[發(fā)明專利]一種基于全反射原理測(cè)量土壤折射率的方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710239160.5 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-13 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN107064062B | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃繼盛;項(xiàng)恩新;李偉;王科;羅俊元;李雪梅;蘇禮婭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院;云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司臨滄供電局;中光華研電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/41 | 分類號(hào): | G01N21/41;G01N21/03 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯長(zhǎng)明;許偉群 |
| 地址: | 650217 云南省昆*** | 國(guó)省代碼: | 云南;53 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電磁波 透明陶瓷 土壤樣品 折射率 全反射原理 無(wú)線電磁波 測(cè)量土壤 位置坐標(biāo) 傳統(tǒng)的 全反射 測(cè)量 透明陶瓷材料 折光 測(cè)量折射率 發(fā)射器發(fā)射 光學(xué)儀器 發(fā)射器 玻璃棱鏡 公式計(jì)算 分界 出射面 分界面 出射 浸液 入射 申請(qǐng) 填充 替換 折射 移動(dòng) 記錄 改進(jìn) | ||
本申請(qǐng)公開(kāi)了一種基于全反射原理測(cè)量土壤折射率的方法及裝置,該方法包括:將待測(cè)土壤樣品放置在透明陶瓷的表面,并在待測(cè)土壤樣品與透明陶瓷的分界面上填充一層浸液;無(wú)線電磁波發(fā)射器發(fā)射電磁波光束,電磁波光束沿分界面入射,且電磁波光束在透明陶瓷內(nèi)發(fā)生全反射,全反射后的電磁波光束在透明陶瓷的出射面發(fā)生折射;移動(dòng)CCD傳感器,分別記錄CCD傳感器感應(yīng)到出射電磁波光束的位置坐標(biāo);將位置坐標(biāo)代入公式計(jì)算得到待測(cè)土壤樣品的折射率。本申請(qǐng)?zhí)峁┑臏y(cè)量方法改進(jìn)了傳統(tǒng)的阿貝折光法,把傳統(tǒng)的玻璃棱鏡替換成透明陶瓷材料,提高了測(cè)量折射率的范圍;利用無(wú)線電磁波發(fā)射器和CCD傳感器等光學(xué)儀器,極大地提高了測(cè)量精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及折射率測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種基于全反射原理測(cè)量土壤折射率的方法及裝置。
背景技術(shù)
人類對(duì)于材料的應(yīng)用取決于人類對(duì)其的認(rèn)知水平,可以說(shuō),科技水平的進(jìn)步是隨著人類對(duì)材料性質(zhì)的不斷深入了解而獲得的。折射率是材料的重要光學(xué)參數(shù)之一,借助折射率能了解材料的光學(xué)性能、純度、濃度以及色散等性質(zhì)。土壤是人類賴以生存的主要條件之一,其包含了土壤礦物質(zhì)、有機(jī)質(zhì)、微生物、水分和空氣等,同時(shí)在不同的外界環(huán)境下,土壤成分的不同導(dǎo)致土壤折射率差異較大,因此有必要對(duì)特定的土壤樣品進(jìn)行折射率測(cè)量。
折射率作為材料的一個(gè)重要參數(shù),現(xiàn)已有多種測(cè)量方法,包括:最小偏向角法、插針?lè)ā⒐飧缮娣ê桶⒇愓凵鋬x法等。而目前這些方法都有各自的優(yōu)缺點(diǎn):最小偏向角法測(cè)量精度很高,但被測(cè)樣品需是特定的三棱狀;插針?lè)ㄊ謩?dòng)測(cè)量角度,測(cè)量精度較低,且要求被測(cè)樣品較厚;光干涉法僅限于薄透明體,且在測(cè)量過(guò)程中,需要對(duì)被測(cè)樣品和測(cè)量光路反復(fù)調(diào)整,操作復(fù)雜,且對(duì)儀器的精密要求非常高;阿貝折射儀法計(jì)算公式相對(duì)復(fù)雜,引起誤差的因素較多,且要求被測(cè)樣品的折射率不得大于1.7,對(duì)某些樣品不能使用。
若使用上述測(cè)量方法測(cè)量土壤折射率,操作復(fù)雜,卻測(cè)量出的折射率精度較低,因此,找到一種簡(jiǎn)單、快速、精準(zhǔn)地測(cè)量土壤折射率的方法一直都是折射率測(cè)量領(lǐng)域的重點(diǎn)和難點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種基于全反射原理測(cè)量土壤折射率的方法及裝置,以解決現(xiàn)有測(cè)量方法測(cè)量范圍有限,測(cè)量精度較低的問(wèn)題。
第一方面,本發(fā)明提供了一種基于全反射原理測(cè)量土壤折射率的方法,所述方法包括:
將待測(cè)土壤樣品放置在透明陶瓷的表面,并在所述待測(cè)土壤樣品與透明陶瓷的分界面上填充一層浸液;
無(wú)線電磁波發(fā)射器發(fā)射電磁波光束,所述電磁波光束沿所述分界面入射,且所述電磁波光束在透明陶瓷內(nèi)發(fā)生全反射,全反射后的電磁波光束在透明陶瓷的出射面發(fā)生折射;
移動(dòng)CCD傳感器,分別記錄所述CCD傳感器感應(yīng)到出射電磁波光束的位置坐標(biāo)(x1,L1)和(x2,L2);
將位置坐標(biāo)(x1,L1)和(x2,L2)代入公式計(jì)算得到所述待測(cè)土壤樣品的折射率n,其中n0為透明陶瓷的折射率。
可選的,所述移動(dòng)CCD傳感器,分別記錄所述CCD傳感器感應(yīng)到出射電磁波光束的位置坐標(biāo)(x1,L1)和(x2,L2),具體包括:
將所述CCD傳感器與透明陶瓷出射面的水平距離x1設(shè)置為0,記錄所述CCD傳感器感應(yīng)到出射電磁波光束的位置坐標(biāo)(0,L1);
水平移動(dòng)所述CCD傳感器,將所述CCD傳感器與透明陶瓷出射面的水平距離x2設(shè)置為d,記錄所述CCD傳感器感應(yīng)到出射電磁波光束的位置坐標(biāo)(d,L2)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院;云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司臨滄供電局;中光華研電子科技有限公司,未經(jīng)云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院;云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司臨滄供電局;中光華研電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





