[發明專利]一種場多導體傳輸線耦合的輻射敏感度測試方法

有效

• 申請號: 201710244505.6
• 申請日: 2017-04-14
• 公開（公告）號: CN107121598B
• 公開（公告）日: 2019-06-14
• 發明（設計）人: 王世山;高欣欣;婁千層;陳楠
• 申請（專利權）人: 南京航空航天大學
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 熊玉瑋

1.一種場多導體傳輸線耦合的輻射敏感度測試方法，其特征在于，

在平行于待測試傳輸線的位置上架設一根與傳輸線為弱耦合的干擾線；

干擾線的兩端都各自接有信號源以及匹配阻抗；

建立場多導體傳輸線耦合模型和與之等效的雙端口激勵下的多導體傳輸線模型：

首先，采用具有集總源的2n端口網絡表示入射場激勵待測試傳輸線的多導體傳輸線耦合模型，建立Taylor模型并確定待測試傳輸線端口的集總電壓和集總電流，待測試傳輸線端口的集總電壓和集總電流為：其中，l為待測試傳輸線的長度，分別為待測試傳輸線近端端口電壓和近端端口電流，分別為待測試傳輸線遠端端口電壓和遠端端口電流，分別為待測試傳輸線遠端端口的集總電壓源和集總電流源，Φ_TL(l)為待測試傳輸線的鏈參數矩陣，

接著，采用2(n+1)端口網絡表示考慮干擾線耦合響應的多導體傳輸線模型，建立針對以受到干擾的待測試傳輸線為觀測對象的具有集總源的2n端口網絡以構建雙端口激勵下的多導體傳輸線模型，確定待測試傳輸線端口受干擾后的集總電壓和集總電流，待測試傳輸線端口受干擾后的集總電壓和集總電流為：其中，Φ_XL(l)為干擾線對待測試傳輸線的二次效應，分別為待測試傳輸線對干擾線的一次響應電壓和一次響應電流，

最后，在消除干擾線對待測傳輸線影響的條件下優化構建的雙端口激勵下的多導體傳輸線模型以使之與場多導體傳輸線耦合模型等效；

初始化干擾線兩端接有的信號源后檢測待測試傳輸線的端口電壓。

2.根據權利要求1所述一種場多導體傳輸線耦合的輻射敏感度測試方法，其特征在于，采用如下方法在消除干擾線對待測傳輸線影響的條件下優化構建的雙端口激勵下的多導體傳輸線模型：根據干擾線和待測試傳輸線的弱耦合關系確定待測試傳輸線的耦合系數，并以特征阻抗為干擾線兩端的匹配阻抗，將干擾線對待測試傳輸線的二次效應優化為單位矩陣，待測試傳輸線端口受干擾后的集總電壓和集總電流優化為：分別為優化后的待測試傳輸線遠端端口的集總電壓源和集總電流源，令