[發(fā)明專利]TFT基板及其測試方法、消除關(guān)機殘像的方法

在審

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• 申請日: 2017-04-19
• 公開（公告）號: CN107015408A
• 公開（公告）日: 2017-08-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 曾勉
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02F1/1362
• 分類號: G02F1/1362;G02F1/1345;G09G3/00
• 代理公司: 深圳市德力知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所44265
• 代理人: 林才桂

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種TFT基板及其測試方法、消除關(guān)機殘像的方法。

背景技術(shù)

液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有機身薄、省電、無輻射等眾多優(yōu)點，得到了廣泛的應(yīng)用。如：液晶電視、移動電話、個人數(shù)字助理(PDA)、數(shù)字相機、計算機屏幕或筆記本電腦屏幕等，在平板顯示領(lǐng)域中占主導(dǎo)地位。

現(xiàn)有市場上的液晶顯示器大部分為背光型液晶顯示器，其包括液晶顯示面板及背光模組(Backlight Module)。液晶顯示面板的工作原理是在薄膜晶體管陣列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)與彩色濾光片基板(Color Filter，CF)之間灌入液晶分子，并在兩片基板上施加驅(qū)動電壓來控制液晶分子的旋轉(zhuǎn)方向，以將背光模組的光線折射出來產(chǎn)生畫面。

主動矩陣式液晶顯示器(Active Matrix Liquid Crystal Display，AMLCD)是目前最常用的液晶顯示器，包含多個像素，每個像素各受一個薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)的控制，該TFT的柵極連接至沿水平方向延伸的掃描線，漏極連接至沿垂直方向延伸的數(shù)據(jù)線，源極連接至對應(yīng)的像素電極。如果在水平方向的某一掃描線上施加足夠的正電壓，則會使得連接在該條掃描線上的所有TFT打開，將數(shù)據(jù)線上所加載的數(shù)據(jù)信號電壓寫入像素電極中，控制不同液晶的透光度進而達到控制色彩的效果。

主動矩陣式液晶顯示器中掃描線的驅(qū)動(即柵極驅(qū)動)最初由外接的集成電路(Integrated Circuit，IC)來完成，外接的IC可以控制各級水平掃描線的逐級充電和放電。GOA技術(shù)(Gate Driver on Array)即陣列基板行驅(qū)動技術(shù)，可以運用液晶顯示面板的陣列制程將水平掃描線的驅(qū)動電路制作在顯示區(qū)周圍的基板上，使之能替代外接IC來完成水平掃描線的驅(qū)動。GOA技術(shù)能減少外接IC的邦定(bonding)工序，提升產(chǎn)能并降低產(chǎn)品成本，而且可以使液晶顯示面板更適合制作窄邊框的顯示產(chǎn)品。如圖1所示，為現(xiàn)有設(shè)計的GOA電路圖示，所述GOA電路包括：多個GOA單元100，每一個GOA單元100對應(yīng)一行液晶顯示面板內(nèi)的掃描線，通過連接到各個對應(yīng)的時鐘信號CK、對應(yīng)的第一低頻下拉驅(qū)動信號LC1、第二低頻下拉驅(qū)動信號LC2以及低電位信號VSS，形成一個移位寄存器，通過多級移位寄存器組成整個GOA電路，所述GOA電路能夠依次輸出G(1)、G(2)、G(N)和G(N+1)等柵極掃描信號對液晶顯示面板內(nèi)的掃描線進行逐行掃描。

陣列測試(Array test)是TFT基板在Array制程做完后的一道不良檢測工序，通過陣列測試機臺向TFT基板上的陣列測試點(Array test pad)輸入測試信號，再通過連線導(dǎo)入至面板內(nèi)部，以檢測面內(nèi)線路的短路和斷路等不良。

具體地，請參閱圖2，圖2是現(xiàn)有技術(shù)對采用的GOA技術(shù)的TFT基板的示意圖，如圖2所示，所述TFT基板包括：顯示區(qū)、包圍所述顯示區(qū)的非顯示區(qū)，其中顯示區(qū)內(nèi)設(shè)有多條沿水平方向延伸的掃描線101和多條沿豎直方向延伸的數(shù)據(jù)線(未圖示)，所述非顯示區(qū)內(nèi)設(shè)有GOA電路102和多個陣列測試信號點103，陣列測試時，通過陣列測試機臺扎針在陣列測試點103上向所述液晶顯示面板提供測試信號，所述測試信號包括GOA電路所需的信號GOA signal、數(shù)據(jù)信號Data、以及公共電壓信號等，各個測試信號通過走線輸入至TFT基板內(nèi)部，以檢測TFT基板內(nèi)線路的短路和斷路等不良。

然而，針對GOA技術(shù)的TFT基板，其柵極掃描信號需要先通過GOA電路102生成后再傳輸至顯示區(qū)內(nèi)的掃描線101上，利用上述陣列測試方法進行測試時，若測試到TFT基板上出現(xiàn)柵極掃描信號傳輸不良(即水平方向上的不良)，難以判斷是顯示區(qū)內(nèi)的掃描線101出現(xiàn)不良還是GOA電路102出現(xiàn)不良，進而導(dǎo)致無法準(zhǔn)確定位出陣列基板不良的位置進行針對性的不良修復(fù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種TFT基板，在進行陣列測試時能夠準(zhǔn)確區(qū)分掃描線不良和GOA電路不良，確定定位不良位置，提升陣列測試的不良檢出率，保障TFT基板的質(zhì)量。

本發(fā)明的目的還在于提供一種TFT基板的測試方法，能夠準(zhǔn)確區(qū)分掃描線不良和GOA電路不良，確定定位不良位置，提升陣列測試的不良檢出率，保障TFT基板的質(zhì)量。

本發(fā)明的目的還在于提供一種消除關(guān)機殘像的方法，能夠有效消除液晶顯示器的關(guān)機殘像，提升顯示品質(zhì)。