[發明專利]一種MMIC通用測試夾具

有效

• 申請號: 201710248692.5
• 申請日: 2017-04-17
• 公開（公告）號: CN106841709B
• 公開（公告）日: 2019-08-02
• 發明（設計）人: 張健;俞鍵
• 申請（專利權）人: 武漢特視電光技術有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/28
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 王利彬

本發明屬于夾具技術領域，提供了一種MMIC通用測試夾具。該測試夾具包括射頻輸入座體、射頻輸出座體及用于安裝待測MMIC的凸臺，射頻輸入座體上安裝有輸入微帶線和用于對MMIC供電的直流供電板，射頻輸出座體內安裝有輸出微帶線，凸臺可拆卸地安裝在射頻輸入座體上，并與輸入微帶線的輸出端相對接，射頻輸出座體能沿射頻方向滑動地安裝在射頻輸入座體上。本發明將凸臺可拆卸地安裝在射頻輸入底座上之后，通過射頻輸出座體沿射頻方向在射頻輸入底座上滑動，從而能夠帶動輸出微帶線靠近或接觸凸臺上的MMIC，實現射頻方向的調節，以適應不同尺寸的MMIC，降低了MMIC的測試周期和成本。

技術領域

本發明屬于夾具技術領域，尤其涉及一種MMIC(Monolithic MicrowaveIntegrated Circuit單片微波集成電路)通用測試夾具。

背景技術

采用GaAs、InP基或Si基的毫米波頻段MMIC已廣泛應用于短距離無線高速傳輸、衛星通信及軍事雷達等領域。在毫米波MMIC測試階段，采用波導形式具有更高的可靠性、經濟性以及更低的損耗，即測試夾具的輸入/輸出端口為波導形式，這就需要設計平面微帶結構,以實現波導結構與平面微帶結構之間的良好過渡。然而對于不同類型和尺寸的MMIC，需要制備不同構造的測試夾具，使用不便，這將大大增加MMIC測試的周期和成本。

發明內容

本發明實施例所要解決的技術問題在于提供一種MMIC通用測試夾具，旨在解決現有技術中的MMIC測試夾具所存在的測試周期長和成本高的問題。

本發明實施例是這樣實現的，一種MMIC通用測試夾具，包括射頻輸入座體和射頻輸出座體，所述射頻輸入座體上安裝有輸入微帶線和用于對MMIC供電的直流供電板，所述射頻輸出座體內安裝有輸出微帶線，所述通用測試夾具還包括用于安裝待測MMIC的凸臺，所述凸臺可拆卸地安裝在所述射頻輸入座體上，并與所述輸入微帶線的輸出端相對接，所述射頻輸出座體能沿射頻方向滑動地安裝在所述射頻輸入座體上，并能使所述輸出微帶線的輸入端靠近或接觸所述凸臺上的待測MMIC。

進一步地，所述射頻輸入座體包括可拆卸連接的射頻輸入上蓋和射頻輸入底座，所述輸入微帶線和直流供電板安裝在所述射頻輸入底座上，所述射頻輸入上蓋固定安裝在所述射頻輸入底座上，所述射頻輸入底座的底端設有滑塊及開設有長通孔，所述滑塊與所述射頻輸出座體之間通過連接件固定連接，并且所述連接件穿設在所述長通孔中。

進一步地，所述射頻輸出座體包括可拆卸連接的射頻輸出上蓋和射頻輸出底座，所述射頻輸入底座上具有供所述射頻輸出底座滑動的容置槽，所述射頻輸出上蓋固定安裝在所述射頻輸出底座上，所述射頻輸出底座與所述滑塊之間通過所述連接件固定連接，所述射頻輸入底座的底端具有滑槽，所述滑塊在所述滑槽內滑動。

進一步地，所述射頻輸入底座上具有孔位，所述孔位具有開口，所述凸臺安裝在所述孔位中，所述凸臺上具有凹槽，所述射頻輸出底座上具有凸塊，所述輸出微帶線安裝在所述凸塊上，所述凸塊能通過所述開口靠近所述凹槽或抵靠所述凹槽，使所述凸塊上的輸出微帶線的輸入端靠近或抵靠所述凸臺上的待測MMIC。

進一步地，所述射頻輸入底座與射頻輸入上蓋之間構成的信號輸入槽口的橫截面呈L形，所述信號輸入槽口與所述孔位之間貫穿有第一凹槽，所述輸入微帶線安裝在所述第一凹槽內，并且其輸入端伸入所述信號輸入槽口中，所述射頻輸出座體內的信號輸出槽口亦呈L形，所述凸塊上開設有與所述信號輸出槽口連通的第二凹槽，所述輸出微帶線安裝在所述第二凹槽內，并且其輸出端伸入所述信號輸出槽口中。

進一步地，所述射頻輸入底座上開設有用于調節所述直流供電板安裝位置的若干螺紋孔，所述直流供電板上開設有若干與所述螺紋孔配合的開孔，所述直流供電板與所述射頻輸入底座之間利用螺絲穿設所述開孔與螺紋孔進行固定連接。