[發明專利]一種用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置在審
| 申請號: | 201710247113.5 | 申請日: | 2017-04-17 |
| 公開(公告)號: | CN106985065A | 公開(公告)日: | 2017-07-28 |
| 發明(設計)人: | 任乃飛;夏凱波;張麗;王琪琪;石春輝;朱蘇凱 | 申請(專利權)人: | 江蘇大學 |
| 主分類號: | B24B41/02 | 分類號: | B24B41/02;B24B41/04;B24B41/047;B24B41/06;B24B5/48;B24B29/02;G01N1/32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 激光 微孔 制造 試樣 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及先進激光制造領域,尤其涉及一種用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置。
背景技術
激光微孔制造技術是指利用脈沖激光束照射工件表面,因為聚焦后的激光束能量密度極高,在焦點位置的溫度會瞬間達到數千攝氏度,工件材料在這種高溫的作用下會被迅速的熔化、汽化,這時汽化的金屬會帶著熔融的金屬噴射而出從而形成了孔。
激光微孔制造技術是一種新型特種加工技術,具有加工速度快、經濟效益高、加工材料范圍廣、無污染等優點,尤其在航天航空工業的激光群孔加工中具有明顯的優勢。在將微孔制造技術應用到某一工業應用上時,必須對其進行大量的實驗。但實驗中,在對試樣的處理過程中,經常出現表面磨不平,劃痕嚴重的現象,尤其是對截面孔的磨拋中,手動磨拋很難磨拋出理想的界面孔,經常出現磨不平、磨過了的現象,并且目前沒有發現專門用于截面孔磨拋的磨拋機。目前國內關于試樣磨拋的專利,主要涉及的是磨拋夾具的設計,并沒有涉及整體裝置的設計。市面上基本是普通金相磨拋機和自動金相磨拋機,普通金相磨拋機需要人工磨拋試樣,磨拋結果不可控且不理想。自動金相磨拋機磨拋質量雖然很好,但價格昂貴。
發明內容
針對現有技術中存在不足,本發明提供了一種用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置,通過將磨拋頭與磨拋機主體分開,有效的降低了激光微孔制造中的人力物力,并且適用范圍廣。
本發明是通過以下技術手段實現上述技術目的的。
一種用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置,其特征在于,包括底座、支架桿、彈簧、短連桿、第一長連桿、第二長連桿、手持桿和磨拋頭;
所述支架桿垂直固定于底座上,支架桿上設有直線導軌,第一鎖緊滑塊和第二鎖緊滑塊與直線導軌滑動連接,所述第一長連桿和第二長連桿的長度相等,所述第一長連桿的一端與第一鎖緊滑塊鉸接,另一端與手持桿鉸接,所述第二長連桿的一端與第二鎖緊滑塊鉸接,另一端與手持桿鉸接,所述短連桿的兩端分別與第一長連桿和第二長連桿鉸接,所述彈簧的一端與短連桿的中心連接,另一端與第二長連桿連接,所述第一長連桿和第二長連桿平行,所述短連桿和手持桿以及支架平行,所述長連桿的底端設有磨拋頭,所述磨拋頭用于夾緊試樣。
優選地,所述長連桿上設有橡膠套。
優選地,所述磨拋頭為平面磨拋頭或截面磨拋頭。
優選地,所述平面磨拋頭包括平面磨拋頭主體和四根鎖緊螺釘,所述平面磨拋頭主體為立方體結構,平面磨拋頭主體的底面具有凹槽,四根鎖緊螺釘分別從平面磨拋頭主體的四個側面伸入凹槽內,用于緊試樣,所述鎖緊螺釘與試樣工件接觸的端部設有橡膠頭。
優選地,截面磨拋頭包括截面磨拋頭主體和兩根鎖緊螺釘,所述截面磨拋頭主體為長方體結構,截面磨拋頭主體的底面具有長方形凹槽,兩根鎖緊螺釘分別從長方形凹槽的兩個側面伸入長方形凹槽內,用于夾緊試樣工件,所述鎖緊螺釘與試樣接觸的端部設有橡膠頭。
優選地,所述用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置采用輕量化材料進行制造。
一種使用上述用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置的方法,包括以下步驟:
步驟一:將用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置安裝于磨拋機周邊合適位置;
步驟二:將試樣安裝在磨拋頭中,通過鎖緊螺釘進行鎖緊;
步驟三:松開第一鎖緊滑塊和第二鎖緊滑塊,將磨拋頭調節到合適位置,鎖緊第一鎖緊滑塊和第二鎖緊滑塊。
步驟四:用手握住手持桿,在磨拋機上進行試樣的磨拋,磨拋結束后,卸下試樣。
本發明的有益效果:
1)本發明相對于自動金相磨拋機價格低廉,結構簡單輕便,磨拋頭可根據需要進行更換,適用于任意普通磨拋機,適用面廣節省了人力物力,極大地提高了實驗效率。
2)本發明中的平面磨拋頭不僅適用于激光微孔制造中試樣的磨拋,同樣適用于其他實驗中的試樣磨拋。
附圖說明
圖1為本發明所述一種用于激光微孔制造的試樣磨拋裝置的結構示意圖。
圖2為本發明所述平面磨拋裝置的結構示意圖。
圖3為圖2的俯視圖。
圖4為本發明所述截面磨拋裝置的結構示意圖。
圖5為圖4的俯視圖。
其中:
1.底座;2.支架;3.直線導軌;4.第一鎖緊滑塊;5.第二鎖緊滑塊;6.彈簧;7.短連桿;8.第一長連桿;9.第二長連桿;10.手持桿;11.橡膠套;12.磨拋頭。
具體實施方式
下面結合附圖以及具體實施例對本發明作進一步的說明,但本發明的保護范圍并不限于此。
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