[發明專利]帶RJ45型輸入和輸出插座的測試塊

在審

• 申請號: 201710224863.0
• 申請日: 2017-04-07
• 公開（公告）號: CN107449940A
• 公開（公告）日: 2017-12-08
• 發明（設計）人: 菲利普·弗朗斯;亞歷山大·夏耶
• 申請（專利權）人: ABB瑞士有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;H01R24/20
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司11111
• 代理人: 田欣欣,劉思哲

1.一種用于植入于連接待測試裝置與給所述待測試裝置供電的電源的電路中的測試塊，所述待測試設備諸如是電量計或保護繼電器，所述電源諸如是強度傳感器和/或電壓傳感器所述測試塊包含：

-包括多個內部電路的基座(10)，所述多個內部電路能夠允許將信息從所述電源傳輸到所述待測試裝置，

-保護罩(11)，其用于以可拆卸方式與所述基座(10)組裝，以形成容納所述內部電路的封閉外罩，

-所述基座(10)和所述保護罩(11)被配置成使得所述保護罩(11)的移除允許進入由所述基座(10)限定并且能夠通過插入而接收獨立于所述測試塊的測試插頭(13)并且電連接到特別是電壓計和/或電流計和/或虛設電流源的測試設備的接收區(12)，所述測試塊特征在于所述基座(10)包含：

-至少一個多觸點型輸入插座(17)，其可從所述外罩的外部進入，并且其觸點分別電連接到所述內部電路，使得所述輸入插座(17)同時連接到所有內部電路，所述輸入插座(17)被配置成能夠連接到獨立于所述測試塊并且其觸點特別是經由多芯電纜電連接到所述電源的第一多觸點型連接器，

-至少一個多觸點型輸出插座(18)，其可從所述外罩的外部進入，并且其觸點分別電連接到所述內部電路，使得所述輸出插座(18)同時連接到所有內部電路，所述輸出插座(18)被配置成能夠連接到獨立于所述測試塊并且其觸點特別是經由多芯電纜電連接到所述待測試裝置的第二多觸點型連接器。

2.根據權利要求1所述的測試塊，其特征在于，所述基座(10)和所述保護罩(11)包含連接在一起并且被配置成確保連續性的導電元件，以及磁性屏蔽封閉件，諸如由所述基座(10)限定的外罩，并且所述保護罩(11)是相對于由所述基座(10)和所述保護罩(11)限定的所述外罩外部的磁場保護所述內部電路的法拉第籠。

3.根據權利要求1或2所述的測試塊，其特征在于，所述基座(10)包含可移除蓋(20)，其相對于所述基座(10)的其余部分的移除允許進入所述內部電路，并且其性質和/或形狀適合于所述輸入插座(17)和所述輸出插座(18)的性質。

4.一種包含根據權利要求1到3中任一項所述的測試塊和測試插頭(13)的測試器具，所述測試插頭能夠在移除所述保護罩(11)之后插入由所述基座(10)限定的所述接收區(12)中，所述測試塊的所述內部電路和所述測試插頭(13)被配置成使得只要所述測試插頭(13)被插入，所述測試插頭(13)的插入就會對所述測試塊的所有或部分所述內部電路造成臨時作用，所述臨時作用使得其允許由于所述測試設備而關于所述待測試裝置執行測量和/或校準操作。

5.根據權利要求4所述的測試器具，其特征在于，所述測試器具包含獨立于所述測試塊和所述測試插頭(13)的第一多觸點型連接器，其與所述測試塊的所述輸入插座互補以便能夠連接到所述測試塊的所述輸入插座(17)，且其觸點特別是經由多芯電纜電連接到所述電源，并且所述測試塊的所述輸入插座(17)和所述第一連接器被配置成使得所述測試塊的所述內部電路與所述電源之間的電連接是源于將所述第一連接器與所述測試塊的所述輸入插座(17)連接的作用。

6.根據權利要求4到5中任一項所述的測試器具，其特征在于，所述測試器具包含獨立于所述測試塊和所述測試插頭(13)的第二多觸點型連接器，其與所述測試塊的所述輸出插座(18)互補以便能夠連接到所述測試塊的所述輸出插座(18)，且其觸點特別是經由多芯電纜電連接到所述待測試裝置，并且所述測試塊的所述輸出插座(18)和所述第二連接器被配置成使得所述內部電路與所述待測試裝置之間的電連接是源于將所述第二連接器與所述測試塊的所述輸出插座(18)連接的作用。

7.根據權利要求4到6中任一項所述的測試器具，其特征在于，所述測試插頭(13)，一方面包含，多個致動元件(32)和多個電導體(33)，所述多個電導體被配置成只要所述測試插頭(13)被插入到由所述基座(10)限定的所述接收區(12)中就以導致所述臨時作用的方式作用于所述基座(10)的所述內部電路，以及另一方面包含，多觸點型輸出插座(34)，其觸點分別連接到所述測試插頭(13)的全部或部分所述電導體(33)，所述測試插頭(13)的所述輸出插座(34)被配置為能夠連接到獨立于所述測試塊和所述測試插頭(13)并且其觸點特別是經由多芯電纜電連接到所述測試設備的第三多觸點型連接器。