[發(fā)明專利]用于內孔參數測量裝置測頭長度校準的球面環(huán)規(guī)及測頭長度校準方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710230854.2
• 申請日: 2017-04-11
• 公開（公告）號: CN106940175A
• 公開（公告）日: 2017-07-11
• 發(fā)明（設計）人: 于連棟;鄭亦隆;李維詩;鄧華夏;夏豪杰;趙會寧;張煒
• 申請（專利權）人: 合肥工業(yè)大學
• 主分類號: G01B21/04
• 分類號: G01B21/04;G01B21/14;G01B21/20;G01B21/24
• 代理公司: 安徽合肥華信知識產權代理有限公司34112
• 代理人: 余成俊

1.用于內孔參數測量裝置測頭長度校準的球面環(huán)規(guī)，其特征在于：其用于測頭長度校準的內表面為一段光滑球形曲面。

2.根據權利要求1所述的用于內孔參數測量裝置測頭長度校準的球面環(huán)規(guī)，其特征在于：基于坐標測量原理的測頭回轉式內孔參數測量裝置包括回轉軸、沿回轉軸徑向安裝在回轉軸一端的接觸式位移測頭，所述球面環(huán)規(guī)通過其球形內表面對內孔參數測量裝置測頭長度進行校準，在內孔參數測量裝置的姿態(tài)相對于球面環(huán)規(guī)有偏心、傾斜的情況下，球面環(huán)規(guī)依然能夠對測頭長度進行高精度校準。

3.一種使用如權利要求1所述的球面環(huán)規(guī)對內孔參數測量裝置測頭進行長度校準的方法，其特征在于：使用未經校準的內孔參數測量裝置在球面環(huán)規(guī)的球形曲面上采樣不在同一平面上的4個點，以采樣第一點時測頭端點到測頭回轉中心的距離為測頭的基準長度a，并在此處將測頭讀數置零，則在對后續(xù)點進行采樣時，可得到測頭讀數相對于采樣第一點時的變化量Δ_n，由于各采樣點都在球面環(huán)規(guī)的球形曲面上，利用各采樣點到球形曲面球心的距離都等于球形曲面的半徑可得到一方程組，求解該方程組即可得到測頭置零時的基準長度a。