[發明專利]玻璃破裂檢測方法及檢測裝置、玻璃板的研磨方法及研磨裝置、以及玻璃板的制造方法

有效

• 申請號: 201710227903.7
• 申請日: 2017-04-10
• 公開（公告）號: CN107378750B
• 公開（公告）日: 2021-06-01
• 發明（設計）人: 秋山秀;橋本宜佳;女部田裕一;小原正彥
• 申請（專利權）人: AGC株式會社
• 主分類號: B24B37/005
• 分類號: B24B37/005;B24B37/10
• 代理公司: 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219
• 代理人: 趙晶;高培培

1.一種玻璃破裂檢測方法，包括：

檢測工序，在使玻璃板與液體接觸并使AE傳感器與所述液體接觸的狀態下，檢測來自所述AE傳感器的AE信號；及

判斷工序，通過所述AE信號超過規定的閾值的情況來判斷所述玻璃板的破裂，

所述規定的閾值包括第一閾值和比所述第一閾值高等級的第二閾值，

所述判斷工序在所述AE信號連續150msec超過了所述第一閾值且不超過所述第二閾值的情況下判斷為第一破裂以及在所述AE信號超過了所述第二閾值的情況下判斷為第二破裂。

2.根據權利要求1所述的玻璃破裂檢測方法，其中，

所述檢測工序檢測100kHz以上且200kHz以下的范圍的頻帶的所述AE信號。

3.根據權利要求1或2所述的玻璃破裂檢測方法，其中，

所述AE傳感器相對于所述液體電絕緣。

4.一種玻璃破裂檢測裝置，具有：

液體供給部，向玻璃板供給液體；

AE傳感器，配置在與所述液體接觸的位置；及

信號處理部，對于從所述AE傳感器輸入的AE信號進行處理，

所述信號處理部通過所述AE信號超過規定的閾值的情況來判斷所述玻璃板的破裂，

所述規定的閾值包括第一閾值和比所述第一閾值高等級的第二閾值，

所述信號處理部在所述AE信號連續150msec超過了所述第一閾值且不超過所述第二閾值的情況下判斷為第一破裂以及在所述AE信號超過了所述第二閾值的情況下判斷為第二破裂。

5.根據權利要求4所述的玻璃破裂檢測裝置，其中，

所述玻璃破裂檢測裝置具有濾波器，所述濾波器將所述AE信號濾波成100kHz以上且200kHz以下的范圍的頻帶。

6.根據權利要求4或5所述的玻璃破裂檢測裝置，其中，

所述AE傳感器相對于所述液體電絕緣。

7.一種玻璃板的研磨方法，一邊向研磨墊與玻璃板之間供給研磨液，一邊利用研磨墊對所述玻璃板的表面進行研磨，其中，

所述玻璃板的研磨方法包括破裂檢測工序，所述破裂檢測工序基于適用所述研磨液作為所述液體的權利要求1～3中任一項所述的玻璃破裂檢測方法。

8.一種玻璃板的研磨裝置，具有：

液體供給部，向玻璃板供給研磨液；及

研磨墊，對所述玻璃板的表面進行研磨，

其中，

所述玻璃板的研磨裝置具備適用所述研磨液作為所述液體的權利要求4或5所述的玻璃破裂檢測裝置。

9.一種玻璃板的制造方法，包括：

從熔融玻璃成形為板狀的玻璃的工序；

將所述板狀的玻璃切斷而切出玻璃板的工序；及

基于權利要求1～3中任一項所述的玻璃破裂檢測方法的破裂檢測工序。

10.根據權利要求9所述的玻璃板的制造方法，其中，

所述玻璃板的制造方法還具有對所述玻璃板的表面進行研磨的研磨工序，所述破裂檢測工序在所述研磨工序中設置。