[發(fā)明專利]用于內(nèi)孔參數(shù)測量裝置測頭長度校準(zhǔn)的球面環(huán)規(guī)及測頭長度校準(zhǔn)方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201710230854.2
• 申請日: 2017-04-11
• 公開（公告）號: CN106940175A
• 公開（公告）日: 2017-07-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 于連棟;鄭亦隆;李維詩;鄧華夏;夏豪杰;趙會寧;張煒
• 申請（專利權(quán)）人: 合肥工業(yè)大學(xué)
• 主分類號: G01B21/04
• 分類號: G01B21/04;G01B21/14;G01B21/20;G01B21/24
• 代理公司: 安徽合肥華信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司34112
• 代理人: 余成俊

1.用于內(nèi)孔參數(shù)測量裝置測頭長度校準(zhǔn)的球面環(huán)規(guī)，其特征在于：其用于測頭長度校準(zhǔn)的內(nèi)表面為一段光滑球形曲面。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于內(nèi)孔參數(shù)測量裝置測頭長度校準(zhǔn)的球面環(huán)規(guī)，其特征在于：基于坐標(biāo)測量原理的測頭回轉(zhuǎn)式內(nèi)孔參數(shù)測量裝置包括回轉(zhuǎn)軸、沿回轉(zhuǎn)軸徑向安裝在回轉(zhuǎn)軸一端的接觸式位移測頭，所述球面環(huán)規(guī)通過其球形內(nèi)表面對內(nèi)孔參數(shù)測量裝置測頭長度進(jìn)行校準(zhǔn)，在內(nèi)孔參數(shù)測量裝置的姿態(tài)相對于球面環(huán)規(guī)有偏心、傾斜的情況下，球面環(huán)規(guī)依然能夠?qū)y頭長度進(jìn)行高精度校準(zhǔn)。

3.一種使用如權(quán)利要求1所述的球面環(huán)規(guī)對內(nèi)孔參數(shù)測量裝置測頭進(jìn)行長度校準(zhǔn)的方法，其特征在于：使用未經(jīng)校準(zhǔn)的內(nèi)孔參數(shù)測量裝置在球面環(huán)規(guī)的球形曲面上采樣不在同一平面上的4個點，以采樣第一點時測頭端點到測頭回轉(zhuǎn)中心的距離為測頭的基準(zhǔn)長度a，并在此處將測頭讀數(shù)置零，則在對后續(xù)點進(jìn)行采樣時，可得到測頭讀數(shù)相對于采樣第一點時的變化量Δ_n，由于各采樣點都在球面環(huán)規(guī)的球形曲面上，利用各采樣點到球形曲面球心的距離都等于球形曲面的半徑可得到一方程組，求解該方程組即可得到測頭置零時的基準(zhǔn)長度a。