目標圖像以獲取每一個所述LED燈板顯示的圖像;對獲取的每一個所述LED燈板顯示的圖像進行分析處理,得到每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息;比較每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息與預設的亮度或亮色度閾值得到比較結果;根據所述比較結果確定所述待檢測顯示控制卡的多個輸出端口是否均正常工作。此外,本發明實施例還提供一種顯示控制卡檢測裝置、檢測系統和生產線。
技術領域
本發明涉及顯示控制卡技術領域,尤其涉及一種顯示控制卡檢測方法、一種顯示控制卡檢測裝置、一種顯示控制卡檢測系統以及一種顯示控制卡生產線。
背景技術
在LED顯示屏制造領域,生產的LED顯示控制卡例如接收卡需要檢測是否合格才能裝箱發貨。已知的接收卡檢測方案是利用PC機控制LED燈板顯示圖像,然后通過人眼觀察LED燈板顯示的圖像是否正常,若圖像顯示正常,則接收卡檢測合格,若圖像顯示不正常,則接收卡檢測不合格。
然后,由于已知接收卡檢測方案是通過人眼觀察LED燈板顯示的圖像是否正常,所以存在以下問題:1)檢測效率低和準確率低;以及2)由人眼觀察,容易漏檢且漏檢了也不知道。
發明內容
因此,本發明實施例提供一種顯示控制卡檢測方法、一種顯示控制卡檢測裝置、一種顯示控制卡檢測系統以及一種顯示控制卡生產線,以防止漏檢,并提升顯示控制卡的檢測效率和準確率。
一方面,提供了一種顯示控制卡檢測方法,待檢測顯示控制卡的多個輸出端口分別連接至多個LED燈板,所述方法包括:控制所述多個LED燈板顯示目標圖像;采集所述目標圖像以獲取每一個所述LED燈板顯示的圖像;對獲取的每一個所述LED燈板顯示的圖像進行分析處理,得到每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息;比較每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息與預設的亮度或亮色度閾值得到比較結果;根據所述比較結果確定所述待檢測顯示控制卡的多個輸出端口是否均正常工作。
再一方面,提供了一種顯示控制卡檢測裝置,包括:控制模塊,用于控制多個LED燈板顯示目標圖像,其中所述多個LED燈板分別連接待檢測顯示控制卡的多個輸出端口;采集模塊,用于采集所述目標圖像以獲取每一個所述LED燈板顯示的圖像;分析處理模塊,用于對獲取的每一個所述LED燈板顯示的圖像進行分析處理,得到每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息;比較模塊,用于比較每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息與預設的亮度或亮色度閾值得到比較結果;確定模塊,用于根據所述比較結果確定所述待檢測顯示控制卡的多個輸出端口是否均正常工作。
另一方面,提供了一種顯示控制卡檢測系統,包括:多個LED燈板,所述多個LED燈板分別用于與待檢測顯示控制卡的多個輸出端口一對一連接;上位機,用于連接所述待檢測顯示控制卡以控制所述多個LED燈板顯示目標圖像;面陣相機,用于連接所述上位機,根據所述上位機的控制對所述多個LED燈板顯示的目標圖像進行采集;其中,所述上位機還用于對獲取的每一個所述LED燈板顯示的目標圖像進行分析處理得到每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息、比較每一個所述LED燈板的亮度或亮色度信息與預設的亮度或亮色度閾值得到比較結果、根據所述比較結果輸出檢測結果以表征與每一個所述LED燈板連接的所述輸出端口的圖像輸出功能是否正常。
又一方面,提供了一種顯示控制卡生產線,包括傳送軌道和檢測工位;其中,所述傳送軌道用于傳送待檢測顯示控制卡,所述檢測工位配置有前述顯示控制卡檢測系統。
上述技術方案中的一個技術方案具有如下優點或有益效果:1)實現了檢測自動化,因而可以提高檢測效率和準確率;而且無需人眼觀察,提高了檢測結果的質量,避免了因個人原因造成的漏檢,降低漏檢率。
上述技術方案中的再一個技術方案具有如下優點或有益效果:通過搭建檢測系統來實現顯示控制卡的檢測,可以提高檢測效率和準確率;而且無需人眼觀察,提高了檢測結果的質量,避免了因個人原因造成的漏檢,降低漏檢率。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安諾瓦星云科技股份有限公司,未經西安諾瓦星云科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710258667.5/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:陶瓷裝飾盤(觀音)
- 下一篇:基于連接的可穿戴設備的風險評估





