[發明專利]光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法有效
| 申請號: | 201710239971.5 | 申請日: | 2017-04-13 |
| 公開(公告)號: | CN108735854B | 公開(公告)日: | 2020-11-20 |
| 發明(設計)人: | 鄧士鋒;董經兵;夏正月;許濤;邢國強 | 申請(專利權)人: | 蘇州阿特斯陽光能源科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L21/66 |
| 代理公司: | 蘇州攜智匯佳專利代理事務所(普通合伙) 32278 | 代理人: | 路陽 |
| 地址: | 215011 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 組件 焊帶內 反射 光學 利用率 表征 方法 | ||
本發明提供了一種光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法,包括以下步驟:S1、在光伏組件標準測試環境下,對同一批次電池片進行測試,選出規格相近的若干電池片;S2、制作由常規焊帶焊接層壓的參照組層壓件,及由常規焊帶和待測焊帶共同焊接層壓的對比組層壓件;S3、在相同的測試條件下,分別測試參照組層壓件和對比組層壓件的短路電流Isc;S4、對對比組層壓件的短路電流Isc進行歸一化處理,并繪制回歸曲線進行線性擬合;S5、求得待測焊帶的內反射光學利用率。本發明的光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法可準確評估不同類型光伏組件焊帶的內反射光學利用率,以方便光伏組件廠家進行光伏組件焊帶的選擇。
技術領域
本發明涉及一種光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法,屬于光伏發電技術領域。
背景技術
由于單個太陽能電池片的輸出功率很小,因此現有的光伏組件通常是由多塊太陽能電池片串聯組成。
現有的晶體硅太陽能電池片經連接、封裝后制成光伏組件,而光伏組件的功率(實際功率)會小于所有太陽能電池片的功率之和(理論功率),理論功率與實際功率之間的差值被稱為光伏組件的封裝功率損失。由于太陽能電池片的封裝功率損失的存在,光伏組件的功率損失程度(CTM)相對較差,為提高光伏組件的CTM,不同的光伏組件焊帶廠家分別推出了各種類型的、具有較好的光學利用率的反光焊帶,以增加光伏組件的輸出功率。
然而,由于目前尚未有明確的評估不同類型光伏組件焊帶的內反射光學利用率的方法,光伏組件廠商只能夠依靠光伏組件焊帶廠商提供的商品信息進行焊帶的選擇,從而無法對各光伏組件焊帶廠商提供的焊帶的內反射光學利用率進行準確的評價,從而使得光伏組件的光學利用率脫離預估范圍。
有鑒于此,確有必要提供一種光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法,以解決上述問題。
發明內容
本發明的目的在于提供一種光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法,該光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法可準確評估不同類型光伏組件焊帶的內反射光學利用率。
為實現上述發明目的,本發明提供了一種光伏組件焊帶內反射光學利用率的表征方法,其包括以下步驟:
S1、在光伏組件標準測試環境下(1000W/m2,25℃,AM1.5),對同一批次電池片進行測試,并選出短路電流Isc差異在15mA以內的若干電池片;
S2、制作由常規焊帶焊接層壓的參照組層壓件,及由常規焊帶和待測焊帶共同焊接層壓的對比組層壓件;
S3、在相同的測試條件下,分別測試參照組層壓件和對比組層壓件的短路電流Isc;
S4、對所述對比組層壓件的短路電流Isc進行歸一化處理,并繪制回歸曲線進行線性擬合,以得到線性回歸方程并根據所述線性回歸方程計算擬合優度R2;
S5、根據所述步驟S4中的線性回歸方程,求得待測焊帶的內反射光學利用率。
作為本發明的進一步改進,所述步驟S2具體為:
S21、截取若干根常規焊帶,以點焊的方式焊接在所述電池片的主柵上制成參照組,所述參照組經層壓制成參照組層壓件;
S22、以所述參照組為基礎,在相鄰兩根常規焊帶之間,以點焊的方式附加待測焊帶制成對比組,所述對比組經層壓制成對比組層壓件。
作為本發明的進一步改進,所述步驟S22中,同一對比組層壓件中不同位置處附加的待測焊帶的種類及類型相同、所附加的數量不同。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





