[發明專利]一種可調制色散染色顯微物鏡

有效

• 申請號: 201710229793.8
• 申請日: 2017-04-10
• 公開（公告）號: CN106873141B
• 公開（公告）日: 2017-11-17
• 發明（設計）人: 李彌高;劉文新;黃敏健;李天明;易智敏
• 申請（專利權）人: 廣州粵顯光學儀器有限責任公司
• 主分類號: G02B21/02
• 分類號: G02B21/02;G02B7/02;G02B7/00;G01B11/24;G01N21/95
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• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種顯微物鏡，尤其涉及一種采用線性偏振光在不同偏振態下表現出光強變化，從而調制顯微物鏡中心光束透射率的變化，以形成具有不同色散染色效果的可調制色散染色顯微物鏡。

背景技術

傳統的色散染色物鏡是在顯微物鏡的后焦平面上加載一個環形或圓形不透光擋板，如為環狀，則中心光束透射；如為中心圓形擋板，則光束只能由周圍透過，當粒子與浸液的折射系數不同時出現色散，使樣品成像表現出不同的顏色，即色散染色顯微觀察法。傳統色散染色的局限性在于：1.不同倍率的顯微物鏡必須匹配不同幾何規格的光束擋板；2.遮擋光束是完全不能透射，色散染色的能力是由樣品介質的折射率差異決定的，因而難以區分類似特性物質；3.無法定性顯微觀察物體的微特性差異特質，如微石棉顯微觀察。

針對傳統色散染色顯微物鏡的特點與局限性，一些機構也進行了深入研究，例如，公開號為CN101872064A的中國專利申請公開了“一種線型多波長共焦顯微鏡模塊以及其共焦顯微方法與系統”，其采用多個色差透鏡的組合一方面可以將線光場色散，另一方面又可以使得反射回來的線光場聚焦在同一平面上以解決場曲像差的問題，以簡化常用線色散系統復雜度的問題，可有效改善繞射元件的NA值過低而無法直接使用于物鏡的缺點，并于設計色散物鏡時校正場曲像差，使本系統達到最佳化及小型化，并可精確且快速地完成剖面輪廓量測，使量測速率大幅增加。但是該顯微鏡模塊只能快速地完成剖面輪廓量測，并無法定性顯微觀察物體的微特性差異特質，色散染色無法調制。

發明內容

針對傳統色散染色顯微物鏡的特點與局限性，本發明提供了一種可調制色散染色顯微物鏡，引入偏振光調制技術，通過線性偏振光在不同偏振態下的光強變化，調制中心光束的透射率，從而實現色散染色強度的變化，進而可以實現定性顯微觀察物體的微特性差異特質。

為實現上述技術方案，本發明提供的一種可調制色散染色顯微物鏡包括：鏡殼，安裝在鏡殼內部頂端的色散染色調制器組，安裝在鏡殼內部底端的光學透鏡組，所述色散染色調制器組包括色散染色起偏器、色散染色檢偏器和調節器，所述色散染色檢偏器和色散染色起偏器上下并排安裝在調節器內，所述色散染色檢偏器安裝在色散染色起偏器的正上方；所述色散染色起偏器包括第一光學平板鏡、第一環形線性偏振膜、第一中心圓形線性偏振膜、第二光學平板鏡和第一鏡座，所述第一環形線性偏振膜膠合在第一光學平板鏡上表面，第一中心圓形線性偏振膜膠合在第一光學平板鏡下表面，所述第一環形線性偏振膜與第一中心圓形線性偏振膜的偏振態相對同一水平基準正交設置，第二光學平板鏡膠合在第一中心圓形線性偏振膜的下表面，所述從上至下依次膠合后的第一環形線性偏振膜、第一光學平板鏡、第一中心圓形線性偏振膜和第二光學平板鏡組件固定安裝在第一鏡座內；所述色散染色檢偏器包括第三光學平板鏡、第二環形線性偏振膜、第二中心圓形線性偏振膜、第二鏡座和第四光學平板鏡，所述第二環形線性偏振膜膠合在第三光學平板鏡的上表面，所述第二中心圓形線性偏振膜膠合在第三光學平板鏡的下表面，第四光學平板鏡膠合在第二中心圓形線性偏振膜的下表面，所述第二環形線性偏振膜與第二中心圓形線性偏振膜的偏振態相對同一水平基準正交設置，所述從上至下依次膠合后的第二環形線性偏振膜、第三光學平板鏡、第二中心圓形線性偏振膜和第四光學平板鏡組件固定安裝在第二鏡座內，所述第二環形線性偏振膜與第二中心圓形線性偏振膜形成的偏振態與第一環形線性偏振膜與第一中心圓形線性偏振膜形成的偏振態反轉90度；所述調節器包括拔桿和調節環，所述拔桿的一端安裝在調節環導槽內，拔桿的另一端固定在第一鏡座的側面。