[發明專利]縱波剖面與轉換橫波剖面對齊方法有效
| 申請號: | 201710240716.2 | 申請日: | 2017-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN108732616B | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發明(設計)人: | 劉蘭鋒;溫立峰 | 申請(專利權)人: | 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司石油勘探開發研究院 |
| 主分類號: | G01V1/28 | 分類號: | G01V1/28;G01V1/36 |
| 代理公司: | 北京思創畢升專利事務所 11218 | 代理人: | 孫向民;廉莉莉 |
| 地址: | 100728 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 縱波 剖面 轉換 對齊 方法 | ||
1.一種縱波剖面與轉換橫波剖面對齊方法,包括:
對初始轉換橫波剖面與初始縱波剖面進行預處理,獲得預處理后的轉換橫波剖面與縱波剖面;
對所述預處理后的轉換橫波剖面與縱波剖面進行空間疊加處理,獲得縱波疊加道與轉換橫波疊加道;
對所述縱波疊加道與所述轉換橫波疊加道進行一維動態圖像變形,獲得一維時移量;
基于所述一維時移量對所述初始轉換橫波剖面與所述初始縱波剖面進行第一次時移;
對第一次時移后的縱波剖面與轉換橫波剖面進行二維動態圖像變形,獲得二維時移量;
基于所述二維時移量對所述初始轉換橫波剖面與所述初始縱波剖面進行第二次時移,獲得對齊的縱波剖面與轉換橫波剖面;
其中,所述預處理包括零相位化處理和頻率處理;
所述零相位化處理包括:
分別提取所述初始縱波剖面與所述初始轉換橫波剖面的實際子波;
針對所述初始縱波剖面與所述初始轉換橫波剖面,分別構造零相位化目標函數;
通過最小二乘法計算所述零相位化目標函數最小時的零相位化算子;
將所述零相位化算子應用于所述初始轉換橫波剖面與所述初始縱波剖面;
所述零相位化目標函數為:
其中,Q為誤差能量,x(t)為所述初始轉換橫波剖面或初始縱波剖面的實際子波,h(t)為對應于所述初始轉換橫波剖面或初始縱波剖面的零相位化算子,d(t)為期望輸出的所述初始轉換橫波剖面或初始縱波剖面的零相位子波,t表示時間;
所述頻率處理包括:
分別提取所述初始縱波剖面與所述初始轉換橫波剖面的地震子波;
比較所述初始縱波剖面與所述初始轉換橫波剖面的地震子波的振幅譜,分別確定所述零相位化處理后縱波剖面與所述零相位化處理后轉換橫波剖面的頻帶范圍;
對所述零相位化處理后縱波剖面進行低通濾波,使其與零相位化處理后轉換橫波剖面的頻率成份一致;
對預處理后的轉換橫波剖面與縱波剖面進行空間疊加處理,獲得縱波疊加道與轉換橫波疊加道包括:
在預處理后的轉換橫波剖面與縱波剖面上,拾取標志層,分別進行層拉平處理與空間疊加,獲得所述縱波疊加道與所述轉換橫波疊加道;
對所述縱波疊加道與所述轉換橫波疊加道進行一維動態圖像變形,獲得一維時移量包括:
基于所述縱波疊加道與所述轉換橫波疊加道,設定一維時移量目標函數與一維約束條件;
基于所述一維約束條件求解所述一維時移量目標函數最小時對應的所述一維時移量;
其中,所述一維時移量目標函數為:
其中,Q1為一維時移量目標函數,表示誤差能量,f[i]為一維縱波數據,g[i]為一維轉換橫波數據,u[i]為一維時移量,i為時間序列樣點序號,N為時間序列樣點數;
所述一維約束條件為:
u[i]-u[i-1]≤1 (3);
對第一次時移后的縱波剖面與轉換橫波剖面進行二維動態圖像變形,獲得二維時移量包括:
基于所述第一次時移后的縱波剖面與轉換橫波剖面,設定二維時移量目標函數與二維約束條件;
基于所述二維約束條件求解所述二維時移量目標函數最小時對應的所述二維時移量;
其中,所述二維時移量目標函數為:
其中,Q2為二維時移量目標函數,表示誤差能量,f[i,j]為二維縱波剖面,g[i,j]為二維轉換橫波剖面,u[i,j]為二維時移量,i為時間序列樣點序號,N為時間序列樣點數,j為地震道序號,M為地震道數;
所述二維約束條件為:
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