[發(fā)明專利]一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710255816.2
• 申請日: 2017-04-19
• 公開（公告）號: CN106875795A
• 公開（公告）日: 2017-06-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王仁泉
• 申請（專利權(quán)）人: 王仁泉
• 主分類號: G09B23/18
• 分類號: G09B23/18
• 代理公司: 南京正聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司32243
• 代理人: 吳惠松

1.一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：包括底座（1），所述底座（1）上設(shè)有立柱（2），所述立柱（2）表面設(shè)有刻度線，所述立柱（2）一側(cè)設(shè)有第一滑塊（3），所述第一滑塊（3）設(shè)置在底座（1）表面的縱向滑軌（4）上，包括止位塊，所述止位塊位于第一滑塊（3）與立柱（2）之間的縱向滑軌（4）上，所述第一滑塊（3）下表面設(shè)有與縱向滑軌（4）相配合的凸起，所述第一滑塊（3）上設(shè)有凹槽（5），所述凹槽（5）兩邊設(shè)有擋板（6），所述凹槽（5）內(nèi)放有磁鐵塊（7），所述底座（1）上設(shè)有電路系統(tǒng)，所述電路系統(tǒng)包括電源（8）、電鍵（9）、滑動變阻器（10）、安培表（11）和金屬棒（12），所述電源（8）、電鍵（9）、滑動變阻器（10）、安培表（11）和金屬棒（12）通過導(dǎo)線串聯(lián)連接，所述金屬棒（12）彎折后的兩端插入第一滑塊（3）兩側(cè)面的圓孔（13）內(nèi)，所述圓孔（13）的大小與金屬棒（12）的直徑相配合來保證金屬棒（12）轉(zhuǎn)動不打滑，所述立柱（2）頂端設(shè)有收線器（14），所述收線器（14）上卷繞復(fù)合線，所述復(fù)合線包括棉線（16）和橡皮筋（17），所述橡皮筋（17）一端連接在金屬棒（12）中部、另一端與棉線（16）連接，所述復(fù)合線上設(shè)有浮標(biāo)（18）。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述立柱（2）一側(cè)的底座（1）上固定設(shè)有第二滑塊（15），所述第二滑塊（15）上設(shè)有凹槽（5），所述凹槽（5）兩邊設(shè)有擋板（6），所述凹槽（5）內(nèi)放有磁鐵塊（7），所述第二滑塊（15）與金屬棒（12）的距離和第一滑塊（3）與金屬棒（12）的距離相等。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述第二滑塊（15）兩側(cè)面底部設(shè)有固定座（20），所述固定座（20）上設(shè)有螺栓孔與底座（1）上的螺栓孔相對應(yīng)使第二滑塊（15）與底座（1）固定。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述第二滑塊（15）的凹槽（5）內(nèi)表面上設(shè)有螺栓孔且與立柱（2）上的螺栓孔相對應(yīng)使第二滑塊（15）與立柱（2）固定。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述第二滑塊（15）設(shè)置在底座（1）表面的橫向滑軌（21）上。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述縱向滑軌（4）為燕尾槽導(dǎo)軌，所述第一滑塊（3）下表面設(shè)有與燕尾槽導(dǎo)軌相配合的凸起。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述第一滑塊（3）下表面設(shè)有與縱向滑軌（4）相配合的滾輪。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述金屬棒（12）為純銅棒或合金棒。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述收線器（14）為旋鈕調(diào)速器。

10.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項所述的一種用于半定量測定安培力影響因素的教學(xué)裝置，其特征在于：所述磁鐵塊（7）放置在磁鐵盒（19）中。