[發明專利]對準激光加性制造系統的激光器

有效

• 申請號: 201710256595.0
• 申請日: 2017-01-20
• 公開（公告）號: CN106984897B
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: D·E·克里爾;D·E·施克;A·L·小斯萬納
• 申請（專利權）人: 通用電氣公司
• 主分類號: B23K26/035
• 分類號: B23K26/035
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 鄭浩;劉春元

1.一種用于在重疊區域中將激光加性制造系統的一對校準的激光器對準的方法，在所述重疊區域中所述一對校準的激光器有選擇地操作，所述方法包括：

單獨使用所述一對校準的激光器中的第一校準的激光器在所述一對校準的激光器的所述重疊區域中第一形成測試結構的第一多層；

單獨使用所述一對校準的激光器中的第二校準的激光器在所述一對校準的激光器的所述重疊區域中所述第一多層上第二形成所述測試結構的第二多層，所述第一和第二形成創建所述測試結構的頂部表面以及與所述重疊區域對應的所述測試結構的外表面，所述外表面垂直于所述頂部表面；

測量在所述測試結構的所述外表面中的所述第一多層和所述第二多層之間創建的偏移步的尺寸；以及

通過將所述偏移步的所述尺寸作為對準校正應用于所述一對校準的激光器中的至少一個來將所述一對校準的激光器對準。

2.如權利要求1所述的方法，其中，測量包含使用坐標測量機器對所述測試結構的所述外表面進行掃描。

3.如權利要求2所述的方法，其中，所述坐標測量機器包含配置成對所述測試結構的所述外表面進行掃描的激光器。

4.如權利要求1所述的方法，其中，所述第一和第二形成包含采用所述第一和第二校準的激光器中的每個的激光功率，其與每個校準的激光器進行操作以使用所述激光加性制造系統來創建對象的激光功率基本相等。

5.如權利要求1所述的方法，其中，測量和對準包含：

測量在所述測試結構的所述外表面中的所述第一多層和所述第二多層之間創建的X方向偏移步的X方向尺寸；

測量在所述測試結構的所述外表面中的所述第一多層和所述第二多層之間創建的Y方向偏移步的Y方向尺寸；

通過將所述X方向偏移步的所述X方向尺寸作為第一對準校正應用于所述一對校準的激光器中的一個并且將所述Y方向偏移步的所述Y方向尺寸作為第二對準校正應用于所述一對校準的激光器中的一個來將所述一對校準的激光器對準。

6.如權利要求1所述的方法，還包括針對與所述激光加性制造系統的多個重疊區域對應的多個測試結構的每個而重復進行所述第一形成，所述第二形成，測量和對準。

7.如權利要求1所述的方法，其中，將所述偏移步的所述尺寸作為所述對準校正應用包含將所述偏移步的所述尺寸作為所述對準校正應用于所述一對校準的激光器中所選擇的激光器。

8.如權利要求1所述的方法，其中，所述第一和第二形成包含在能夠從所述激光加性制造系統去除的構件上形成所述測試結構。

9.一種用于在重疊區域中將激光加性制造系統中的一對校準的激光器對準的方法，在所述重疊區域中所述一對校準的激光器有選擇地操作，所述方法包括：

單獨使用所述一對校準的激光器中的第一校準的激光器在所述一對校準的激光器的所述重疊區域中第一形成測試結構的第一多層；

單獨使用所述一對校準的激光器中的第二校準的激光器在所述一對校準的激光器的所述重疊區域中所述第一多層上第二形成測試結構的第二多層，所述第一和第二形成創建所述測試結構的頂部表面以及與所述重疊區域對應的所述測試結構的外表面，其中所述外表面垂直于所述頂部表面，以及其中所述第一和第二形成包含采用所述第一和第二校準的激光器中的每個的激光功率，其與每個校準的激光器進行操作以使用所述激光加性制造系統來創建對象的激光功率基本相等；

測量在所述測試結構的所述外表面中的所述第一多層和所述第二多層之間創建的偏移步的尺寸；

通過將所述偏移步的所述尺寸作為對準校正應用于所述一對校準的激光器中的所選擇的激光器來將所述一對校準的激光器對準。

10.如權利要求9所述的方法，其中，測量包含使用坐標測量機器對所述測試結構的所述外表面進行掃描。

11.如權利要求10所述的方法，其中，所述坐標測量機器包含配置成對所述測試結構的所述外表面進行掃描的激光。