[發明專利]一種確定儲層非均質性的方法和裝置有效
| 申請號: | 201710256713.8 | 申請日: | 2017-04-19 |
| 公開(公告)號: | CN107219159B | 公開(公告)日: | 2019-07-09 |
| 發明(設計)人: | 鄧亞;郭睿;趙麗敏;田中元;吳海;王根久;段天向;劉揚 | 申請(專利權)人: | 中國石油天然氣股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N15/08 | 分類號: | G01N15/08 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 11127 | 代理人: | 李輝;徐煥 |
| 地址: | 100007 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 確定 儲層非均質性 方法 裝置 | ||
本發明提供了一種確定儲層非均質性的方法和裝置,其中,該方法包括:將待測儲層按照預設的深度間隔進行平均分組,得到多個深度組;獲取多個深度組中各個深度組的滲透率平均值;根據各個深度組的滲透率平均值,計算得到待測儲層的縱向非均質性指數;根據待測儲層的縱向非均質性指數,確定待測儲層的非均質性程度。在本發明實施例中,將待測儲層劃分為多個深度組,對每個深度組計算滲透率平均值,從而最終確定出整個儲層的非均質性,因為在確定非均質性的過程中依據的是待測儲層各個深度組中所有的地層內容,而不僅是巖心樣品,因此,相對于現有技術而言,確定出的非均質性結果更準確,基于更準確的非均質性結果,可以有效提高油氣開采的效率。
技術領域
本發明涉及地質勘探技術領域,特別涉及一種確定儲層非均質性的方法和裝置。
背景技術
儲層非均質性可以指的是儲層的各種性質隨空間位置變化的屬性,主要可以表現在巖石物質組成的非均質和孔隙空間的非均質。例如:碎屑巖儲層由于沉積和成巖后的作用差異,其巖石礦物組成、基質含量、膠結物含量均不相同,從而可以影響孔隙形狀、大小以及儲層物性的變化,并形成儲層層內、平面以及層間的非均質性。
現有的確定儲層非均質性的方法,一般是先采集儲層多個深度的巖心樣品,然后測試各個巖心樣品的滲透率,再利用統計學方法確定整個待測儲層的非均質性。即,在確定非均質性的過程所依賴的是從待測儲層中取出的巖心樣品。
然而,由于儲層中地質結構分布存在多變性,僅以巖心樣品處的滲透率確定儲層的非均質性很容易導致最終結果的不準確,很難反應待測儲層真實的非均質性情況。
針對上述問題,目前尚未提出有效的解決方案。
發明內容
本發明提供了一種確定儲層非均質性的方法和裝置,以達到刻畫待測儲層不同深度下的非均質性的目的。
本發明實施例提供了一種確定儲層非均質性的方法,可以包括:將待測儲層按照預設的深度間隔進行平均分組,得到多個深度組;獲取所述多個深度組中各個深度組的滲透率平均值;根據所述各個深度組的滲透率平均值,計算得到所述待測儲層的縱向非均質性指數;根據所述待測儲層的縱向非均質性指數,確定所述待測儲層的非均質性程度。
在一個實施例中,可以按照以下公式根據所述各個深度組的滲透率平均值,計算得到所述待測儲層的縱向非均質性指數:
其中,H表示所述待測儲層的縱向非均質性指數,Zl表示所述待測儲層第l個深度組的滲透率平均值,l=1,2,…,m-1,m表示所述待測儲層中深度組的總個數。
在一個實施例中,在將待測儲層按照預設的深度間隔進行平均分組,得到多個深度組之前,還可以包括:根據所述待測儲層的測井資料,獲取所述待測儲層多個深度下各個深度的滲透率,其中,多個深度組中各個深度組中包含有至少一個深度;對所述待測儲層多個深度下各個深度的滲透率進行標準化處理。
在一個實施例中,獲取所述多個深度組中各個深度組的滲透率平均值,可以包括:獲取當前深度組多個深度下各個深度的滲透率;計算所述各個深度的滲透率的平均值,將所述各個深度的滲透率的平均值作為所述當前深度組的滲透率平均值。
在一個實施例中,可以按照以下公式計算所述各個深度的滲透率的平均值:
其中,Zl表示所述待測儲層第l個深度組的滲透率平均值,l=1,2,…,m,m表示所述待測儲層中深度組的總個數,t表示所述當前深度組所劃分的深度個數,yi表示所述待測儲層第i個深度下的滲透率,i=t×(l-1)+1,t×(l-1)+2,…,t×(l-1)+t。
在一個實施例中,可以按照以下公式對所述待測儲層多個深度下各個深度的滲透率進行標準化處理:
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