[發明專利]一種并列式多波長多參量同時測量的系統

在審

• 申請號: 201710246600.X
• 申請日: 2017-04-16
• 公開（公告）號: CN106918366A
• 公開（公告）日: 2017-07-04
• 發明（設計）人: 王麗;閆歡歡
• 申請（專利權）人: 北京工業大學
• 主分類號: G01D21/02
• 分類號: G01D21/02;G01D5/353
• 代理公司: 北京思海天達知識產權代理有限公司11203
• 代理人: 沈波

1.一種并列式多波長多參量同時測量的系統，其特征在于：系統包括第一寬帶光源(1)、第二寬帶光源(2)、第一WDM(3)、第二WDM(7)、第三WDM(10)、第四WDM(12)、光譜分析儀(4)、計算機(5)、3dB耦合器(6)、第一敏感光纖(8)、第二敏感光纖(9)、第三敏感光纖(11)、第四敏感光纖(13)；

第一寬帶光源(1)和第二寬帶光源(2)并聯設置，第一寬帶光源(1)和第二寬帶光源(2)均與第一WDM(3)連接，第一寬帶光源(1)、第二寬帶光源(2)和第一WDM(3)構成波分復用的過程；第一WDM(3)通過3dB耦合器(6)連接第二WDM(7)和第三WDM(10)，第二WDM(7)和第三WDM(10)為并列關系，3dB耦合器(6)與第二WDM(7)連接，第一敏感光纖(8)和第二敏感光纖(9)通過并聯的方式連接在第二WDM(7)上；第三WDM(10)和第三敏感光纖(11)連接，第三WDM(10)和第四WDM(12)連接，第四WDM(12)和第四敏感光纖(13)連接，第N個WDM連接第N-1個WDM，第N個WDM連接第N個敏感光纖，N取正整數；3dB耦合器(6)將第二WDM(7)和第三WDM(10)中返回來的光譜傳入光譜分析儀(4)；光譜分析儀(4)與計算機(5)連接。

2.根據權利要求1所述的一種并列式多波長多參量同時測量的系統，其特征在于：連接的WDM的個數N以及WDM后所連的敏感光纖的個數N都根據所需探測的參量決定。

3.根據權利要求1所述的一種并列式多波長多參量同時測量的系統，其特征在于：根據敏感光纖的種類接入不同的光源。

4.根據權利要求1所述的一種并列式多波長多參量同時測量的系統，其特征在于：光從第一寬帶光源(1)和第二寬帶光源(2)發射出來，進入第一WDM(3)然后經3dB耦合器(6)傳入到下一個第二WDM(7)，經過WDM分成兩路與分別與所需的第一敏感光纖(8)和第二敏感光纖(9)光通過敏感光纖的一端反射回來，經過WDM合成一路再經3dB耦合器傳到光譜分析儀(4)，最終將光譜傳入計算機(5)構成實時自動化監控的傳感器；根據實際情況的需要在3dB耦合器(6)的另一端級聯多個WDM在經過WDM的分光作用形成多路，連接多個敏感光纖，實現多參量同時測量。