[發明專利]光學成像系統有效
| 申請號: | 201710249918.3 | 申請日: | 2017-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN107305281B | 公開(公告)日: | 2019-12-03 |
| 發明(設計)人: | 賴建勛;唐乃元;劉耀維;張永明 | 申請(專利權)人: | 先進光電科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G02B13/00 | 分類號: | G02B13/00;G02B13/06;G02B13/18 |
| 代理公司: | 31237 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) | 代理人: | 智云<國際申請>=<國際公布>=<進入國 |
| 地址: | 中國臺灣中部科學工業*** | 國省代碼: | 中國臺灣;TW |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光學 成像 系統 | ||
本發明公開一種光學成像系統,由物側至像側依次包括第一透鏡、第二透鏡、第三透鏡以及第四透鏡。第一透鏡具有正屈折力,其物側面可為凸面。第二透鏡至第三透鏡具有屈折力,前述各透鏡的兩表面可皆為非球面。第四透鏡可具有負屈折力,其像側面可為凹面,其兩表面皆為非球面,其中第四透鏡的至少一表面具有反曲點。光學成像系統中具屈折力的透鏡為第一透鏡至第四透鏡。當滿足特定條件時,可具備更大的收光以及更佳的光路調節能力,以提升成像質量。
技術領域
本發明涉及一種光學成像系統組,且特別涉及一種應用于電子產品上的小型化光學成像系統組。
背景技術
近年來,隨著具有攝影功能的可攜式電子產品的興起,光學系統的需求日漸提高。一般光學系統的感光組件不外乎是感光耦合組件(Charge Coupled Device;CCD)或互金屬氧化物半導體傳感器(Complementary Metal-Oxide SemiconduTPor Sensor;CMOSSensor)兩種,且隨著半導體工藝技術的精進,使得感光組件的像素尺寸縮小,光學系統逐漸往高像素領域發展,因此對成像質量的要求也日益增加。
傳統搭載于便攜設備上的光學系統,多采用二片或三片式透鏡結構為主,然而由于便攜設備不斷朝提升像素并且終端消費者對大光圈的需求例如微光與夜拍功能或是對廣視角的需求例如前置鏡頭的自拍功能。惟設計大光圈的光學系統常面臨產生更多像差致使邊緣成像質量隨的劣化以及制造難易度的處境,而設計廣視角的光學系統則會面臨成像的畸變率(distortion)提高,現有的光學成像系統已無法滿足更高階的攝影要求。
因此,如何有效增加光學成像系統的進光量與增加光學成像系統的視角,除進一步提高成像的總像素與質量外同時能兼顧微型化光學成像系統的衡平設計,便成為一個相當重要的議題。
發明內容
本發明實施例提供一種光學成像系統,能夠利用四個透鏡的屈光力、凸面與凹面的組合(本發明所述凸面或凹面原則上是指各透鏡的物側面或像側面于光軸上的幾何形狀描述),進而有效提高光學成像系統的進光量與增加光學成像系統的視角,同時提高成像的總像素與質量,以應用于小型的電子產品上。
本發明實施例相關的機構組件參數的用語與其代號詳列如下,作為后續描述的參考:
請參照圖7,光學成像系統可包括一圖像感測模塊(未繪示),該圖像感測模塊包括有一基板以及設置于該基板上的一感光組件;光學成像系統另外可包括一鏡片定位組件794,呈中空且可容置任一透鏡,并使這些透鏡排列于光軸上,該鏡片定位組件包括有一物端部796以及一像端部798,該物端部796靠近物側且具有一第一開口7962,該像端部798靠近像側且具有一第二開口7982,該透鏡定位組件794外壁包括二個切平面799,這些切平面799分別具有一成型灌口痕7992。前述該第一開口7962的內徑為OD,該第二開口7982的內徑為ID,其滿足下列條件:0.1≤OD/ID<10。該物端部796的最小厚度為OT以及該像端部798的最小厚度為IT,其滿足下列條件:0.1≤OT/IT<10。
請參照圖8,光學成像系統可包括一圖像感測模塊(未繪示),該圖像感測模塊包括有一基板以及設置于該基板上的一感光組件;光學成像系統另外可包括一鏡片定位組件894,呈中空且可容置任一透鏡,并使這些透鏡排列于光軸上,該鏡片定位組件包括有一物端部896以及一像端部898,該物端部896靠近物側且具有一第一開口8962,該像端部898靠近像側且具有一第二開口8982,該透鏡定位組件894外壁包括三個切平面899,這些切平面899分別具有一成型灌口痕8992。前述該第一開口8962的內徑為OD,該第二開口8982的內徑為ID,其滿足下列條件:0.1≤OD/ID<10。該物端部896的最小厚度為OT以及該像端部898的最小厚度為IT,其滿足下列條件:0.1≤OT/IT<10。
本發明實施例相關的透鏡參數的用語與其代號詳列如下,作為后續描述的參考:
與長度或高度有關的透鏡參數
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于先進光電科技股份有限公司,未經先進光電科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201710249918.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





