[發明專利]一種總劑量效應的探測方法及裝置

有效

• 申請號: 201710248717.1
• 申請日: 2017-04-17
• 公開（公告）號: CN107144776B
• 公開（公告）日: 2019-10-08
• 發明（設計）人: 邵翠萍;李慧云
• 申請（專利權）人: 深圳先進技術研究院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳青年人專利商標代理有限公司 44350
• 代理人: 傅俏梅

1.一種總劑量效應的探測方法，其特征在于，所述方法包括下述步驟：

對待測芯片中的電路進行可測性設計；

根據所述待測芯片中邏輯單元對總劑量效應的敏感性狀態，構造所述待測芯片總劑量效應的原始信號，生成所述原始信號的觀測矩陣，其中，所述敏感性狀態根據所述待測芯片內部所述邏輯單元的屬性確定；

根據所述觀測矩陣中的行向量，生成對應的測試向量集；

對預設數量個所述待測芯片進行總劑量輻照，通過所有測試向量集對輻照后對應的待測芯片進行測試，以確定所述輻照后的待測芯片是否出錯；

當確定所述輻照后的待測芯片出錯時，根據所述所有測試向量集的測試結果和所述觀測矩陣，生成壓縮感知方程，根據所述壓縮感知方程和預設的信號重構算法，生成并輸出所述待測芯片內部總劑量效應的敏感邏輯單元分布。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

當確定所述輻照后的待測芯片未出錯時，增加所述總劑量輻照的輻照劑量，并重新執行對預設數量個所述待測芯片進行總劑量輻照的操作。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，構造所述待測芯片總劑量效應的原始信號，生成所述原始信號的觀測矩陣的步驟，包括：

根據所述待測芯片中邏輯單元對總劑量效應的敏感性狀態，構造所述原始信號；

將預設的伯努利隨機矩陣設置為所述原始信號的觀測矩陣。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述觀測矩陣中的行向量，生成對應的測試向量集的步驟，包括：

依次根據所述觀測矩陣中每個行向量，確定所述待測芯片內部的邏輯單元中的待測單元，生成所述待測單元的測試向量；

將所述待測芯片中所有待測單元的測試向量構成一個測試向量集，所述每個行向量對應一個測試向量集。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，對預設數量個所述待測芯片進行總劑量輻照，通過所有測試向量集對輻照后對應的待測芯片進行測試，以確定所述輻照后的待測芯片是否出錯的步驟，包括：

在預設的總劑量輻射環境中對所述預設數量個待測芯片進行輻照；

通過所述每個測試向量集對所述輻照后相應的待測芯片進行測試，確定所述輻照后的待測芯片是否出錯，并獲得每個輻照后待測芯片的出錯邏輯單元數目。

6.一種總劑量效應的探測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

電路設計模塊，用于對待測芯片中的電路進行可測性設計；

矩陣生成模塊，用于根據所述待測芯片中邏輯單元對總劑量效應的敏感性狀態，構造所述待測芯片總劑量效應的原始信號，生成所述原始信號的觀測矩陣，其中，所述敏感性狀態根據所述待測芯片內部所述邏輯單元的屬性確定；

向量集生成模塊，用于根據所述觀測矩陣中的行向量，生成對應的測試向量集；

輻照測試模塊，用于對預設數量個所述待測芯片進行總劑量輻照，通過所有測試向量集對輻照后對應的待測芯片進行測試，確定所述輻照后的待測試芯片是否出錯；以及

敏感輸出模塊，用于當確定所述輻照后的待測芯片出錯時，根據所述所有測試向量集的測試結果和所述觀測矩陣，生成壓縮感知方程，根據所述壓縮感知方程和預設的信號重構算法，生成并輸出所述待測芯片內部總劑量效應的敏感邏輯單元分布。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

劑量增加模塊，用于當確定所述輻照后的待測芯片未出錯時，增加所述總劑量輻照的輻照劑量。

8.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述矩陣生成模塊包括：

原始信號構造模塊，用于根據所述待測芯片中邏輯單元對總劑量效應的敏感性狀態，構造所述原始信號；以及

觀測矩陣設置模塊，用于將預設的伯努利隨機矩陣設置為所述原始信號的觀測矩陣。