[發(fā)明專利]可編輯超薄縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜和熱電器件單元有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201710232389.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-04-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN107093663B | 公開(公告)日: | 2019-09-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡志宇;吳振華;胡陽(yáng)森 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L35/32 | 分類號(hào): | H01L35/32;H01L35/34 |
| 代理公司: | 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31225 | 代理人: | 蔣亮珠 |
| 地址: | 200240 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 編輯 超薄 縱向 多層 串聯(lián) 結(jié)構(gòu) 熱電 薄膜 制備 方法 熱電器件 單元 | ||
本發(fā)明涉及一種可編輯超薄縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜及制備方法和熱電器件單元,該薄膜由多層材料縱向串聯(lián)而成。串聯(lián)組成薄膜的各層材料可采用以下方法中的一種或多種制成薄膜,包括液相法、物理氣相法、電化學(xué)法等,物理氣相法中例如磁控濺射、電子束蒸發(fā)或分子束外延法沉積薄膜,其中每層可同時(shí)使用上述其中一種薄膜制備方式,也可分別使用兩種或多種薄膜制備方式。熱電器件單元包括依次疊加的基底(1)、底電極(2)、超薄縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜柱(3)、頂電極(4)。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明超薄縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜結(jié)構(gòu)及性能可編輯,制成的熱電器件尺寸及自重較小,相對(duì)于體結(jié)構(gòu)的塊體熱電器件,性能提升空間更大,應(yīng)用范圍更廣。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及熱電薄膜技術(shù)領(lǐng)域,具體來(lái)說(shuō)涉及可編輯超薄縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜及制備方法和含有所述縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜的熱電器件單元。
背景技術(shù)
熱電材料可利用固體內(nèi)部載流子運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)熱能和電能直接互相轉(zhuǎn)換,有效的將熱轉(zhuǎn)換成電能,是一種全固態(tài)能量轉(zhuǎn)換方式,無(wú)需化學(xué)反應(yīng)或流體介質(zhì)。熱電器件常將兩種不同類型的熱電材料(如P型半導(dǎo)體和N型半導(dǎo)體)做成柱狀結(jié)構(gòu)(P 柱和N柱),并將其一端結(jié)合置于高溫狀態(tài)下,另一端開路在低溫狀態(tài),由于高溫的作用,使得高溫端的空穴和電子濃度與低溫端不同,形成濃度差,從而實(shí)現(xiàn)了載流子的遷移,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)了電勢(shì)差,通過(guò)面內(nèi)多對(duì)P柱和N柱串聯(lián)得到更大的電壓。熱電器件是一種清潔能源生產(chǎn)裝置,具有無(wú)運(yùn)動(dòng)部件、無(wú)噪聲、無(wú)污染、易于控制、可靠性高、體積小、重量輕、移動(dòng)方便、使用壽命長(zhǎng)、穩(wěn)定輸出電能等一系列優(yōu)點(diǎn)。
衡量熱電器件轉(zhuǎn)換效率的主要評(píng)估指標(biāo)為熱電材料的熱電優(yōu)值(ZT值), ZT=S2·σ·κ-1·T,其中S表示Seebeck系數(shù),σ表示電導(dǎo)率,κ表示熱導(dǎo)率,熱導(dǎo)率包括電子熱導(dǎo)率κe和晶格熱導(dǎo)率κl,由Wiedemann-Franz定律κe=LσT,表明電子熱導(dǎo)率與電導(dǎo)線性相關(guān),而對(duì)于半導(dǎo)體而言,電子熱導(dǎo)率遠(yuǎn)小于晶格熱導(dǎo)率。ZT值越大,熱電性能越好。由ZT的表達(dá)式可知,提高熱電材料的ZT值的途徑就是增大材料的Seebeck系數(shù)、提高材料的電導(dǎo)率、降低材料的熱導(dǎo)率。然而,熱電材料中的這些參數(shù)是相互耦合在一起的,難以同步調(diào)節(jié),使得熱電優(yōu)值和熱電轉(zhuǎn)換效率很難大幅度提高。而晶格熱導(dǎo)率是唯一一個(gè)不由電子結(jié)構(gòu)決定的參數(shù),有著相對(duì)獨(dú)立的空間,通過(guò)引入點(diǎn)缺陷、晶界等方法來(lái)增加聲子散射,以降低晶格熱導(dǎo)率,同時(shí)不影響或增強(qiáng)電子的傳輸,以達(dá)到“電子晶體-聲子玻璃”通道的目的,有效提高ZT值,提高熱電性能。
目前已經(jīng)應(yīng)用比較成熟的熱電器件主要使用體加工方法制造,厚度達(dá)到數(shù)厘米級(jí)別,尺寸及自重較大。為了進(jìn)一步減少器件自重以及提升熱電效率,近幾年熱電材料的低維化是一個(gè)熱點(diǎn)趨勢(shì),目前處于研究中的薄膜熱電器件厚度也達(dá)數(shù)百微米至毫米級(jí)別,集中于單層薄膜,尚不成熟,熱電薄膜器件的性能在一定程度上受到了限制。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷而提供一種可編輯超薄縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜及制備方法和熱電器件單元。
本發(fā)明的目的可以通過(guò)以下技術(shù)方案來(lái)實(shí)現(xiàn):一種可編輯超薄縱向多層串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜,其特征在于,該薄膜由多層材料縱向串聯(lián)而成。
所述的薄膜中每層材料的厚度小于1000nm。超薄多層縱向串聯(lián)結(jié)構(gòu)熱電薄膜總厚度小于10μm。
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H01L35-02 .零部件
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H01L35-28 .只利用Peltier或Seebeck效應(yīng)進(jìn)行工作的
H01L35-34 .專門適用于制造或處理這些器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L35-30 ..按在結(jié)點(diǎn)處進(jìn)行熱交換的方法區(qū)分的





